一种X射线曝光校准方法、图像校准装置及X射线机制造方法及图纸

本申请提供一种X射线曝光校准方法、图像校准装置及X射线机，涉及图像处理领域，尤其涉及一种X射线曝光校准方法、图像校准装置及X射线机。本申请通过在传感器的扫描区域内设置校准区域和成像区域，并依此计算出成像区域中每一像素行的校准灰度值来对成像区域中的图像进行校正，可消除工频X射线机在曝光下进行连续图像采集时由于曝光剂量波动产生的横纹，从而提高图像质量，降低设备更新的成本，有效提高经济效益。高经济效益。高经济效益。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线曝光校准方法、图像校准装置及X射线机


[0001]本专利技术涉及图像处理领域，尤其涉及一种X射线曝光校准方法、图像校准装置及X射线机。

技术介绍

[0002]X射线机是一种能够产生X射线的设备，主要包括X射线管、高压发生器以及高压电缆。工业软射线机主要用于理化检测的衍射分析仪等。而工业硬射线机主要应用于厚材料的检测等。医学上用于诊断的X射线机称为诊断X射线机，可以作透视、摄影检查。X射线透视主要依据的是X射线的穿透作用，差别吸收及荧光作用。
[0003]高压发生器的主要作用是供给X射线管阴、阳两极直流高压和灯丝加热电压。现有的工频X射线高压发生器由于输出的曝光脉冲频率很低，在曝光的同时进行连续图像采集，会在图像上看到曝光剂量波动产生的横纹，该横纹会直接影响图像质量，进而影响诊断结果，甚至生成的图像无法正常使用。
[0004]因此，针对现有技术中存在的问题，亟需提供一种能够去除曝光脉冲频率低对连续采集的图像的影响的技术显得尤为重要。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种能够去除曝光脉冲频率低对连续采集的图像的影响的技术，以解决现有技术中存在的上述问题。
[0006]本专利技术的目的通过以下技术方案实现：
[0007]一种X射线曝光校准方法，包括以下步骤：
[0008]S1：在图像传感器的扫描区域中确定校准区域和成像区域；
[0009]S2：在扫描区域中采集图像数据；
[0010]S3：计算出校准区域中每一像素行的校准灰度值；
[0011]S4：根据步骤S3获得的每一像素行的校准灰度值计算成像区域中的每一像素行的灰度值进行校正。
[0012]具体的，校准区域包括第一像素矩阵，成像区域包括第二像素矩阵；第一像素矩阵与第二像素矩阵的行数相同。
[0013]更具体的，步骤S3包括：
[0014]S31：通过对第一像素矩阵中每一像素行的进行平均值计算，获得第一校准列。
[0015]更具体的，步骤S4还包括：
[0016]S41：对第二像素矩阵与第一校准列进行求差计算。
[0017]更具体的，步骤S4还包括：
[0018]S42：获取偏差校准灰度值，对第二像素矩阵的每一个灰度值与偏差校准灰度值进行求和计算。
[0019]另一具体的，步骤S3包括：
[0020]S32：获取偏差校准灰度值；
[0021]S33：通过对第一校准列中的每一个灰度值与偏差校准灰度值进行求差计算，获得第二校准列。
[0022]更具体的，步骤S32包括：通过对比计算，计算出第一校准列中的最小灰度值，并以最小灰度值作为偏差校准灰度值。
[0023]以上的，步骤S4包括：通过对第二像素矩阵与第二校准列进行求差计算。
[0024]为实现上述目的，本专利技术还提供一种采用X射线曝光校准方法的图像校准装置，包括：存储模块、传感模块、数据处理模块、参数设定模块以及图像生成模块；数据处理模块分别与存储模块、传感模块、数据处理模块、参数设定模块以及图像生成模块单独连接；存储模块用于对数据进行存储；传感模块连接有图像传感器，用于采集图像数据；参数设定模块用于在图像传感器的成像区域中确定校准区域和成像区域；数据处理模块用于对采集到都得图像数据进行X射线曝光校准；图像生成模块用于根据曝光校准后的图像数据合成输出图像。
[0025]为实现上述目的，本专利技术还提供一种X射线机，该X射线机内置有上述的图像校准装置。
[0026]本专利技术达到的有益效果：一种X射线曝光校准方法，通过在传感器的扫描区域内设置校准区域和成像区域，并依此计算出成像区域中每一像素行的校准灰度值来对成像区域中的图像进行校正，可消除工频X射线机在曝光下进行连续图像采集时由于曝光剂量波动产生的横纹，从而提高图像质量，降低设备更新的成本，有效提高经济效益。
附图说明
[0027]通过结合附图对于本专利技术公开的示例性实施例进行描述，可以更好地理解本专利技术，在附图中：
