一种电流采样方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种电流采样方法、装置及存储介质。该电流采样方法包括以下步骤：根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔；若第一采样间隔和/或第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制；根据当前的三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间，以在设置完所有扇区的采样点时间后对电机进行三相电流采样及重构还原，来得到电机的三相电流。本申请可解决单电阻采样方式中采样盲区的采样问题，使得扇区切换平滑，进而减少电机功耗和噪声。进而减少电机功耗和噪声。进而减少电机功耗和噪声。

【技术实现步骤摘要】
一种电流采样方法、装置及存储介质


[0001]本申请属于电机
，尤其涉及一种电流采样方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]在电机运转过程中，通常需要采样电机三相线圈的相电流来实现对电机的控制，而采用何种方式对电机的三相电流进行采样会影响控制电机运转的成本。目前，对电机的三相电流进行采样的方式一般有单电阻采样方式、双电阻采样方式以及三电阻采样方式，相比于其它两种采样方式，单电阻采样方式由于其硬件结构更为简单、实现成本更低，而得到越来越广泛的应用。然而，在实际应用过程中，我们发现，这种单电阻采样方式会存在一些采样盲区，主要体现为当电机低速运行或空载的情况下，即在扇区更迭的过渡区域及低速区域，由于调制的三相PWM过于接近，导致无法找到满足条件的采样点，进而出现电流采样困难甚至无法采样的问题。此问题会造成扇区切换时不平滑，从而增加电机功耗和噪声。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种电流采样方法、装置及存储介质，旨在解决现有技术采用单电阻采样方式对电机的三相电流进行采样存在一些采样盲区，造成扇区切换时不平滑，从而增加电机功耗和噪声的技术问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种电流采样方法，包括以下步骤：根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔；若所述第一采样间隔和/或所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制；根据当前的所述三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间，以在设置完所有扇区的采样点时间后对所述电机进行三相电流采样及重构还原，来得到所述电机的三相电流。
[0005]可选的，在本申请的一些实施例中，所述根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔的步骤之前，还包括：
[0006]采用SVPWM方式对所述电机进行驱动，形成矢量控制的多个扇区。
[0007]可选的，在本申请的一些实施例中，所述根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔的步骤具体包括：对当前扇区电机的三相驱动调试信号按照脉宽由小到大进行排序，依次得到所述第一驱动调试信号、所述第二驱动调试信号以及所述第三驱动调试信号；根据所述第二驱动调试信号与所述第三驱动调试信号得到所述第一采样间隔，以及根据所述第一驱动调试信号与所述第二驱动调试信号得到所述第二采样间隔。
[0008]可选的，在本申请的一些实施例中，所述根据所述第二驱动调试信号与所述第三驱动调试信号得到所述第一采样间隔，以及根据所述第一驱动调试信号与所述第二驱动调试信号得到所述第二采样间隔的步骤具体包括：依次获取所述第一驱动调试信号、所述第二驱动调试信号以及所述第三驱动调试信号中开始输出目标电平的第一时间、第二时间与
第三时间；根据所述第二时间与所述第三时间之间的时间差得到所述第一采样间隔，及根据所述第一时间与所述第二时间之间的时间差得到所述第二采样间隔。
[0009]可选的，在本申请的一些实施例中，所述若所述第一采样间隔和/或所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔时，对所述三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制的步骤具体包括：若所述第一采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述第二驱动调试信号或所述第三驱动调试信号进行脉宽调制。
[0010]可选的，在本申请的一些实施例中，所述根据当前的所述三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间的步骤具体包括：根据脉宽调制后的第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据所述第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间；或，根据所述第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据脉宽调制后的第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间。
[0011]可选的，在本申请的一些实施例中，所述若所述第一采样间隔和/或所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制的步骤具体包括：若所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述第一驱动调试信号或所述第二驱动调试信号进行脉宽调制。
[0012]可选的，在本申请的一些实施例中，所述根据当前的所述三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间的步骤具体包括：根据所述第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据脉宽调制后的第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间；或，根据所述第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据所述第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间。
