本发明专利技术公开了一种图像处理方法及装置、电子设备和存储介质，图像处理方法包括：采集待处理的目标图像；从底纹库选取与目标图像对应的目标底纹类，底纹库包括多个底纹类；判断目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件；若目标图像的图像质量和曝光强度符合预设条件，则根据图像质量和曝光强度得到更新系数，以及根据更新系数按比例更新目标底纹类，在目标图像的图像质量和曝光强度满足要求的情况下对底纹库进行浮动比例更新，使得底纹库能够更好地反映当前底纹的真实状态。图像处理装置和电子设备能够执行前述图像处理方法，存储介质存储有可由处理器执行以完成前述图像处理方法的计算机程序。处理方法的计算机程序。处理方法的计算机程序。
【技术实现步骤摘要】
图像处理方法及装置、电子设备和存储介质
[0001]本专利技术涉及指纹识别
，特别涉及一种图像处理方法及装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
[0002]随着指纹识别技术的不断发展，屏下指纹识别技术以其独有的优势受到广大制造商的青睐。其中，光学指纹识别技术逐渐成为市场上主流的指纹识别技术，广泛应用于日常上下班的打卡机、门禁，以及各大品牌的智能手机。例如，智能手机的屏下光学指纹识别，其原理是利用了光的折射和反射。当手指按压屏幕时，OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)屏幕发出光线将手指区域照亮，照亮手指区域的反射光线透过屏幕像素的间隙返回紧贴于屏下的光学指纹模组上。通过光学指纹模组依据反射光线采集指纹图像后，可以通过比对采集到的图像中的指纹与预先录入的指纹是否一致，从而实现指纹识别。
[0003]屏下光学指纹识别可以很大程度上避免环境光的干扰，在极端环境下拥有更好的稳定性。利用屏下光学指纹技术采集到的指纹图像如图1a所示，通常包含指纹信息和底纹信息两部分，要想获得指纹图像，必须先去除底纹信息。目前，多数屏下光学指纹识别的图像处理方法为预先采集不同状态的底纹，如图1b所示，用其中部分数据完成去底纹工作，例如用图1a所示的采集到的指纹图像减去图1b所示的预先采集的底纹，得到如图2a至图2c所示的不含底纹信息的指纹图像。然而，实际使用中，采集到的指纹图像中当前底纹信息会与预先采集的底纹不同，例如当前底纹信息因为采集方式、时间、光照强度以及传感器性能等因素的变化而改变，去除底纹时，残留底纹变得明显，在图2a至图2c中引入错误特征101至103，可以看到，随着上述影响因子的变化，错误特征101、102及103变得愈专利技术显，从而导致错误接受率(FAR，Failure Acceptance Rate)和错误拒绝率(FRR，Failure Rejection rate)增大，对识别率造成不良影响。
[0004]因此，期待一种改进的图像处理方法，以解决上述问题。
技术实现思路
[0005]鉴于上述问题，本专利技术的目的在于提供一种图像处理方法及装置、电子设备和存储介质，去除底纹的效果更好，并且能够在每次采集目标图像时实时更新底纹的相关信息。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供一种图像处理方法，包括：采集待处理的目标图像；从底纹库选取与所述目标图像对应的目标底纹类，所述底纹库包括多个底纹类；判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件；若所述目标图像的图像质量和所述曝光强度符合所述预设条件，则根据所述图像质量和所述曝光强度得到更新系数，以及根据所述更新系数按比例更新所述目标底纹类。
[0007]可选地，所述判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件的步骤之前还包括：根据所述目标底纹类得到目标底纹，以及根据所述目标图像和所述目标底纹
得到去底纹的图像。
[0008]可选地，所述根据所述目标底纹类得到目标底纹包括：计算所述目标底纹类中选定的底纹图像的均值以得到所述目标底纹。
[0009]可选地，所述基于所述目标底纹和所述目标图像得到去底纹图像包括：采用所述目标图像减去所述目标底纹，以得到所述去底纹图像。
[0010]可选地，所述采集待处理的目标图像的步骤之前还包括：采集多个底纹图像，并根据所述多个底纹图像的曝光强度将其分别归类至不同的底纹类中，以得到所述底纹库。
[0011]可选地，所述采集多个底纹图像包括：等间隔采集多种不同光强下的底纹图像，并将所述多种不同光强下的底纹图像分别归类至对应的多个不同底纹类中，以生成所述底纹库。
[0012]可选地，所述采集多个底纹图像包括：等间隔采集三种不同光强下的底纹图像，并将所述三种不同光强下的底纹图像分别归类至三个不同的底纹类中，以生成所述底纹库。
[0013]可选地，所述判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件包括：当所述图像质量大于第一预设值，且所述曝光强度位于第一预设范围内时，判断为所述目标图像的图像质量和曝光强度符合预设条件。
[0014]可选地，所述根据所述图像质量和所述曝光强度得到更新系数包括：所述更新系数包括上限和下限，对所述图像质量和所述曝光强度进行归一化处理后做差，再与所述更新系数的上限相乘，以得到中间系数；当所述中间系数小于或等于所述更新系数的下限时，所述更新系数的值为所述更新系数的下限，当所述中间系数的值位于所述更新系数的上下限之间时，所述更新系数的值为所述中间系数，当所述中间系数的值大于或等于所述更新系数的上限时，所述更新系数的值为所述更新系数的上限。
