数据统计分析方法、系统、可读存储介质及计算机设备技术方案

本发明专利技术公开了一种数据统计分析方法、系统、可读存储介质及计算机设备，所述方法包括：获取多个样品的检验信息，所述检验信息包括检验类型以及与所述检验类型对应的检验数据；按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型；将所述组合检验类型中的其中一个所述检验类型作为横坐标，另一个所述检验类型作为纵坐标以建立坐标系；根据所述检验数据通过所述坐标系对所述多个样品的检验信息进行数据统计分析。本发明专利技术解决了现有技术中在进行样品检验时只能固定对几个数据进行分析的问题。数据进行分析的问题。数据进行分析的问题。

【技术实现步骤摘要】
数据统计分析方法、系统、可读存储介质及计算机设备


[0001]本专利技术涉及数据统计分析
，特别涉及一种数据统计分析方法、系统、可读存储介质及计算机设备。

技术介绍

[0002]样品检验(SAMPLE INSPECTION)是对产品进行针对性的检验评估，以确切地展示产品特点和性能，并验证产品的特点和性能与预设的标准是否一致，从而方便对产品进行快速的识别和采购。
[0003]现有技术中在进行样品检测的数据统计后，进行统计分析时只能进行固定的几个数据的统计后对固定的几个数据进行分析，并不能分析出多个样品中的数据的变化。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种数据统计分析方法、系统、可读存储介质及计算机设备，旨在解决现有技术中在进行样品检验时只能固定对几个数据进行分析的问题。
[0005]本专利技术实施例是这样实现的：一种数据统计分析方法，所述方法包括：
[0006]获取多个样品的检验信息，所述检验信息包括检验类型以及与所述检验类型对应的检验数据；
[0007]按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型；
[0008]将所述组合检验类型中的其中一个所述检验类型作为横坐标，另一个所述检验类型作为纵坐标以建立坐标系；
[0009]根据所述检验数据通过所述坐标系对所述多个样品的检验信息进行数据统计分析。
[0010]进一步的，上述数据统计分析方法，其中，所述按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型的步骤包括：
[0011]提取所述检验类型的关键信息，根据所述关键信息的相似度对每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型。
[0012]进一步的，上述数据统计分析方法，其中，所述提取所述检验类型的关键信息，根据所述关键信息的相似度对每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型的步骤包括：
[0013]提取所述检验类型的关键信息，获取所述关键信息之间的相似度，确定所述相似度在预设相似度范围内的多个目标检验类型，对所述多个目标检验类型进行两两组合。
[0014]进一步的，上述数据统计分析方法，其中，所述按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型的步骤还包括：
[0015]获取每个所述样品中所述检验类型之间的关联度，确定所述关联度在预设关联度范围内的多个目标检验类型，对所述多个目标检验类型进行两两组合。
[0016]进一步的，上述数据统计分析方法，其中，所述根据所述检验数据通过所述坐标系对每个所述样品的检验信息进行数据统计分析的步骤包括：
[0017]获取每个所述样品的对应的所述组合检验类型在所述坐标系中的分布点；
[0018]根据所述分布点确定所述多个样品的检验数据变化趋势，并通过所述变化趋势对所述多个样品进行分析。
[0019]进一步的，上述数据统计分析方法，其中，所述根据所述分布点确定所述多个样品的检验数据变化趋势，并通过所述变化趋势对所述多个样品进行分析的步骤包括：
[0020]获取所述分布点的密集区域，根据所述密集区域中的所述分布点确定所述多个样品的检验数据变化趋势，并通过所述变化趋势对所述多个样品进行分析。
[0021]本专利技术的另一个目的在于提供一种数据统计分析系统，所述系统包括：
[0022]获取模块，用于获取多个样品的检验信息，所述检验信息包括检验类型以及与所述检验类型对应的检验数据；
[0023]组合模块，用于按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型；
[0024]建立模块，用于将所述组合检验类型中的其中一个所述检验类型作为横坐标，另一个所述检验类型作为纵坐标以建立坐标系；
[0025]分析模块，用于根据所述检验数据通过所述坐标系对每个所述样品的检验信息进行数据统计分析。
[0026]进一步的，上述数据统计分析系统，其中，所述组合模块包括：