[0028]图1所示的是根据本专利技术公开实施例的X射线曝光校准方法的示意性流程图；
[0029]图2所示的是根据本专利技术公开实施例的采用X射线曝光校准方法的图像校准装置示意性方框图。
具体实施方式
[0030]以下将描述本专利技术的具体实施方式，需要指出的是，在这些实施方式的具体描述过程中，为了进行简明扼要的描述，本说明书不可能对实际的实施方式的所有特征均作详尽的描述。应当可以理解的是，在任意一种实施方式的实际实施过程中，正如在任意一个工程项目或者设计项目的过程中，为了实现开发者的具体目标，为了满足系统相关的或者商业相关的限制，常常会做出各种各样的具体决策，而这也会从一种实施方式到另一种实施方式之间发生改变。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本专利技术公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本专利技术揭露的
技术实现思路
的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本专利技术的内容不充分。
[0031]除非另作定义，权利要求书和说明书中使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属
内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本专利技术专利申请说明书以及权
利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“一个”或者“一”等类似词语并不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同元件，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，也不限于是直接的还是间接的连接。
[0032]实施例
[0033]一种图像校准装置，如图2所示，包括：存储模块、传感模块、数据处理模块、参数设定模块以及图像生成模块。
[0034]数据处理模块分别与存储模块、传感模块、数据处理模块、参数设定模块以及图像生成模块单独连接。
[0035]存储模块用于对数据进行存储；传感模块连接有图像传感器，用于采集图像数据；参数设定模块用于在图像传感器的成像区域中确定校准区域和成像区域；数据处理模块用于对采集到都得图像数据进行X射线曝光校准；图像生成模块用于根据曝光校准后的图像数据合成输出图像。
[0036]本申请还提供一种X射线机，该X射线机内置有上述的图像校准装置。
[0037]其中，上述图像校准装置通过一种X射线曝光校准方法，来实现对像数据进行X射线曝光校准，如图1所示，一种X射线曝光校准方法，包括以下步骤：
[0038]S1：在图像传感器的扫描区域中确定校准区域和成像区域；
[0039]S2：在扫描区域中采集图像数据；
[0040]S3：计算出校准区域中每一像素行的校准灰度值；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线曝光校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：在图像传感器的扫描区域中确定校准区域和成像区域；S2：在扫描区域中采集图像数据；S3：计算出所述校准区域中每一像素行的校准灰度值；S4：根据所述步骤S3获得的每一像素行的校准灰度值对成像区域中的每一像素行的灰度值进行校正。2.根据权利要求1所述的一种X射线曝光校准方法，其特征在于：所述校准区域包括第一像素矩阵，所述成像区域包括第二像素矩阵；所述第一像素矩阵与第二像素矩阵的行数相同。3.根据权利要求2所述的一种X射线曝光校准方法，其特征在于，所述步骤S3包括：S31：通过对所述第一像素矩阵中每一像素行的进行平均值计算，获得第一校准列。4.根据权利要求3所述的一种X射线曝光校准方法，其特征在于，所述步骤S4还包括：S41：对第二像素矩阵与第一校准列进行求差计算。5.根据权利要求4所述的一种X射线曝光校准方法，其特征在于，所述步骤S4包括：S42：获取偏差校准灰度值，对第二像素矩阵的每一个灰度值与所述偏差校准灰度值进行求和计算。6.根据权利要求3所述的一种X射线曝光校准方法，其特征在于，所述步骤S3包括：S32：获取偏差校准灰度值；...

【专利技术属性】
技术研发人员：许馨，康宏伟，
申请(专利权)人：上海昊博影像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：