镜片失高检测装置制造方法及图纸

技术编号:33720767 阅读:23 留言:0更新日期:2022-06-08 21:12
本实用新型专利技术涉及一种镜片失高检测装置。包括测量部件和测量工装,测量部件包括套筒、顶针、以及显示装置;测量工装包括固定安装在套筒外周的测量环,测量环的中部为上下相贯通的用于穿设顶针的顶针通孔,测量环底部端面设有与顶针通孔相通且与顶针相同轴的用于安装定位待测凹透镜的环形定位槽,环形定位槽的内周槽壁是与待测凹透镜的外周壁同轴配合用于对待测凹透镜的外周进行定位的第一定位面,且环形定位槽的上侧槽壁是用于对待测凹透镜上表面进行定位的第二定位面,顶针的下端部位于顶针通孔中并且能顶压在待测凹透镜的凹部最低点。本实用新型专利技术结构简单,可用于测量凹透镜的矢高,不仅测量效率高而且操作简单。不仅测量效率高而且操作简单。不仅测量效率高而且操作简单。

【技术实现步骤摘要】
镜片失高检测装置


[0001]本技术涉及镜片测量领域,特别为一种镜片失高检测装置。

技术介绍

[0002]目前在光学透镜的加工行业中对于凹镜片的矢高确认,都是以高度计测量为准的测量模式。但在以高度计测量的方法中有几个弊端对产品的质量与效率损失较为严重,难以实现批量化的生产运行,一是高度计是以底部的平面镜为底端标准的,但由于镜片每片之间的中心厚度都存在大大小小的差距,而使得每一枚镜片在测量时都需要对中心点再测量边缘得出数值,非常浪费时间。二是由于镜片测量时需要每一片都需对中心点归零,在对中心点时需多次测量取其中心最小值为中心点归零,在多次的测量找中心点的过程中易将镜片的外观划伤, 严重的直接使镜片报废。三是由于在镜片找中心点较难的条件下,此岗位的员工需进行不低于三天以上的培训期,其间需拿不同的镜片进行返复练习测量手法, 直至基本能找准中心点才能进行上岗,培训周期长。按以上的操作虽然可以将镜片的矢高测量出来,但此种操作方法不但对被测镜片的品质没保证,且非常不利于批量的生产配合,只能作为单体的抽检或巡检使用,在市场对产品的各项指标需求越来越高的趋势下,很多镜片都需加大比例或全检以达到合格的出货指标, 按原有的矢高检测方式已很难达到要求,需寻求设计出一种新的高效且能保证品质的方案解决这项技术难点。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于:克服以上缺点提供一种镜片失高检测装置,该装置结构简单,可用于测量凹透镜的矢高,不仅测量效率高而且操作简单。
[0004]本技术通过如下技术方案实现:一种镜片失高检测装置,其特征在于:包括测量部件和测量工装,所述测量部件包括沿竖直方向延伸的套筒、同轴活动连接在套筒中且能相对套筒上下活动的顶针、以及与顶针相连接用于显示顶针相对套筒的上下活动变化量的显示装置;
[0005]所述测量工装包括固定安装在套筒外周的测量环,所述测量环的中部为上下相贯通的用于穿设顶针的顶针通孔,所述测量环底部端面设有与顶针通孔相通且与顶针相同轴的用于安装定位待测凹透镜的环形定位槽,所述环形定位槽的内周槽壁是与待测凹透镜的外周壁同轴配合用于对待测凹透镜的外周进行定位的第一定位面,且环形定位槽的上侧槽壁是用于对待测凹透镜上表面进行定位的第二定位面,所述顶针的下端部位于顶针通孔中并且能顶压在待测凹透镜的凹部最低点。
[0006]为了便于拆装调整,所述测量工装还包括接头和螺帽,所述接头通过其中部通孔活动套置在套筒的外周,所述接头的上端外周壁设有外螺纹,并且接头的上端外周壁上设有多个分设在不同圆周位置且自接头的顶壁位置向下延伸到接头中部位置的槽体,各槽体由接头外周壁贯通至接头中部通孔中,所述螺帽螺纹锁紧连接在接头的上端外周壁的外螺纹上时能将接头上部与套筒上固定连接在一起,在接头的下端外周壁也设有外螺纹,所述
测量环螺纹连接在接头的下端外周壁上。
[0007]优选地,所述显示装置为表盘,所述表盘固定设置在套筒的上端或位于测量工装的旁侧并通过无线传输装置或有线传输装置与顶针相连接。
[0008]优选地,所述测量部件为千分表。
[0009]优选地,所述显示装置为显示屏,所述显示屏位于测量工装的旁侧并通过无线传输装置或有线传输装置与顶针相连接。
[0010]为了保证顶针与被测凹透镜中心点接触,所述顶针的下端部的两倍半径小于待测凹透镜凹部的半径。
[0011]较之前技术而言,本技术的有益效果为:
[0012]1.本技术一种镜片失高检测装置,该装置使用千分表作为测量部件,并通过测量环的环形定位槽能对镜片进行定位,结构简单,测量效率高且操作简单。
[0013]2.本技术一种镜片失高检测装置,其中千分表与测量工装为分体结构,便于进行拆装。
[0014]3.本技术一种镜片失高检测装置,该装置可根据镜片产品结构设计成不同的口径适用面广范。
[0015]4.本技术一种镜片失高检测装置,该装置需对所测量镜片制作一片矢高归零标准片,在使用前进行标准校对后即可投入批量使用,且在测量时只需 2