[0015]可选地，所述图像质量根据所述目标图像的信噪比、方向性、坏点中任意一者或者几者的组合确定。
[0016]可选地，所述对所述曝光强度进行归一化处理包括：计算所述曝光强度与信号目标值之差的绝对值与所述信号目标值之商；其中，所述信号目标值选自所述第一预设范围。
[0017]可选地，所述根据所述更新系数按比例更新所述目标底纹类包括：将所述目标图像和所述目标底纹类调整到相同光强；分别对所述目标图像和所述目标底纹类中的每一个底纹进行加权求和，所述目标图像的权重为更新系数a，所述目标底纹类中的每一个底纹的权重为1
‑
a。
[0018]根据本专利技术的另一方面，提供一种图像处理装置，包括：采集单元，配置为采集目标图像以及底纹信息；存储单元，配置为存储包括多个底纹类的底纹库；控制单元，配置为从所述底纹库中选取目标底纹类，判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件，若所述目标图像的图像质量和所述曝光强度符合所述预设条件，则根据所述图像质量和所述曝光强度得到更新系数，以及根据所述更新系数按比例更新所述目标底纹类。
[0019]可选地，所述控制单元还配置为根据所述目标底纹类得到目标底纹，以及根据所述目标图像和所述目标底纹得到去底纹的图像。
[0020]可选地，所述采集单元还配置为能够采集环境参数，所述环境参数包括曝光强度、温度中的任意一种或几种。
[0021]根据本专利技术的又一方面，提供一种电子设备，包括：存储介质，存储可被执行的程
序指令；处理器，调用所述程序指令能够执行如前所述的图像处理方法。
[0022]根据本专利技术的再一方面，提供一种计算机可读的存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序可由处理器执行以完成如前所述的图像处理方法。
[0023]本专利技术实施例的图像处理方法，在采集目标图像后判断其图像质量和曝光强度是否符合预设条件，只有在图像质量和曝光强度均满足要求时才对一个或多个底纹类进行浮动比例更新，即根据图像质量和曝光强度得到更新系数，根据更新系数按比例更新一个或多个目标底纹类，使得底纹库能更好的反映当前底纹的真实状态。
[0024]可选地，本专利技术实施例的图像处理方法采用等间隔计算多种不同曝光强度下的底纹的方法采集底纹，通过在每次采集目标图像时对底纹库中的一个或多本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法，包括：采集待处理的目标图像；从底纹库选取与所述目标图像对应的目标底纹类，所述底纹库包括多个底纹类；判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件；若所述目标图像的图像质量和所述曝光强度符合所述预设条件，则根据所述图像质量和所述曝光强度得到更新系数，以及根据所述更新系数按比例更新所述目标底纹类。2.根据权利要求1所述的图像处理方法，其中，所述判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件的步骤之前还包括：根据所述目标底纹类得到目标底纹，以及根据所述目标图像和所述目标底纹得到去底纹的图像。3.根据权利要求2所述的图像处理方法，所述根据所述目标底纹类得到目标底纹包括：计算所述目标底纹类中选定的底纹图像的均值以得到所述目标底纹。4.根据权利要求2所述的图像处理方法，所述基于所述目标底纹和所述目标图像得到去底纹图像包括：采用所述目标图像减去所述目标底纹，以得到所述去底纹图像。5.根据权利要求1所述的图像处理方法，其中，所述采集待处理的目标图像的步骤之前还包括：采集多个底纹图像，并根据所述多个底纹图像的曝光强度将其分别归类至不同的底纹类中，以得到所述底纹库。6.根据权利要求5所述的图像处理方法，其中，所述采集多个底纹图像包括：等间隔采集多种不同光强下的底纹图像，并将所述多种不同光强下的底纹图像分别归类至对应的多个不同底纹类中，以生成所述底纹库。7.根据权利要求6所述的图像处理方法，其中，所述采集多个底纹图像包括：等间隔采集三种不同光强下的底纹图像，并将所述三种不同光强下的底纹图像分别归类至三个不同的底纹类中，以生成所述底纹库。8.根据权利要求1所述的图像处理方法，所述判断所述目标图像的图像质量和曝光强度是否符合预设条件包括：当所述图像质量大于第一预设值，且所述曝光强度位于第一预设范围内时，判断为所述目标图像的图像质量和曝光强度符合预设条件。9.根据权利要求8所述的图像处理方法，所述根据所述图像质量和所述曝光强度得到更新系数包括：所述更新系数包括上限和下限，对所述图像质量和所述曝光强度进行归一化处理后做差，再与所述更新系数的上限相乘，以得到中间系数；当所述中...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘奇，田志民，王长海，冯继雄，李保梁，郑逢德，朱琳，
申请(专利权)人：北京集创北方科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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