一种用于检测发光总成的检测头及光谱仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于检测发光总成的检测头及光谱仪，通过设置盖体与外部发光总成相匹配，使得盖体可盖合在外部发光总成可配合形成暗箱，外部发光总成在该暗箱内发光；并进一步在盖体上开设若干检测孔，混光单元通过其上的光源输入端连接至对应的检测孔，且混光单元内设有混光腔以及用于连通外部光谱仪的光源输出端。检测时，将外部发光总成发出的光引导至混光单元的混光腔内，依靠混光腔的内壁面在混光腔内实现充分折射形成混合光，混合光则经光源输出端输出至外部光谱仪。保证光谱仪采集到的光学参数准确，解决了现有光谱仪采集现有发光总成的光学参数不准的问题。现有发光总成的光学参数不准的问题。现有发光总成的光学参数不准的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测发光总成的检测头及光谱仪


[0001]本技术属于发光总成检测
，尤其涉及一种用于检测发光总成的检测头及光谱仪。

技术介绍

[0002]总成检测设备是一种用于检测总成发光情况以及校准LED发光准确性的设备，目前市场检测设备对于检测总成类发光产品大多使用亮度计来检测产品光学性能，由于亮度计的成本过高，配合的设备体积太大，会给设计，人工，硬件成本带来巨大的提升，同时也影响了产量节拍。原有的检测方式花费巨大的人力物力及投入大量的维修保养时间，检测准确性低，浪费公司资金。
[0003]一颗完整的LED灯珠含有RGB三种小灯珠，发光颜色通过RGB的配比调和实现，通常总成壳体对接灯珠后会因为壳体质量不同，光的传导会出现差异，常规的数据采集头很难根据总成的样式进行很好的贴合采集，这样会使采集到的数据准确性存在问题。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题是提供一种用于检测发光总成的检测头及光谱仪，以解决现有光谱仪采集现有发光总成的光学参数不准的问题。
[0005]为解决上述问题，本技术的技术方案为：
[0006]本技术的一种用于检测发光总成的检测头，包括盖体和若干混光单元；
[0007]所述盖体与外部发光总成相匹配，用于盖合于外部发光总成上并形成一暗箱；所述盖体上设有若干与所述混光单元一一对应的检测孔；
[0008]所述混光单元上设有光源输入端和光源输出端，以及连通所述光源输入端和所述光源输出端的混光腔；所述光源输入端连接于所述检测孔，用于接收所述暗箱内外部发光总成发出的光；所述光源输出端与外部光谱仪连接；
[0009]工作状态下，外部发光总成发出的光经所述光源输入端输入至所述混光腔内，依靠所述混光腔的内壁面在所述混光腔内实现充分折射形成混合光，所述混合光经光源输出端输出至外部光谱仪。
[0010]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述混光单元包括本体，以及设于所述本体两端的输入柱和输出柱；
[0011]所述输入柱内设有输入腔，所述输入柱连接于所述检测孔，且所述输入腔连通于所述暗箱；
[0012]所述输出柱内设有输出腔，所述输出腔与外部光谱仪连接；
[0013]所述本体内设有所述混光腔，所述混光腔的两端分别与所述输入腔和所述输出腔连通。
[0014]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述输入腔、所述输出腔和所述混光腔均为圆柱形腔体，且所述输入腔、所述输出腔和所述混光腔同一轴线。
[0015]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述混合腔的长度与直径的比值为2～3。
[0016]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述混光腔的长度为20mm，直径为8mm。
[0017]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述本体、所述输入柱和所述输出柱的材质为铝6061阳极氧化黑。
[0018]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述混光腔的内壁面上设有 PTFE涂层，用于减少所述混光腔对光的吸收。
[0019]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述检测孔的位置与外部发光总成上的发光元件一一对应。
[0020]本技术的用于检测发光总成的检测头，所述盖体上设有用于与外部发光总成可拆卸连接的连接件。
[0021]本技术的一种光谱仪，包括上述任意一项所述的用于检测发光总成的检测头。
[0022]本技术由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：
