【技术实现步骤摘要】
一种改善金属残留的TFT阵列基板结构及其制造方法
[0001]本专利技术涉及显示
,具体涉及一种改善金属残留的TFT阵列基板结构及其制造方法。
技术介绍
[0002]IGZO是一种含有铟、镓和锌的非晶氧化物,载流子迁移率是非晶硅的20~30倍,可以大大提高TFT对像素电极的充放电速率,提高像素的响应速度,具备更快的面板刷新频率,可实现超高分辨率TFT
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LCD。同时,现有的非晶硅生产线只需稍加改动即可兼容IGZO制程,因此在成本方面较低温多晶硅(LTPS)更有竞争力。
[0003]现阶段随着市场LCD显示屏窄边框需求趋势明显,且低成本、高分辨率IGZO面板逐渐成为开发的热点,但随着分辨率的提升,IGZO TFT器件的Short chanel(短沟道)设计对制程要求越来越高,金属层线宽线距及精度、金属层与非金属层膜质的选择/搭配直接影响到TFT器件电学特性的稳定性而制程方面,现有的TFT阵列基板的金属层蚀刻方式主要以湿刻(Mo/Al/Mo为例)和干刻(Ti/Al/Ti为例)为主,考虑到工艺成本、 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种改善金属残留的TFT阵列基板结构,包括TFT侧玻璃基板,其特征在于:所述玻璃基板上设有带有凹槽的缓冲层,所述凹槽的的形状为上大下小的梯形状,所述缓冲层的凹槽内沉积有GE金属层,所述GE金属层上设有GI绝缘层,所述GI绝缘层上设有PV绝缘层。2.根据权利要求1所述的一种改善金属残留的TFT阵列基板结构,其特征在于:所述缓冲层和GE金属层的上表面齐平。3.根据权利要求1所述的一种改善金属残留的TFT阵列基板结构,其特征在于:所述缓冲层由SiOx材料成型。4.根据权利要求1所述的一种改善金属残留的TFT阵列基板结构,其特征在于:所述GE金属层由铝、钼、钛、镍、铜或它们的合金成型。5.根据权利要求1所述的一种改善金属残留的TFT阵列基板结构,其特征在于:所述GI绝缘层由SiOx或SiNx材料成型。6.根据权利要求1所述的一种改善金属残留的TFT阵列基板结构,其特征在于:所述PV绝缘层由SiOx或SiNx材料成型。7.如权利要求2~6之一所述的一种改善金属残留的TFT阵列基板结构的制造方法,其特征在于:包括以下步骤:1)在玻璃基...
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