【技术实现步骤摘要】
散射光场全息范围三维位移测量装置
[0001]本技术涉及光学测量的
,具体是一种散射光场全息大范围三维位移测量装置。
技术介绍
[0002]随着机械制造、半导体工业等行业精密加工技术的迅猛发展,相应的对于各类超精密器件或光学元件的工艺要求日益增加。对于许多要求各部件精准配合的场合,如航空航天、微型医疗机器人等,如何获得精密元件的位移或形变是一个非常关键的问题。
[0003]在现有的测量方法中,传统的接触式位移测量方法测量速度慢,而且会引入人为的受力干扰,也可能会因接触力而对物体表面造成磨损,因此不太适合精密元件的测量。在非接触测量方法中,数字全息技术具有无接触式测量、全场测量纳米级的高精度等优点,是一种十分理想的高精度位移检测手段。但是数字全息技术一般用于镜面表面物体的测量,对于散射表面的物体失效。同时,单一的数字全息装置并不适用于三维矢量位移的测量。若想实现同步三维矢量位移同步测量,往往需要三套数字全息装置,每一套负责一个维度形变的测量。然而,三套数字全息装置的安装较为复杂。同时信息的利用效率不高,只利用了相 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种散射光场全息范围三维位移测量装置,其特征在于,包括第一激光器(1)、第二激光器(2)、第一分光镜(3)、扩束准直单元(4)、第二分光镜(5)、平面镜(6)、第三分光镜(7)、第四分光镜(9)和相机(10);第一分光镜(3)正对第一激光器(1)和第二激光器(2)的激光发射口,将两束激光进行合束,扩束准直单元(4)、第二分光镜(5)、第三分光镜(7)、待测物体(8)依次排成一排位于第一分光镜(3)的合束光路上,待测物体(8)将照射在其表面的光反射后由第三分光镜(7)反射,平面镜(6)位于第二分光镜(5)的反射光路上,第四分光镜(9)位于第三分光镜(7)和平面镜(6)的反射光路的交叉位置处,相机(10)位于第四分光镜的合束光路上。2.根据权利要求1所述的散射光场全息范围三维位移测量装置,其特征在于,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:闫浩,马伯乐,杨佳苗,陈梁友,
申请(专利权)人:上海交通大学,
类型:新型
国别省市:
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