【技术实现步骤摘要】
基于单自旋的量子钻石精密磁学测量系统
[0001]本专利技术涉及测量
，特别涉及一种基于单自旋的量子钻石精密磁学测量系统。
技术介绍
[0002]微纳米尺度磁学性质的研究在物理科学，材料科学，生命科学等重要领域有着广阔的应用前景，微纳米磁学表征的重要手段主要有透射电子显微镜(TEM)、磁力显微镜、扫描霍尔显微镜等方法。
[0003]然而，相关技术中的磁检测手段往往存在以下问题：
[0004](1)难以实现无损检测。具体地，利用TEM研究磁性材料的主要困难是样品通常浸没在物镜的高磁场中(一般为0.6
‑
1.2T)，这足以完全消除或严重扭曲大多数感兴趣的磁畴结构。磁力显微镜中，工作状态下针尖与样品间距一般维持在数十纳米，此时较强的磁相互作用会对样品造成一定的损伤；
[0005](2)环境要求严苛。具体地，现有磁成像技术对样品的成像环境有着严苛的要求，如透射电子显微镜中电子束需要在真空环境中加速从而保持准直性，所以基本都是在低温高真空的环境下工作，这难以检测生物材料或其它特殊材料的真...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于单自旋的量子钻石精密磁学测量系统，其特征在于，包括：光学共聚焦模块，所述光学共聚焦模块用于产生预设波长的激光，并照射到探针上，并收集过滤从上述探针反射的荧光；温控模块，所述温控模块用于维持系统的温度环境；微波模块，用于产生微波，并沿着波导准确辐射至样品，同时减少微波辐射至微波放大器上，以减少对微波放大器带来的损伤；以及扫描探头模块，所述扫描探头模块用于实现探针与物镜的对准，以及实现对样品的隔栅式扫描成像。2.根据权利要求1所述的基于单自旋的量子钻石精密磁学测量系统，其特征在于，所述光学共聚焦模块，包括：激发光路，用于激光驱动板通过输出电压信号激发光纤激光二极管发出预设波长的激光，经单模光纤将所述激光导至共聚焦光路，并经双色镜反射至高数值孔径物镜；收集光路，将探针中单电子自旋发出的红色荧光由所述物镜收集，经共聚焦光路，并由滤光片过滤掉其他波长的杂散光，将所述红色荧光传导至单光子计数器中。3.根据权利要求1所述的基于单自旋的量子钻石精密磁学测量系统，其特征在于，所述微波模块包括：波源，所述波源通过微波发射机发出预设功率和频率的微波；微波开关，所述微波开关用于控制所述微波的开通与关断；功率放大器，用于放大波源产生的微波的功率；辐射结构，用于传导微波场。4.根据权利要求1所述的基于单自旋的量子钻石精密磁学测量系统，其特征在于，所述温控模块包...
【专利技术属性】
技术研发人员：许克标，张伟杰，贺羽，
申请(专利权)人：国仪量子合肥技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。