用于芯片制备的石英晶振快速检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，检测机构包括横板，横板的底部与底座的顶部固定连接，横板的外部设置有出料组件，横板的顶部开设有活动槽，横板的内部贯穿固定连接有检测座，横板的外表面固定连接有电子推杆，本实用新型专利技术涉及石英晶振技术领域。该用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，通过设置检测机构，电动推杆工作，使得推板推动石英晶振运动，从而使得石英晶振的针脚与检测座上的连接孔相连接，并对弹簧伸缩杆进行压缩，从而当检测完成后通过弹簧伸缩杆的弹力，使得石英晶振脱离与检测座的连接，以方便进行下料，通过上述结构的组合解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。体积较小导致检测较为不便的问题。体积较小导致检测较为不便的问题。

【技术实现步骤摘要】
用于芯片制备的石英晶振快速检测治具


[0001]本技术涉及石英晶振
，具体为用于芯片制备的石英晶振快速检测治具。

技术介绍

[0002]石英晶振也叫石英晶体谐振器，是现代电子和通讯技术中必不可少的频率选择和控制用核心元件；在军事和民用产品中都用广泛的应用，如通信、导航、石英钟表、彩电、计算机及终端设备、各种板卡等。
[0003]石英晶振在使用前需要对其进行检测，从而判断其是否能正常进行使用，但是石英晶振的体积较小，导致对其检测较为不便，容易影响石英晶振的使用，因此需要针对上述问题进行解决。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。
[0005]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，包括底座，所述底座的顶部设置有检测机构。
[0006]所述检测机构包括横板，所述横板的底部与底座的顶部固定连接，所述横板的外部设置有出料组件，所述横板的顶部开设有活动槽，所述横板的内部贯穿固定连接有检测座，所述横板的外表面固定连接有电子推杆，所述电子推杆的输出端与横板的内部贯穿活动连接，所述电子推杆的输出端与活动槽的内表面滑动连接，所述电子推杆的输出端固定连接有推板，所述推板的外表面与活动槽的内表面滑动连接，所述横板内部的左右两侧均开设有与活动槽相连通的滑槽，所述滑槽的内表面滑动连接有滑板，所述滑板的外表面与活动槽的内表面滑动连接，所述滑板的外表面固定连接有弹簧伸缩杆，所述弹簧伸缩杆的一端与滑槽的内壁固定连接。
[0007]优选的，所述出料组件包括滑架和对称设置的出料槽，两个所述出料槽分别开设在横板的内部且呈贯穿状态，所述滑架通过支杆与横板固定连接，所述出料槽的外部设置有出料架。
[0008]优选的，所述出料槽的内表面滑动连接有挡板，所述挡板的外表面固定连接有连杆。
[0009]优选的，所述滑架的外表面固定连接有伺服电机，所述伺服电机的输出端与滑架的内壁转动连接。
[0010]优选的，所述伺服电机的输出端通过联轴器固定连接有丝杆，所述丝杆与滑架的内壁转动连接。
[0011]优选的，所述丝杆外表面的左右两侧均贯穿螺纹连接有滑块，两个所述滑块的外表面均与滑架的内壁滑动连接，两个所述滑块的底部均与连杆的顶部固定连接。
[0012]有益效果
[0013]本技术提供了用于芯片制备的石英晶振快速检测治具。与现有技术相比具备以下有益效果：
[0014](1)、该用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，通过设置检测机构，通过供料设备将石英晶振放于活动槽内部，且使得石英晶振的针脚朝向检测座，随之电动推杆工作，其输出端伸出推动推板在活动槽内部滑动，使得推板推动石英晶振运动，从而使得石英晶振的针脚与检测座上的连接孔相连接，使得石英晶振通过检测座与外部检测电路相连通进行检测，且石英晶振在活动槽内部运动时推动滑板运动，并对弹簧伸缩杆进行压缩，从而当检测完成后通过弹簧伸缩杆的弹力，使得石英晶振脱离与检测座的连接，以方便进行下料，通过上述结构的组合解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。
[0015](2)、该用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，通过设置出料组件，当石英晶振检测完成后，电动推杆带动推板复位并脱离对弹簧伸缩杆的挤压，弹簧伸缩杆通过弹力和滑板推动石英晶振反向运动脱离与检测座的连接，并且处于两个挡板之间，伺服电机带动丝杆转动，使得两个滑块同步同向运动，并通过连杆带动两个隔板跟随运动，隔板一侧向活动槽内部滑动，从而将石英晶振通过另一侧的出料槽推入其相对应的出料架内部，从而进行出料，且通过两侧设置出料架，可对合格和不合格的石英晶振进行分别出料，通过上述结构的组合解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。
附图说明
[0016]图1为本技术的外部结构立体图；
[0017]图2为本技术横板的内部结构拆分图；
[0018]图3为本技术丝杆的外部结构立体图。
[0019]图中：1
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底座、2
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检测机构、21
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横板、22
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出料组件、221
