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本实用新型公开了一种检测系统,包括用于放置待测工件的检测工位,以及用于照射所述检测工位的光源;还包括:校准机构,包括校准元件;当所述校准机构置于检测工位时,所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区;其中,所述暗区的所在位置用于确定所述光源...该专利属于东莞市沃德普自动化科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过东莞市沃德普自动化科技有限公司授权不得商用。
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