一种可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪制造技术

本发明专利技术公开的可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪，包括第一单色仪、第二单色仪和可编程衍射光栅；第一单色仪包括入射狭缝、准直镜Ⅰ、光栅Ⅰ和聚光镜Ⅰ，将通过入射狭缝入射光线经准直镜Ⅰ准直后，经过光栅Ⅰ分光后经聚光镜Ⅰ成像到所述可编程衍射光栅上；第二单色仪包括准直镜Ⅱ、光栅Ⅱ、聚光镜Ⅱ和位于出射狭缝处的探测器，接收可编程衍射光栅5的反射光线，反射光线经准直镜Ⅱ准直后经光栅Ⅱ衍射，然后经聚光镜Ⅱ汇聚光谱图像到所述探测器上。通过微型光机电器件替代机械模板扫描，避免机械故障、结构简单、容易实现、信噪比高、光谱成像质量好，广泛应用于环境分析、资源勘测、医疗分析检测、空间探测、气象、军事分析等方面。军事分析等方面。军事分析等方面。

【技术实现步骤摘要】
一种可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪


[0001]本公开属于光谱仪
，特别是涉及到一种可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪。

技术介绍

[0002]阿达玛变换光谱仪(HTIS)是基于平面波函数的一种变换，具有高信噪比、单探测器多光谱通道同时检测等优点，特别适用于微弱光谱测量及图像分析，在荧光、红外和拉曼光谱成像等方面都有重要应用。从数学上讲，阿达玛变换(HT)实际上是统计学中的称量设计在光学中的应用。n个物体，分组称量所得各物体的重量，比一个一个单独称出的重量要准确。因此，如采用n个阿达玛变换模板对试样信号进行调制，可得到n个调制的信号，用探测器检测每一个调制信号的量值，n次测量后则可以通过阿达玛变换把n次测得的调制信号还原成试样的信号。在常规测量中，探测器在每一时间间隔里只检测一个分辨单元的信号强度，而阿达玛变换多通道检测技术在同一时间里却可以同时检测多个分辨单元里组合信号的总强度。在相同的实验条件下，经阿达玛变换后，信号的均方差可减小(n+1)2/4n倍，信噪比可提高(n+1)/2n
1/2
倍。/>[0003]目前本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪，其特征在于，所述光谱仪包括：第一单色仪、第二单色仪和可编程衍射光栅5；其中，所述第一单色仪，包括入射狭缝、准直镜Ⅰ、光栅Ⅰ和聚光镜Ⅰ，用于将通过入射狭缝入射光线经准直镜Ⅰ准直后，再经过光栅Ⅰ分光后经聚光镜Ⅰ成像到所述可编程衍射光栅上；所述第二单色仪，包括准直镜Ⅱ、光栅Ⅱ、聚光镜Ⅱ和位于出射狭缝处的探测器，用于接收所述可编程衍射光栅5的反射光线，所述反射光线经所述准直镜Ⅱ准直后经所述光栅Ⅱ衍射，然后经聚光镜Ⅱ汇聚光谱图像到所述探测器上。2.根据权利要求1所述的可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪，其特征在于，所述可编程衍射光栅为微光机电元件，由多条固定或移动交替的带状板组成。3.根据权利要求1所述的可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪，其特征在于，所述带状板的形状相同，且相互平行。4.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李博，林冠宇，顾国超，李寒霜，黄煜，杨小虎，李占峰，张子辉，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：