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本发明公开了一种X光管原级射线谱的测量方法，包括以下步骤：将X光管、第一铝板、以及探测器依次按顺序放置；X光管设置完毕后，通过探测器获取谱图P1；取走第一铝板，并将其更换为厚度为D2的第二铝板，重新测试，得到谱图P2；根据探测器的能量校准系...
该专利属于安徽皖仪科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽皖仪科技股份有限公司授权不得商用。

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