一种检测系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种检测系统，包括用于放置待测工件的检测工位，以及用于照射所述检测工位的光源；还包括：校准机构，包括校准元件；当所述校准机构置于检测工位时，所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区；其中，所述暗区的所在位置用于确定所述光源照射方向的偏转角，基于所述偏转角能够使所述光源调整至目标照射方向。本实用新型专利技术能够快速地确定光源的偏转角，从而在光源的照射方向存在偏差时能够快捷高效地将其调整至目标照射方向，省去了反复调试的过程，有利于缩短检测时长以提高检测效率。此外，通过设置校准机构，能够降低对于光源产品组装精度的要求，因此能够降低光源成本，有利于实现面向市场的推广。有利于实现面向市场的推广。有利于实现面向市场的推广。

【技术实现步骤摘要】
一种检测系统


[0001]本技术涉及视觉检测
，尤其涉及一种检测系统。

技术介绍

[0002]光度立体法是一种从不同的方向照射物体，并利用静态相机进行成像的检测方法，每个图像的光源方向不同，而不同的光源方向能够形成不同的表面反射率，从而能够在每个图像中捕获不同的特征点。当将这些图像进行处理后，能够生成具有较高对比度的图像，以实现细微特征的检测。
[0003]由于光源照射方向的分布均匀性会影响到光度立体法检测的可靠性，因此光源的分布一致性成为光度立体法发挥检测价值的障碍；为了提高光度立体法检测的可靠性，在检测前需要对光源的照射方向进行反复调试，该过程耗费时间过长，导致基于光度立体法的检测系统组装缓慢，使得检测效率过低，难以满足生产需求。同时，对光源产品的组装精度提出了更高的要求，因而应用于光度立体法的光源产品成本较高，难以实现市场推广。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供一种检测系统，解决现有技术中基于光度立体法的检测系统组装缓慢，且对于光源产品组装精度要求较高，导致光度立体法的检测效率较低、成本居本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，包括用于放置待测工件的检测工位，以及用于照射所述检测工位的光源；其特征在于，还包括：校准机构，包括校准元件；当所述校准机构置于检测工位时，所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区；其中，所述暗区用于确定所述光源照射方向的偏转角，基于所述偏转角能够使所述光源调整至目标照射方向。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述校准机构还包括标定元件，所述标定元件具有与所述待测工件相同的表面特征；所述校准元件连接于所述标定元件。3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述标定元件设有定位槽，所述校准元件设于所述定位槽内。4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述定位槽的截面形状为倒锥形。5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述校准元件为圆锥体、棱锥体、圆台或棱台；所述校准元件的侧表面均匀分布有台阶结构。6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，还包括成像装置，所述成像装置对准于所述检测工位；当所述光源照...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹波，陈宏燊，王寅赫，
申请(专利权)人：东莞市沃德普自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：