3秒即可测量一片镜片的矢高,大大提升测量效率。
附图说明
[0016]图1为本技术实施例一的拆分结构示意图;
[0017]图2为本技术实施例一的结构示意图一;
[0018]图3为本技术实施例一的结构示意图二;
[0019]图4为本技术实施例一的结构示意图三;
[0020]图5为本技术实施例二的结构示意图;
[0021]图6为本技术实施例三的结构示意图。
[0022]标号说明:1

测量部件、11

套管、12

顶针、13

显示装置、2

测量工装、21

测量环、211

顶针通孔、212

环形定位槽、22

接头、221

槽体、23

螺帽、 3

待测凹透镜、4

旋转指针、5

主指针、a

第一定位面、b

第二定位面。
具体实施方式
[0023]下面结合附图说明对本技术做详细说明:
[0024]实施例一:
[0025]如图1

4所示,一种镜片失高检测装置,主要包括测量部件1和测量工装2,所述测量部件1包括沿竖直方向延伸的套筒11、同轴活动连接在套筒11中且能相对套筒11上下活动的顶针12、以及与顶针12相连接用于显示顶针12相对套筒11的上下活动变化量的显示装置13;
[0026]所述测量工装2包括固定安装在套筒11外周的测量环21,所述测量环21 的中部为上下相贯通的用于穿设顶针12的顶针通孔211,所述测量环21底部端面设有与顶针通孔211
相通且与顶针12相同轴的用于安装定位待测凹透镜3的环形定位槽212,所述环形定位槽212的内周槽壁是与待测凹透镜3的外周壁同轴配合用于对待测凹透镜3的外周进行定位的第一定位面a,且环形定位槽212 的上侧槽壁是用于对待测凹透镜3上表面进行定位的第二定位面b,所述顶针12的下端部位于顶针通孔211中并且能顶压在待测凹透镜3的凹部最低点。
[0027]为了便于拆装调整,所述测量工装2还包括接头22和螺帽23,所述接头 22通过其中部通孔活动套置在套筒11的外周,所述接头22的上端外周壁设有外螺纹,并且接头22的上端外周壁上设有多个分设在不同圆周位置且自接头22 的顶壁位置向下延伸到接头22中部位置的槽体221,各槽体221由接头22外周壁贯通至接头22中部通孔中,所述螺帽23螺纹锁紧连接在接头22的上端外周壁的外螺纹上时能将接头22上部与套筒11上固定连接在一起,在接头22的下端外周壁也设有外螺纹,所述测量环21螺纹连接在接本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种镜片失高检测装置,其特征在于:包括测量部件(1)和测量工装(2),所述测量部件(1)包括沿竖直方向延伸的套筒(11)、同轴活动连接在套筒(11)中且能相对套筒(11)上下活动的顶针(12)、以及与顶针(12)相连接用于显示顶针(12)相对套筒(11)的上下活动变化量的显示装置(13);所述测量工装(2)包括固定安装在套筒(11)外周的测量环(21),所述测量环(21)的中部为上下相贯通的用于穿设顶针(12)的顶针通孔(211),所述测量环(21)底部端面设有与顶针通孔(211)相通且与顶针(12)相同轴的用于安装定位待测凹透镜(3)的环形定位槽(212),所述环形定位槽(212)的内周槽壁是与待测凹透镜(3)的外周壁同轴配合用于对待测凹透镜(3)的外周进行定位的第一定位面(a),且环形定位槽(212)的上侧槽壁是用于对待测凹透镜(3)上表面进行定位的第二定位面(b),所述顶针(12)的下端部位于顶针通孔(211)中并且能顶压在待测凹透镜(3)的凹部最低点。2.根据权利要求1所述的镜片失高检测装置,其特征在于:所述测量工装(2)还包括接头(22)和螺帽(23),所述接头(22)通过其中部通孔活动套置在套筒(11)的外...

【专利技术属性】
技术研发人员:占小云
申请(专利权)人:三明福特科光电有限公司
类型:新型
国别省市:

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