一种X光管原级射线谱的测量方法技术

本发明专利技术公开了一种X光管原级射线谱的测量方法，包括以下步骤：将X光管、第一铝板、以及探测器依次按顺序放置；X光管设置完毕后，通过探测器获取谱图P1；取走第一铝板，并将其更换为厚度为D2的第二铝板，重新测试，得到谱图P2；根据探测器的能量校准系数，将谱图P1和谱图P2的通道数变换为能量值，得到谱图P3；根据第一铝板、第二铝板对射线的吸收，得出X光管发出的射线在被第一铝板或第二铝板吸收前的谱图P4；根据X光管的铍窗以及空气对射线的吸收，得出X光管发出的射线在被铍窗和空气吸收前的谱图P5。本发明专利技术的测量方法采用铝板作为X光管的射线衰减介质，测量通路较短，再通过差分方式减小干扰，测量准确性较高，使用方便。使用方便。使用方便。

【技术实现步骤摘要】
一种X光管原级射线谱的测量方法


[0001]本专利技术涉及一种无损测试技术，特别涉及一种X光管原级射线谱的测量方法。

技术介绍

[0002]作为一种无损测试方法，X射线荧光分析(XRF)和X射线衍射分析(XRD)在地质、环境、冶金和食品等领域元素定性和定量分析及膜厚测量方面有广泛的应用。其中，X射线原级能谱分布地准确性严重影响最终测量分析的准确度。现有技术中，X射线原级能谱的测量方法常采用晶体衍射方法，但是这种方法存在测量通路长，以及存在诸多干扰等问题。

技术实现思路

[0003]为了解决上述现有技术中的不足，本专利技术的目的在于提供一种X光管原级射线谱的测量方法，本专利技术的测量方法采用铝板作为X光管的射线衰减介质，测量通路较短，再通过差分方式减小干扰，测量准确性较高，使用方便。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案为：一种X光管原级射线谱的测量方法，包括以下步骤：
[0005]将X光管、第一铝板、以及探测器依次按顺序放置，X光管的出射口和探测器的入射口分别分布在厚度为D1的第一铝板两侧；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X光管原级射线谱的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：将X光管、第一铝板、以及探测器依次按顺序放置，X光管的出射口和探测器的入射口分别分布在厚度为D1的第一铝板两侧；X光管设置完毕后，打开探测器，通过所述探测器获取谱图P1；取走第一铝板，并将其更换为厚度为D2的第二铝板，重新测试，得到谱图P2；根据所述探测器的能量校准系数，将谱图P1和谱图P2的通道数变换为能量值，得到谱图P3；根据第一铝板、第二铝板对射线的吸收，得出X光管发出的射线在被第一铝板或第二铝板吸收前的谱图P4；根据X光管的铍窗以及空气对射线的吸收，得出X光管发出的射线在被铍窗和空气吸收前的谱图P5，谱图P5为X光管的原级射线谱；所述谱图P1是二维矩阵[T，J1]，T表示通道个数，且T是大于0的自然数，J1是与相应通道对应的计数值；所述谱图P2是二维矩阵[T，J2]，J2是与相应通道对应的计数值；所述谱图P3是二维矩阵[E，J3]，其中，所述E＝T*S+S0，J3＝J2
‑<...

【专利技术属性】
技术研发人员：程依光，
申请(专利权)人：安徽皖仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：