【技术实现步骤摘要】
一种高精密集成运放非线性度测试系统和测试方法
[0001]本专利技术涉及集成运算放大器测试领域，具体是一种高精密集成运放非线性度测试系统和测试方法。
技术介绍
[0002]随着现代电子信息技术发展，技术越来越先进，高精密集成运算放大器的非线性度精度越来越高，通用的测试方法和仪器仪表日益暴露出一些缺陷和不足，因此对高精密运算放大器的非线性度测试系统和测试方法提出了更高的要求。在传统的测试方法中，需要增加失调调整电位计，将初始失调电压调整为零，且电位计两端需要采用高精度的基准电压源，防止输出漂移，在调零的过程中操作繁琐且存在调零误差，在实际生产中不具有批量测试可操作性。在测试过程中需要利用开环增益的最大值和最小值进行计算，由于开环增益很大，状态不稳定，在开环增益计算时存在一定的误差。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是提供一种高精密集成运放非线性度测试系统，包括高精密信号电压源、辅助运放测试器件、待测器件、信号采集分析系统、上位机和若干开关；
[0004]所述测试系统工作在校准模式时，上位机控制...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：包括高精密信号电压源、辅助运放测试器件、所述待测器件、信号采集分析系统、上位机和若干开关。所述测试系统工作在校准模式时，上位机控制开关通断，使高精密信号电压源向辅助运放测试器件传输输入信号；所述测试系统工作在测试模式时，上位机控制开关通断，使高精密信号电压源向待测器件传输输入信号；所述上位机将输入信号参数传输至信号采集分析系统；所述信号采集分析系统分别采集辅助运放测试器件和待测器件的输出信号；所述信号采集分析系统根据辅助运放测试器件的输出信号和待测器件的输出信号拟合理想输入输出直线；所述信号采集分析系统根据输入信号参数、待测器件的输出信号和理想输入输出直线计算出被测器件的非线性度。2.根据权利要求1所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：高精密集成运放非线性度测试系统的电路拓扑如下所示：高精密信号电压源的输出端连接开关K1的3点位；开关K1的1点位与开关管K2的1点位短接，2点位与开关管K2的2点位短接；开关管K2的1点位连接待测器件的正向输入端，3点位串联电阻R2后连接辅助运放测试器件的正向输入端；开关管K2的3点位与开关K3的2点位短接；待测器件的负向输入端和输出端短接，连接成单位增益缓冲器；待测器件的输出端连接开关K3的1点位；开关K3的3点位串联电阻R1后连接辅助运放测试器件的负向输入端；开关K3的3点位串联电阻R1、电阻Rf1后连接信号采集分析系统；辅助运放测试器件的输出端连接信号采集分析系统。3.根据权利要求2所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：测试系统工作于双电源电压模式；开关管K2的3点位串联电阻R2、电阻Rf2后接地。4.根据权利要求2所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：测试系统工作于单电源电压模式；开关管K2的3点位串联电阻R2、电阻Rf2后接参考电压V
REF
＝1/2*V
S
；V
S
为单电源电压幅值。5.根据权利要求2所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：辅助运放测试器件的闭环增益G＝Rf2/(Rf2+R2)*(1+Rf1/R1)。6.根据权利要求2所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：电阻Rf1＝Rf2，电阻R1＝R2。7.根据权利要求2所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：所述测试系统工作在校准模式时，开关K1的3点位与2点位短接；开关K2的3点位与2点位短接；开关K3的3点位与2点位短接。8.根据权利要求2所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：所述测试系统工作在测试模式时，开关K1的3点位与1点位短接；开关K2的3点位与1点位短接；开关K3的3点位与1点位短接；待测器件的正向输入端和辅助运放测试器件的正向输入端短接。9.根据权利要求1所述的一种高精密集成运放非线性度测试系统，其特征在于：输入信
号高低电平分别为V
INL
、V
INH
。10.一种基于权利要求1至9任一项所述高精密集成运放非线性度测试系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1)开关K1的3点位与2点位短接，开关K2的3点位与2点位短接，开关K3的3点位与2点位短接，使测试系统工作在校准模式；2)辅助运放测试器件的输入端依次接入N个...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨法明，黄治华，朱坤峰，钟怡，刘玉奎，欧宏旗，杨永晖，陈开慧，
申请(专利权)人：重庆中科渝芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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