一种基于变分模态分解的X射线荧光光谱本底扣除方法技术

本发明专利技术提供一种基于变分模态分解的X射线荧光光谱本底扣除方法，其特征在于，利用变分模态分解VMD算法对X射线荧光光谱XRF的原始光谱数据进行分解，分解后选择第一层分量进行处理；将处理后的第一层分量再进行迭代分解，直到达到VMD算法的停止条件，并将最后分解得到的第一层分量作为最终估计的本底；在原始光谱数据上减去本底分量得到扣除本底后的光谱数据。本发明专利技术具有效果不弱于当前所有已有的本底扣除方法，同时具有使用简单、自适应于所有谱图、效果稳定、无需根据谱图选择不同参数等优点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于变分模态分解的X射线荧光光谱本底扣除方法


[0001]本专利技术涉及X射线荧光光谱XRF的谱图预处理技术，特别涉及一种基于迭代变分模态分解的光谱本底扣除方法。

技术介绍

[0002]在使用X荧光光谱对物质进行分析时，光谱中通常会包含连续谱本底、目标元素特征X射线谱峰、逃逸峰、和峰等。而连续谱本底一直被认为是显著干扰，本底的存在会使得净峰面积的估算结果过大和峰位估算结果偏移。为了准确获得目标元素特征X射线谱峰及其净峰面积，必须在解谱之前采用本底扣除方法，提高净峰面积的准确性，同时也可以校正吸收增强效应。
[0003]在所有光谱的本底扣除中，能量色散型X射线荧光光谱本底扣除尤为复杂，因为一些元素含量少，计数较低，过分的本底扣除对于含量较多的元素定量分析影响有限，但是对于相对含量较低的土壤重金属(例如Cd、Hg、As等)影响较大。为了扣除本底，研究人员已经提出了多种算法。一种方法是从硬件的角度出发，通过改进光路，如设计三角形光路结构抑制本底的产生，更多的研究是从软件的角度对已生成的光谱进行本底扣除，常采用多项式拟合、傅立叶变换、削峰法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于变分模态分解的X射线荧光光谱本底扣除方法，其特征在于，包括以下步骤：利用变分模态分解VMD算法对X射线荧光光谱XRF的原始光谱数据进行分解，分解后选择第一层分量再进行迭代分解直到达到VMD算法的停止条件，并将最后分解得到的第一层分量作为最终估计的本底；在原始光谱数据上减去本底分量得到扣除本底后的光谱数据。2.如权利要求1所述方法，其特征在于，对原始光谱数据进行分解是采用的分解模态数为2。3.如权利要求2所述方法，其特征在于，对原始光谱数据进行分解得到最终估计的本底的具体步骤如下：步骤1：得到带有本底的原始光谱数据f1[i]；使用f
m
[i]表示经过m
‑
1次迭代变分模态分解VMD处理后的光谱数据，其中，m表示迭代次数，m≥1，i表示光谱通道；初始化m为1，初始化比较次数times为0，设置VMD的分解模态数k＝2、满足收敛条件的预设迭代次数N以及最小误差ε；步骤2；使用VMD算法对光谱数据f
m
[i]进行分解得到2层分量u1[i]、u2[i]；步骤3：选择第1层分量u1[i]赋值第m次估计的本底a
m
[i]；步骤4：判断m是否等于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李福生，鲁欣，曾小龙，朱鹏飞，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：