PCB缺陷检测方法、系统和存储介质技术方案

本申请公开了一种PCB缺陷检测方法、系统和存储介质，涉及PCB制造技术，包括以下步骤：获取待检测PCB图像；从所述PCB图像中切割出电路印刷区域的图像，作为第一图像；将所述第一图像进行二值分割，得到第二图像；获取设计图，所述设计图对应于所述印刷区域的图像，所述设计图为二值图像；将所述第二图像和设计图每个对应像素点进行异或操作，得到第三图像；获取所述设计图的设计标准信息；根据所述设计标准信息，确定所述第三图像中的图案区域是否满足设计标准。设计标准。设计标准。

【技术实现步骤摘要】
PCB缺陷检测方法、系统和存储介质


[0001]本申请涉及PCB制造技术，特别是一种PCB缺陷检测方法、系统和存储介质。

技术介绍

[0002]PCB线路板是现在电子工业的基础部件之一，PCB线路板的好坏决定着电子设备的性能和质量。目前计算机视觉技术已经大规模应用在工业生产之中，使得PCB线路板的之间效率编得更高。
[0003]但是目前所采用的视觉算法多采用AI模型实现，AI模型的准确度与AI模型的训练程度相关，成本较高。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种PCB缺陷检测方法、系统和存储介质，以实现快速而低成本的质检。
[0005]一方面，本申请实施例提供了一种PCB缺陷检测方法，包括以下步骤：
[0006]获取待检测PCB图像；
[0007]从所述PCB图像中切割出电路印刷区域的图像，作为第一图像；
[0008]将所述第一图像进行二值分割，得到第二图像；
[0009]获取设计图，所述设计图对应于所述印刷区域的图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCB缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待检测的PCB图像；从所述PCB图像中切割出电路印刷区域的图像，作为第一图像；将所述第一图像进行二值分割，得到第二图像；获取设计图，所述设计图对应于所述印刷区域的图像，所述设计图为二值图像；将所述第二图像和设计图每个对应像素点进行异或操作，得到第三图像；获取所述设计图的设计标准信息；根据所述设计标准信息，确定所述第三图像中的图案区域是否满足设计标准。2.根据权利要求1所述的一种PCB缺陷检测方法，其特征在于，在获取所述设计图之后还包括以下步骤：根据所述第二图像的尺寸，对设计图进行拉伸，以使所述设计图的尺寸与所述第二图像吻合，所述设计图为二值矢量图。3.根据权利要求2所述的一种PCB缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述设计标准信息，确定所述第三图像中的图案区域是否满足设计标准，具体包括：逐个确定第三图像中每个由第一数值表示的像素点组成的区域是否满足设计标准；其中，针对每一个每个由第一数值表示的像素点组成的区域通过以下方式确定是否满足设计标准；确定区域所在的位置；判断该区域是否与印刷线路连接；若该区域与第一印刷线路连接，则基于设计标准信息，根据该区域与最接近的第二印刷新路之间的距离，判断是否满足设计标准；若该区域不与任何印刷线路连接，则基于设计标准信息，根据该区域与相邻的若干个印刷线路之间的距离，判断是否满足设计标准。4.根据权利要求3所述的一种PCB缺陷检测方法，其特征在于，所述距离根据拍摄PCB图像的标定参数和图像中的像素点位置确定。5.根据权利要求1所述的一种PCB缺陷检测方法，其特征在于，所述将...

【专利技术属性】
技术研发人员：韦宏征，
申请(专利权)人：佛山市国立光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：