一种OLED器件测量机台制造技术

本实用新型专利技术提供了一种OLED器件测量机台，其提供了一种在高低温条件下进行OLED器件半衰期和电流

【技术实现步骤摘要】
一种OLED器件测量机台


[0001]本技术涉及OLED器件测量的
，具体为一种OLED器件测量机台。

技术介绍

[0002]现有技术中对OLED器件的光学特性测量温度环境较为局限，未能做到在很低的温度下对OLED器件进行光学特性测量，或者部分测试机台只能在较低的温度环境下进行测量，如此对厂家低温环境下测量OLED器件造成了极大的局限性，难以适应现社会对产品使用环境变异大，诸多公司，尤其中小型企业难以找到合适的能够在低温环境测量OLED器件的机台。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本技术提供了一种OLED器件测量机台，其提供了一种在高低温条件下进行OLED器件半衰期和电流
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电压
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亮度特性的二合一测试装置。
[0004]一种OLED器件测量机台，其特征在于，其包括：
[0005]工作平台，所述工作平台的下方为机柜结构，所述工作平台的上部面域围设有立式框架；
[0006]测试仪；
[0007]若干治具；
[0008]所述立式框架的包覆有围板和顶板，其中前端面的围板设置有放置口；
[0009]所述测试仪固接于三轴移动组件的输出端，所述三轴移动组件包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构，所述三轴移动组件集成于所述立式框架的上部区域，所述测试仪朝向下方布置；
[0010]若干所述治具阵列排布于所述工作平台的上表面；
[0011]每个所述治具包括固定底座、翻转盖板，所述翻转盖板翻转到位后盖装于所述固定底座、形成的检测内腔内用于放置OLED器件，所述翻转盖板的上表面设置有玻璃检测视窗，所述固定底座的内部设置有内腔，所述内腔连通有一进水孔、一出水孔，进水通道分别并联连接至每个固定底座的进水孔，出水通道分别并联至每个固定底座的出水孔，所述进水通道、出水通道分别连通至循环水浴装置，所述固定底座的用于放置OLED器件的表面设置有半导体制冷片，半导体制冷片接触固定底座和OLED器件，固定底座等效为水冷头，确保半导体制冷片工作状态下的热能被快速通过水冷头冷却，形成低温环境。
[0012]其进一步特征在于：
[0013]所述翻转盖板开设有吹气通道，所述吹气通道连通至所述检测内腔，所述吹气通道外接有吹气接头，吹气管道分别并联至每个所述吹气接头，向检测内腔内通入干燥空气，防止玻璃检测视窗结霜；
[0014]所述的治具同时支持检测顶部发射或底部发射的OLED器件，检测内腔的PIN针的位置根据OLED器件正负极的位置进行调整设置。
[0015]采用本技术的结构后，通过固定底座制造治具内部低温的环境，同时又通过底板上的水冷头带走制冷片散发的热量，实现快速制造低温环境，检测效率高；通过测试仪透过玻璃检测视窗检测OLED器件半衰期和电流
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电压
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亮度特性，其提供了一种在高低温条件下进行OLED器件半衰期和电流
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电压
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亮度特性的二合一测试装置。
附图说明
[0016]图1为本技术的立体结构示意图；
[0017]图2为本技术的治具的水路和气路组装示意图；
[0018]图3为本技术的治具的立体图；
[0019]图中序号所对应的名称如下：
[0020]工作平台10、机柜结构20、立式框架30、围板31、顶板32、放置口33、测试仪40、治具50、翻转盖板52、吹气接头521、检测内腔53、玻璃检测视窗54、固定底座51、进水孔511、出水孔512、三轴移动组件60、进水通道70、出水通道80、循环水浴装置90、半导体制冷片100、吹气管道110。
具体实施方式
[0021]一种OLED器件测量机台，见图1
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图3，其包括：
[0022]工作平台10，工作平台10的下方为机柜结构20，工作平台10的上部面域围设有立式框架30；
[0023]测试仪40；
[0024]若干治具50；
[0025]立式框架30的包覆有围板31和顶板32，其中前端面的围板设置有放置口33；
[0026]测试仪40固接于三轴移动组件60的输出端，三轴移动组件60包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构，三轴移动组件60集成于立式框架30的上部区域，测试仪40朝向下方布置；
[0027]若干治具50阵列排布于工作平台10的上表面；
[0028]每个治具50包括固定底座51、翻转盖板52，翻转盖板52翻转到位后盖装于固定底座51、形成的检测内腔53内用于放置OLED器件，翻转盖板52的上表面设置有玻璃检测视窗54，固定底座51的内部设置有内腔，内腔连通有一进水孔511、一出水孔512，进水通道70分别并联连接至每个固定底座51的进水孔511，出水通道80分别并联至每个固定底座51的出水孔512，进水通道70、出水通道80分别连通至循环水浴装置90，固定底座51的用于放置OLED器件的表面设置有半导体制冷片100，半导体制冷片100接触固定底座51和OLED器件，固定底座51等效为水冷头，确保半导体制冷片100工作状态下的热能被快速通过水冷头冷却，形成低温环境。
[0029]具体实施例中，循环水浴装置90位于外侧设置，翻转盖板52开设有吹气通道，吹气通道连通至检测内腔53，吹气通道外接有吹气接头521，吹气管道110分别并联至每个吹气接头521，向检测内腔53内通入干燥空气，防止玻璃检测视窗54结霜；
[0030]治具50同时支持检测顶部发射或底部发射的OLED器件，检测内腔的PIN针的位置根据OLED器件正负极的位置进行调整设置。
[0031]具体实施例中，治具50组合形成2
×
10的矩形阵列结构，确保单次能充分检测足够多的OLED器件。
[0032]其工作原理如下：通过固定底座制造治具内部低温的环境，同时又通过底板上的水冷头带走制冷片散发的热量，实现快速制造低温环境，检测效率高；吹气管道分别并联至每个吹气接头，向检测内腔内通入干燥空气，防止玻璃检测视窗结霜，减少对测试的结果的影响，测量数据更加准确，通过测试仪透过玻璃检测视窗检测OLED器件半衰期和电流
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电压
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亮度特性，其提供了一种在高低温条件下进行OLED器件半衰期和电流
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电压
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亮度特性的二合一测试装置。
[0033]对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[003本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED器件测量机台，其特征在于，其包括：工作平台，所述工作平台的下方为机柜结构，所述工作平台的上部面域围设有立式框架；测试仪；若干治具；所述立式框架的包覆有围板和顶板，其中前端面的围板设置有放置口；所述测试仪固接于三轴移动组件的输出端，所述三轴移动组件包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构，所述三轴移动组件集成于所述立式框架的上部区域，所述测试仪朝向下方布置；若干所述治具阵列排布于所述工作平台的上表面；每个所述治具包括固定底座、翻转盖板，所述翻转盖板翻转到位后盖装于所述固定底座、形成的检测内腔内用于放置OLED器件，所述翻转盖板的上表面设置有玻璃检测视窗，所述固定底座的内部设置有内腔，所述内腔连通有一进水孔、一出水孔，进水通道分别并联连接至每个固...

【专利技术属性】
技术研发人员：廉瑞，周雪文，朱二玲，管俊杰，
申请(专利权)人：苏州弗士达科学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：