[0027]提取单元，用于提取所述检验类型的关键信息，根据所述关键信息的相似度对每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型。
[0028]进一步的，上述数据统计分析系统，其中，所述提取单元具体用于：
[0029]提取所述检验类型的关键信息，获取所述关键信息之间的相似度，确定所述相似度在预设相似度范围内的多个目标检验类型，对所述多个目标检验类型进行两两组合。
[0030]进一步的，上述数据统计分析系统，其中，所述组合模块还包括：
[0031]确定单元，用于获取每个所述样品中所述检验类型之间的关联度，确定所述关联度在预设关联度范围内的多个目标检验类型，对所述多个目标检验类型进行两两组合。
[0032]进一步的，上述数据统计分析系统，其中，所述分析模块包括：
[0033]分布点获取单元，用于获取每个所述样品的对应的所述组合检验类型在所述坐标系中的分布点；
[0034]分析单元，用于根据所述分布点确定所述多个样品的检验数据变化趋势，并通过所述变化趋势对所述多个样品进行分析。
[0035]进一步的，上述数据统计分析系统，其中，所述分析单元具体用于：
[0036]获取所述分布点的密集区域，根据所述密集区域中的所述分布点确定所述多个样品的检验数据变化趋势，并通过所述变化趋势对所述多个样品进行分析。
[0037]本专利技术实施例的另一个目的是提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
[0038]本专利技术实施例的另一个目的是提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的
方法的步骤。
[0039]本专利技术通过获取多份样品的检验信息中的检验类型和检验数据，并通过预设规则对检验类型进行自定义组合，后通过自行设定横纵坐标的方式通过对应的检验数据以对样品进行统计分析，相比现有技术中只能固定的统计分析几组数据，可以分析出样品检验出的数据的多种变化。
附图说明
[0040]图1为本专利技术第一实施例中数据统计分析方法的流程图；
[0041]图2为本专利技术第二实施例中数据统计分析方法的流程图；
[0042]图3为本专利技术第三实施例中数据统计分析方法的流程图；
[0043]图4为本专利技术第四实施例中数据统计分析系统的结构框图。
[0044]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0045]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的若干实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容更加透彻全面。
[0046]需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据统计分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个样品的检验信息，所述检验信息包括检验类型以及与所述检验类型对应的检验数据；按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型；将所述组合检验类型中的其中一个所述检验类型作为横坐标，另一个所述检验类型作为纵坐标以建立坐标系；根据所述检验数据通过所述坐标系对所述多个样品的检验信息进行数据统计分析。2.根据权利要求1所述的数据统计分析方法，其特征在于，所述按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型的步骤包括：提取所述检验类型的关键信息，根据所述关键信息的相似度对每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型。3.根据权利要求2所述的数据统计分析方法，其特征在于，所述提取所述检验类型的关键信息，根据所述关键信息的相似度对每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型的步骤包括：提取所述检验类型的关键信息，获取所述关键信息之间的相似度，确定所述相似度在预设相似度范围内的多个目标检验类型，对所述多个目标检验类型进行两两组合。4.根据权利要求1所述的数据统计分析方法，其特征在于，所述按预设规则将每个所述样品中的所述检验类型进行两两组合得到组合检验类型的步骤还包括：获取每个所述样品中所述检验类型之间的关联度，确定所述关联度在预设关联度范围内的多个目标检验类型，对所述多个目标检验类型进行两两组合。5.根据权利要求1至4中任一项所述的数据统计分析方法，其特征在于，所述根据所述检验数据通过所述坐标系对每个所述样品的检验信息进行数据统计分析的步骤包括：获取每个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈尚荣，
申请(专利权)人：南昌协达科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：