一种平板探测器坏点快速校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种平板探测器坏点快速校正方法及装置，涉及平板探测器领域，特别涉及一种平板探测器坏点快速校正方法及装置；本发明专利技术通过对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值进行筛选，可快速的筛选出坏点，再通过计算出与坏点相临的各个像素点的平均灰度值，对坏点的灰度值进行替换，可快速的完成坏点的校正，提高图像质量。提高图像质量。提高图像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种平板探测器坏点快速校正方法及装置


[0001]本专利技术涉及平板探测器领域，特别涉及一种平板探测器坏点快速校正方法及装置。

技术介绍

[0002]数字化X线摄影(Digital Radiography，简称DR)，是上世纪90年代发展起来的X线摄影新技术，以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点，成为数字X线摄影技术的主导方向，并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。DR的技术核心是平板探测器，平板探测器本身的质量对成像质量起着决定性的作用，其每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比或者反比，在控制电路的作用下，扫描读出各个像素的存储电荷，经A/D转换后输出数字信号，传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。
[0003]现有技术中的平板探测器由于当前的制造工艺问题都容易出现坏点或坏线的情况，当前的传统做法是提前做好坏点模板，然后下载到平板探测器，或在计算机软件中进行把坏点进行校正，传统的处理方式有以下两点缺点：制作模板比较麻烦给使用人员带来不必要的学习代价；由于平板探测器是会随着时间的推移会出现新的坏点，所以需要每隔一段时间重新校正一次，其纠正效率低且严重耗费不必要的人力成本。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种可以实时、快速的检测到坏点，并进行校正的技术。
[0005]本专利技术的目的通过以下技术方案实现：
[0006]一种平板探测器坏点快速校正方法，包括以下步骤：
[0007]S1：获取各个像素点对应的灰度值数据；
[0008]S2：对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值筛选出坏点；坏点与相临像素点之间的灰度差值大于灰度差阈值；
[0009]S3：计算出与坏点相临像素点的平均灰度值；
[0010]S4：采用平均灰度值来替换对应的坏点的灰度值。
[0011]具体的，还包括以下步骤：
[0012]S5：重复步骤S3至S4，直至完成各个坏点的灰度值的替换；
[0013]S6：输出校正后的图像。
[0014]以上的，步骤S2包括以下步骤：
[0015]S211：计算出各个相临像素点之间的灰度差值；
[0016]S212：分别对各个灰度差值与确定的灰度差阈值进行对比计算；当灰度差值大于灰度差阈值时，对灰度差值对应的两个像素点均进行标记，并累计各像素点被标记的次数；
[0017]S213：根据像素点被标记的次数进行与标记阈值进行对比计算，当像素点被标记的次数大于标记阈值时，判断该像素点为坏点。
[0018]具体的，标记阈值为3。
[0019]另一具体的，步骤S2包括以下步骤：
[0020]S221：选取一个像素点，并分别计算像素点与相临像素点之间的各个灰度差值；
[0021]S222：对的各个灰度差值与确定的灰度差阈值进行对比计算，当大于灰度差阈值的灰度差值的数量超过设定的判定阈值时，判断选取的像素点为坏点。
[0022]更具体的，判定阈值为相临像素点的数量的50％。
[0023]以上的，相临像素点包括分别在横向、竖向以及斜向方向上相临的像素点。
[0024]根据本专利技术公开的另一个方面，提供了一种坏点快速校正装置，包括：信息获取模块、坏点筛选模块、校正模块和输出模块；信息获取模块用于获取各个像素点对应的灰度值数据；坏点筛选模块用于对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值筛选出坏点；校正模块用于根据与坏点相临的像素点的平均灰度值，对坏点进行灰度值的校正；输出模块用于根据校正后的灰度值数据生出校正后的图像。
[0025]根据本专利技术公开的再一方面，提供了一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机指令，所述处理器执行所述指令时实现如上所述平板探测器坏点快速校正方法的步骤。
[0026]根据本专利技术公开的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现如上所述平板探测器坏点快速校正方法的步骤。
[0027]本专利技术通过对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值进行筛选，可快速的筛选出坏点，再通过计算出与坏点相临的各个像素点的平均灰度值，对坏点的灰度值进行替换，可快速的完成坏点的校正，提高图像质量。
附图说明
[0028]通过结合附图对于本专利技术公开的示例性实施例进行描述，可以更好地理解本专利技术，在附图中：
[0029]图1所示的是根据本专利技术公开实施例一的一种平板探测器坏点快速校正方法的示意性流程图；
[0030]图2所示的是根据本专利技术公开实施例一的一种平板探测器坏点快速校正装置的程序模块示意图；
[0031]图3所示的是根据本专利技术公开实施例一的计算设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
[0032]以下将描述本专利技术的具体实施方式，需要指出的是，在这些实施方式的具体描述过程中，为了进行简明扼要的描述，本说明书不可能对实际的实施方式的所有特征均作详尽的描述。应当可以理解的是，在任意一种实施方式的实际实施过程中，正如在任意一个工程项目或者设计项目的过程中，为了实现开发者的具体目标，为了满足系统相关的或者商业相关的限制，常常会做出各种各样的具体决策，而这也会从一种实施方式到另一种实施方式之间发生改变。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本专利技术公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本专利技术揭露的
技术实现思路
的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不
应当理解为本专利技术的内容不充分。
[0033]除非另作定义，权利要求书和说明书中使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属
内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本专利技术专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“一个”或者“一”等类似词语并不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同元件，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，也不限于是直接的还是间接的连接。
[0034]实施例一
[0035]请参阅图1，本实施例提出一种平板探测器坏点快速校正方法，包括以下步骤：
[0036]S1：获取各个像素点对应的灰度值数据；
[0037]S2：对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值筛选出坏点；坏点与相临像素点之间的灰度差值大于灰度差阈值；
[0038]S3：计算出与坏点相临像素点的平均灰度值；
[0039]S4：采用平均灰度值来替换对应的坏点的灰度值；
[0040]S5：重复步骤S3至S4，直至完成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取各个像素点对应的灰度值数据；S2：对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值筛选出坏点；所述坏点与相临像素点之间的灰度差值大于所述灰度差阈值；S3：计算出与所述坏点相临像素点的平均灰度值；S4：采用所述平均灰度值来替换对应的坏点的灰度值。2.根据权利要求1所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，还包括以下步骤：S5：重复步骤S3至S4，直至完成各个坏点的灰度值的替换；S6：输出校正后的图像。3.根据权利要求1或2所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下步骤：S211：计算出各个相临像素点之间的灰度差值；S212：分别对各个灰度差值与确定的灰度差阈值进行对比计算；当灰度差值大于所述灰度差阈值时，对所述灰度差值对应的两个像素点均进行标记，并累计各像素点被标记的次数；S213：根据像素点被标记的次数进行与标记阈值进行对比计算，当像素点被标记的次数大于所述标记阈值时，判断该像素点为坏点。4.根据权利要求3所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于：所述标记阈值为3。5.根据权利要求1或2所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下步骤：S221：选取一个像素点，并分别计算所述像素点与相临...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯岩河，
申请(专利权)人：上海昊博影像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：