一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法技术

本发明专利技术公开了一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法。先随机扫描点的辐射场值，再多种插值方法对剩余扫描点的辐射场值进行插值，选取方差较大的扫描点分成几簇及其中心点；再依次检测每簇中心点引入是否会造成其他簇中心点的方差值明显变化而进行筛选，由机械臂移动探头获取辐射场值；迭代上述步骤几次快速准确有效地得到了用户所需要求。本发明专利技术处理效率高、鲁棒性好，很好地平衡选点的不确定性和多样性，在节省扫描点数和扫描时间方面有明显的优势。显的优势。显的优势。

【技术实现步骤摘要】
一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法


[0001]本专利技术涉及电磁兼容和人工智能领域的一种电磁近场扫描方法，更具体的说是涉及一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法。

技术介绍

[0002]电子产品的高度集成化导致严重的电磁干扰问题，这会影响电子产品的正常工作。在工业界和学术界，近场扫描是一种有效的电磁诊断方法。
[0003]典型的近场扫描系统中机械臂控制近场探头在待测辐射源上方按一定路径移动，通过接收机（通常是频谱仪或矢量网络分析仪）得到待测辐射源上方的电场或磁场信息并保存到电脑中。整个扫描过程的耗时包括机械臂移动的时间，接收机获取扫描场的时间，电脑存储场信息的时间三部分。当扫描点数较多时扫描时间很长，大大降低了扫描效率。

技术实现思路

[0004]为了解决上述近场扫描过程中扫描时间过长的问题，本专利技术提出了一种基于无监督学习的批量选取扫描点的辐射源快速近场扫描方法，减少扫描点数，直接提高扫描效率。
[0005]本专利技术采取了如下的技术方案：包括针对辐射源、用机械臂移动探头在扫描面上初始的扫描点处探测辐射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法，其特征在于，方法包括以下步骤：包括针对辐射源、用机械臂移动探头在扫描面上初始的扫描点处探测辐射场值的步骤S1；包括根据初始的扫描点的辐射场值实时用机械臂移动探头对剩余的扫描点进行近场扫描探测的步骤S2。2.根据权利要求1所述的一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法，其特征在于：所述步骤S1具体为：针对给定的辐射源，移动机械臂用探头在扫描面上扫描移动，扫描面上具有扫描点，随机获取一组初始的扫描点，移动机械臂将探头位于每一个初始的扫描点探测，获得各个初始的扫描点的辐射场值。3.根据权利要求1所述的一种无监督学习的辐射源快速近场扫描方法，其特征在于：所述步骤S2具体为：S21、当前轮下，以当前未探测过的扫描点作为未扫描点，用已探测过的扫描点的辐射场值经过不同插值函数分别插值处理获得未扫描点的不同初步辐射场值，对未扫描点的各个初步辐射场值求平均后作为未扫描点的辐射场估计值，再对未扫描点的各个初步辐射场值求方差，提取出N个方差最大的未扫描点，用聚类方法将N个方差最大的未扫描点分成C个簇并找到每个簇的中心点；S22、将C个簇的中心点的方差从中提取一个中心点作为候选中心点，将候选中心点的辐射场估计值和已探测过的扫描点的辐射场值组成参考扫描点集合，利用参考扫描点集合用不同插值函数处理获得每个剩余的中心点的新方差值，并进行判断：若候选中心点以外只要有至少一个剩余的中心点的新方差值小于标准值V
std
，则将候选中心点剔除；若候选中心点以外的所有剩余的中心点的新方差值均不小于标准值V...

【专利技术属性】
技术研发人员：张岭，冯宇茹，李达，李尔平，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：