[0023]本技术一实施例通过设置盖体与外部发光总成相匹配，使得盖体可盖合在外部发光总成可配合形成暗箱，外部发光总成在该暗箱内发光；并进一步在盖体上开设若干检测孔，混光单元通过其上的光源输入端连接至对应的检测孔，且混光单元内设有混光腔以及用于连通外部光谱仪的光源输出端。检测时，将外部发光总成发出的光引导至混光单元的混光腔内，依靠混光腔的内壁面在混光腔内实现充分折射形成混合光，混合光则经光源输出端输出至外部光谱仪。设置盖体形成暗箱可保证对外部发光总成发出的光的收集，混光腔的设置则可对光进行混合，保证光谱仪采集到的光学参数准确，解决了现有光谱仪采集现有发光总成的光学参数不准的问题。
附图说明
[0024]图1为本技术的用于检测发光总成的检测头的示意图；
[0025]图2为本技术的用于检测发光总成的检测头的光路示意图。
[0026]附图标记说明：1：盖体；2：本体；3：输入柱；4：输出柱；5：混光腔； 6：输入腔；7：输出腔；8：外部发光总成。
具体实施方式
[0027]以下结合附图和具体实施例对本技术提出的一种用于检测发光总成的检测头及光谱仪作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本技术的优点和特征将更清楚。
[0028]实施例一
[0029]参看图1和图2，在一个实施例中，一种用于检测发光总成8的检测头，包括盖体1和若干混光单元。
[0030]其中，盖体1与外部发光总成8相匹配，用于盖合于外部发光总成8上并形成一暗
箱。盖体1上设有若干与混光单元一一对应的检测孔。混光单元上设有光源输入端和光源输出端，以及连通光源输入端和光源输出端的混光腔5。光源输入端连接于检测孔，用于接收暗箱内外部发光总成8发出的光。光源输出端与外部光谱仪连接。
[0031]本实施例通过设置盖体1与外部发光总成8相匹配，使得盖体1可盖合在外部发光总成8可配合形成暗箱，外部发光总成8上的若干LED灯珠在该暗箱内发光；并进一步在盖体1上开设若干检测孔，混光单元通过其上的光源输入端连接至对应的检测孔，且混光单元内设有混光腔5以及用于连通外部光谱仪的光源输出端。检测时，将外部发光总成8发出的三色光引导至混光单元的混光腔5内，依靠混光腔5的内壁面在混光腔5内实现充分折射形成混合光，混合光则经光源输出端输出至外部光谱仪。设置盖体1形成暗箱，避免光的传导出现差异，同时也保证了混光单元对外部发光总成8的贴合采集，可保证对外部发光总成8发出的三色光的收集；混光腔5的设置则可对三色光进行混合，通过光路设计实现充分的折射，在进入光谱仪之前达到充分混光的效果，保证光谱仪采集到的光学参数准确，解决了现有光谱仪采集现有发光总成8的光学参数不准的问题。
[0032]下面对本实施例的用于检测发光总成8的检测头的具体结构进行进一步说明：
[0033]在本实施例中，混光单元具体可包括本体2，以及设于本体2两端的输入柱3和输出柱4。
[0034]其中，输入柱3内设有输入腔6，输入柱3连接于检测孔，且输入腔6 连通于暗箱。输出柱4内设有输出腔7，输出腔7与外部光谱仪连接。本体2 内则设有上述的混光腔5，混光腔5的两端分别与输入腔6和输出腔7连通。与该混光单元对应的LED灯珠发出的三色光经由输入腔6输入至混光腔5 进行混合，混合后通过输出腔7输出。
[0035]进一步地，输入腔6、输出腔7和混光腔5均为圆柱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测发光总成的检测头，其特征在于，包括盖体和若干混光单元；所述盖体与外部发光总成相匹配，用于盖合于外部发光总成上并形成一暗箱；所述盖体上设有若干与所述混光单元一一对应的检测孔；所述混光单元上设有光源输入端和光源输出端，以及连通所述光源输入端和所述光源输出端的混光腔；所述光源输入端连接于所述检测孔，用于接收所述暗箱内外部发光总成发出的光；所述光源输出端与外部光谱仪连接；工作状态下，外部发光总成发出的光经所述光源输入端输入至所述混光腔内，依靠所述混光腔的内壁面在所述混光腔内实现充分折射形成混合光，所述混合光经光源输出端输出至外部光谱仪。2.如权利要求1所述的用于检测发光总成的检测头，其特征在于，所述混光单元包括本体，以及设于所述本体两端的输入柱和输出柱；所述输入柱内设有输入腔，所述输入柱连接于所述检测孔，且所述输入腔连通于所述暗箱；所述输出柱内设有输出腔，所述输出腔与外部光谱仪连接；所述本体内设有所述混光腔，所述混光腔的两端分别与所述输入腔和所述输出腔连通。3.如权利要求2所述的用于检测发光总成的检...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐光明，秦昊圣，侯丽敏，
申请(专利权)人：上海光色智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：