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滑架、222
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出料槽、223
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支杆、224
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出料架、225
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挡板、226
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连杆、227
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伺服电机、228
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丝杆、229
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滑块、23
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活动槽、24
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检测座、25
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电子推杆、26
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推板、27
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滑槽、28
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滑板、29
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弹簧伸缩杆。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
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3，本技术提供一种技术方案：用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，包括底座1，底座1的顶部设置有检测机构2；检测机构2包括横板21，横板21的底部与底座1的顶部固定连接，横板21的外部设置有出料组件22，横板21的顶部开设有活动槽23，活动槽23的内部尺寸与石英晶振的外部尺寸相适配，横板21的内部贯穿固定连接有检测座24，检测座24与外部检测电路电性连接，且一侧开始与石英晶振针脚尺寸相适配的连接孔(图中未显示)，横板21的外表面固定连接有电子推杆25，电子推杆25与外部控制电路电性连接，电子推杆25的输出端与横板21的内部贯穿活动连接，电子推杆25的输出端与活动槽23的内表面滑动连接，电子推杆25的输出端固定连接有推板26，推板26的外表面与活动槽
23的内表面滑动连接，横板21内部的左右两侧均开设有与活动槽23相连通的滑槽27，滑槽27的内表面滑动连接有滑板28，石英晶振的针脚处于两侧滑板28之间，滑板28的外表面与活动槽23的内表面滑动连接，滑板28的外表面固定连接有弹簧伸缩杆29，弹簧伸缩杆29有弹簧和伸缩杆组成，弹簧伸缩杆29的一端与滑槽27的内壁固定连接，出料组件22包括滑架221和对称设置的出料槽222，出料槽222的内部尺寸大于石英晶振的外部尺寸，两个出料槽222分别开设在横板21的内部且呈贯穿状态，滑架221通过支杆223与横板21固定连接，出料槽222的外部设置有出料架224，出料架224的内部尺寸大于石英晶振的外部尺寸，且底部设置有收集装置(图中未显示)，出料槽222的内表面滑动连接有挡板225，挡板225的尺寸本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部设置有检测机构(2)；所述检测机构(2)包括横板(21)，所述横板(21)的底部与底座(1)的顶部固定连接，所述横板(21)的外部设置有出料组件(22)，所述横板(21)的顶部开设有活动槽(23)，所述横板(21)的内部贯穿固定连接有检测座(24)，所述横板(21)的外表面固定连接有电子推杆(25)，所述电子推杆(25)的输出端与横板(21)的内部贯穿活动连接，所述电子推杆(25)的输出端与活动槽(23)的内表面滑动连接，所述电子推杆(25)的输出端固定连接有推板(26)，所述推板(26)的外表面与活动槽(23)的内表面滑动连接，所述横板(21)内部的左右两侧均开设有与活动槽(23)相连通的滑槽(27)，所述滑槽(27)的内表面滑动连接有滑板(28)，所述滑板(28)的外表面与活动槽(23)的内表面滑动连接，所述滑板(28)的外表面固定连接有弹簧伸缩杆(29)，所述弹簧伸缩杆(29)的一端与滑槽(27)的内壁固定连接。2.根据权利要求1所述的用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，其特征在于：所述出料组件(22)包括滑架(221)和对称...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪霞磊，
申请(专利权)人：杭州萧山皓和科技有限公司，
类型：新型
国别省市：