[0013]可选的，在本申请的一些实施例中，所述若所述第一采样间隔和/或所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制的步骤具体包括：若所述第一采样间隔和所述第二采样间隔均小于所述最小采样时间间隔，则对所述第二驱动调试信号和所述第三驱动调试信号依次进行脉宽调制，或对所述第二驱动调试信号和所述第一驱动调试信号依次进行脉宽调制。
[0014]可选的，在本申请的一些实施例中，所述根据当前的所述三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间的步骤具体包括：根据脉宽调制后的第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据脉宽调制后的第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间；或，根据所述第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据脉宽调制后的第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间。
[0015]可选的，在本申请的一些实施例中，所述脉宽调制包括脉宽扩大调制或脉宽缩小调制。
[0016]可选的，在本申请的一些实施例中，在对所述驱动调试信号进行脉宽扩大调制后，所述脉宽调制还包括对脉宽扩大调制后的所述驱动调试信号进行同一个PWM周期内的二次调制。
[0017]第二方面，本申请实施例提供一种装置，包括：存储器、处理器、存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，所述程序被所述处理器执行时实现上述的方法的步骤。
[0018]第三方面，本申请实施例提供一种存储介质，用于计算机可读存储，所述存储介质
存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述的方法的步骤。
[0019]在本申请中，其在采用单电阻采样方式对电机的三相电流进行采样时，会先根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔，以在第一采样间隔和/或第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制，来确保其第一采样间隔及第二采样间隔均能满足最小采样时间间隔要求。再根据当前的三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间，以在设置完所有扇区的采样点时间后对电机进行三相电流采样及重构还原，来得到电机的三相电流。这样一来，本申请在根据当前的三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间时，其当前的三相驱动调试信号有可能是经过脉宽调制的，以此来确保其第一采样间隔及第二采样间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流采样方法，其特征在于，包括以下步骤：根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔；若所述第一采样间隔和/或所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制；根据当前的所述三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间，以在设置完所有扇区的采样点时间后对所述电机进行三相电流采样及重构还原，来得到所述电机的三相电流。2.根据权利要求1所述的电流采样方法，其特征在于，所述根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔的步骤之前，还包括：采用SVPWM方式对所述电机进行驱动，形成矢量控制的多个扇区。3.根据权利要求1所述的电流采样方法，其特征在于，所述根据当前扇区电机的三相驱动调试信号，分别得到第一采样间隔和第二采样间隔的步骤具体包括：对当前扇区电机的三相驱动调试信号按照脉宽由小到大进行排序，依次得到所述第一驱动调试信号、所述第二驱动调试信号以及所述第三驱动调试信号；根据所述第二驱动调试信号与所述第三驱动调试信号得到所述第一采样间隔，以及根据所述第一驱动调试信号与所述第二驱动调试信号得到所述第二采样间隔。4.根据权利要求3所述的电流采样方法，其特征在于，所述根据所述第二驱动调试信号与所述第三驱动调试信号得到所述第一采样间隔，以及根据所述第一驱动调试信号与所述第二驱动调试信号得到所述第二采样间隔的步骤具体包括：依次获取所述第一驱动调试信号、所述第二驱动调试信号以及所述第三驱动调试信号中开始输出目标电平的第一时间、第二时间与第三时间；根据所述第二时间与所述第三时间之间的时间差得到所述第一采样间隔，及根据所述第一时间与所述第二时间之间的时间差得到所述第二采样间隔。5.根据权利要求3所述的电流采样方法，其特征在于，所述若所述第一采样间隔和/或所述第二采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述三相驱动调试信号中的至少一个驱动调试信号进行脉宽调制的步骤具体包括：若所述第一采样间隔小于最小采样时间间隔，则对所述第二驱动调试信号或所述第三驱动调试信号进行脉宽调制。6.根据权利要求5所述的电流采样方法，其特征在于，所述根据当前的所述三相驱动调试信号设置当前扇区的采样点时间的步骤具体包括：根据脉宽调制后的第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据所述第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间；或，根据所述第三驱动调试信号设置当前扇区的第一采样点时间，根据脉宽调制后的第二驱动调试信号设置当前扇区的第二采样点时间。7.根据权利要求3所述的电流采样方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘吉平，陈筠，王翔，
申请(专利权)人：深圳市航顺芯片技术研发有限公司，
类型：发明
国别省市：