从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法技术

本发明专利技术公开了一种从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法，所述方法包括：1）提取下包络特征；2）构建直方图，得到测量信号峰值阈值；3）获取最大公约数；4）根据基波频率阈值筛选出待处理基波频率，并作去重处理；5）对备选基波频率作倍乘处理，得到数值在扫频范围内的、所有的倍乘基波频率值；6）对倍乘基波频率值及其周围峰值点作可信度判断；7）根据可信度值，得到最终结果。本发明专利技术的有益技术效果是：提出了一种从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法，该方法能通过可信度判断，提高基波谐波信号识别的准确性。提高基波谐波信号识别的准确性。

【技术实现步骤摘要】
从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法


[0001]本专利技术涉及一种近场辐射检测技术，尤其涉及一种从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法。

技术介绍

[0002]谐波具有叠加效应，谐波点处的信息强度高、稳定性好、具有典型性，可以用来表征电路板运行状态信息。获取谐波点处的信息，是利用近场辐射实现PCB板故障诊断的一个研究方向，因此，对基波和谐波的定位提取格外重要。但在实际信息处理中，由于各次谐波与基波的叠加干扰，导致有效信息获取难度较大。

技术实现思路

[0003]针对
技术介绍
中的问题，本专利技术提出了一种从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法，其创新在于：所述方法包括：
[0004]1)提取测量信号的下包络特征，得到多个峰值点(f
j
,P
j
)，f
j
为第j个峰值点所对应的频率，P
j
为第j个峰值点所对应的峰值，j＝1,2,3,
…
,m，m为峰值点的数量；多个峰值点(f
j
,P
j...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种从近场辐射检测测试信号中提取基波和谐波的方法，其特征在于：所述方法包括：1)提取测量信号的下包络特征，得到多个峰值点(f
j
，P
j
)，f
j
为第j个峰值点所对应的频率，P
j
为第j个峰值点所对应的峰值，j＝1，2，3，...，m，m为峰值点的数量；多个峰值点(f
j
，P
j
)构成峰值特征集合{f
j
，P
j
}；2)以0.2～1db为组距构建直方图，按P
j
的数值将多个峰值点(f
j
，P
j
)归类到直方图中的各个区间中；多个区间中，包含峰值点数量最多的区间记为取值区间；测量信号峰值阈值th
tf
的数值取取值区间的中点值；3)获取每一个峰值点(f
j
，P
j
)的频率f
j
与其他峰值点频率的最大公约数；对多个最大公约数作去重处理，得到多个待处理公约数；4)根据电路板实际搭载辐射源情况，设置基波频率阈值th
bf
；将各个待处理公约数逐一与th
bf
比较，大于th
bf...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑伟，杨亦鑫，陈治润，李寅生，路萍，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：