固件检测方法及电子设备技术

本公开涉及一种固件检测方法及电子设备，该固件检测方法包括：电子设备的第一部件获取固件烧录于待测芯片后，所述待测芯片运行时对应的第一电压；电子设备的第二部件获取与所述待测芯片连接的所述电子设备的CPU芯片的第二电压；所述CPU芯片比较所述第一电压和所述第二电压，以判断所述固件是否烧录成功，其中，所述第一电压为所述待测芯片运行时实际检测到的CPU电压，所述第二电压为所述CPU芯片的标准CPU电压。本公开通过利用电子设备的部件在待测芯片运行时检测对应的CPU电压，进而将其与电子设备的CPU芯片的标准CPU电压进行比较，以确定待测芯片与CPU芯片是否匹配，从而可以确定固件是否成功烧录于待测芯片，检测方便、快捷，且能够保证电子设备的性能。且能够保证电子设备的性能。且能够保证电子设备的性能。

【技术实现步骤摘要】
固件检测方法及电子设备


[0001]本公开涉及计算机
，具体涉及一种固件检测方法及电子设备。

技术介绍

[0002]现有技术中，并未提供有效的检测固件是否烧录成功的方法，如果固件未烧录成功，可能会导致芯片性能变差，影响电子设备的运行；另外，部分固件进行烧录检测时，需要将芯片从主板上拆下，烧录检测操作繁琐。

技术实现思路

[0003]本公开实施例提供了一种固件检测方法及电子设备，能够方便、有效地进行固件烧录检测，保证对应的电子设备的性能。
[0004]根据本公开的方案之一，提供一种固件检测方法，包括：
[0005]电子设备的第一部件获取固件烧录于待测芯片后，所述待测芯片运行时对应的第一电压；
[0006]电子设备的第二部件获取与所述待测芯片连接的所述电子设备的CPU芯片的第二电压；
[0007]所述CPU芯片比较所述第一电压和所述第二电压，以判断所述固件是否烧录成功，其中，所述第一电压为所述待测芯片运行时实际检测到的CPU电压，所述第二电压为所述CPU芯片的标准CPU电压。
[0008本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种固件检测方法，包括：电子设备的第一部件获取固件烧录于待测芯片后，所述待测芯片运行时对应的第一电压；电子设备的第二部件获取与所述待测芯片连接的所述电子设备的CPU芯片的第二电压；所述CPU芯片比较所述第一电压和所述第二电压，以判断所述固件是否烧录成功，其中，所述第一电压为所述待测芯片运行时实际检测到的CPU电压，所述第二电压为所述CPU芯片的标准CPU电压。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述CPU芯片比较所述第一电压和所述第二电压，以判断所述固件是否烧录成功，包括：若所述第一电压与所述第二电压相同，确定所述固件烧录成功；若所述第一电压与所述第二电压不同，确定所述固件存在烧录错误。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：若所述固件存在烧录错误，通过所述电子设备的烧录模块重新烧录所述固件。4.根据权利要求3所述的方法，其中，通过所述电子设备的烧录模块重新烧录所述固件，包括：所述烧录模块调用所述第二部件存储的所述固件，以对所述固件进行重新烧录；或所述烧录模块调用所述第一部件存储的所述固件，以对所述固件进行重新烧录。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：英强，
申请(专利权)人：联想开天科技有限公司，
类型：发明
国别省市：