一种多参数平面模型建立方法技术

本发明专利技术公开了一种多参数平面模型建立方法，针对多个参数能够更有效的实现参数可视化，提高参数优化的直观性以及效率。所述技术方案要点是将N个参数两两配对，每个参数取K个采样点，根据采样点绘制方形散点图，再将交点进行映射，得到一级参数组合；再次将所得一级参数组合两两配对，根据一级参数组合绘制方形散点图，从而得到二级参数组合；重复多次所述配对组合后，仅剩两个级参数组合，根据两个级参数组合绘制平面方形散点图，建立所述多参数平面模型。本发明专利技术适用于参数优化技术领域。本发明专利技术适用于参数优化技术领域。本发明专利技术适用于参数优化技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种多参数平面模型建立方法


[0001]本专利技术涉及一种参数优化技术，具体是一种多参数平面模型建立方法。

技术介绍

[0002]结构参数优化在结构设计中，至关重要，无论是在工业领域还是在学术领域。结构参数优化对结构的强度、机构各运动关节的布局都起到了关键作用，其与设备的性能密切相关。
[0003]在结构参数优化的过程中，经常会使用到空间模型技术，空间模型技术可以通过图形的方式显示出参数与参数之间的关系，但其缺点在于空间模型技术仅仅只能表现出三个及三个以下参数之间的关系，在多于三个参数的场合不易处理。由此一种可以表示三个及三个以上参数的模型技术具有广泛的应用场景，可以极大提高了结构参数优化的可靠性以及参数的可视化，并且带来结构参数优化效率的提升。

技术实现思路

[0004]针对现有技术所存在的不足，本专利技术提出一种多参数平面模型建立方法，能够实现结构参数优化的可视化，显著地提升了结构参数优化的效率以及可靠性。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案实现的：
[0006]一种多参数平面模型建立方法，将N个参数经过处理，最终得到两个参数组合，以这两个参数组合绘制平面图，建立多参数平面模型；
[0007]所述N为大于等于二的整数。
[0008]进一步地，所述处理过程是将N个参数进行两两配对，每个参数取K个采样点，根据采样点绘制方形散点图，再对所述方形散点图的交点进行映射，得到一级参数组合；再次将所述一级参数组合两两配对，根据其采样点绘制方形散点图，再对所述方形散点图的交点进行映射，从而得到二级参数组合；重复多次所述配对组合，直到仅剩两个级参数组合，根据级参数组合绘制方形散点图，建立所述多参数平面模型。
[0009]进一步地，所述映射方法为，将交点向散点图的对角线映射。
[0010]进一步地，所述参数或参数组合为偶数时，能够全部进行两两配对，得到新的参数组合。
[0011]进一步地，所述参数或参数组合为奇数时，两两配对后，会剩下一个参数或参数组合，此参数或参数组合单独成为下一级参数组合，进行下一轮配对。
[0012]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
[0013]1、本专利技术提高了对多个参数进行图像绘制的可行性，使得变化趋势可视化。
[0014]2、处理过程简单，能有效的提高结构参数优化的效率及可靠性。
附图说明
[0015]图1为本专利技术流程图；
[0016]图2为参数个数为偶数的平面模型建立示意图；
[0017]图3为参数个数为奇数的平面模型建立示意图。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本专利技术作进一步说明。
[0019]请参阅图1，一种多参数平面模型建立方法，将N个参数经过处理，最终得到两个参数组合，以这两个参数组合绘制平面图，建立多参数平面模型；所述处理过程是将N个参数进行两两配对，每个参数取K个采样点，根据采样点绘制方形散点图，再对所述方形散点图的交点进行映射，得到一级参数组合；再次将所述一级参数组合两两配对，根据其采样点绘制方形散点图，再对所述方形散点图的交点进行映射，从而得到二级参数组合；重复多次所述配对组合，直到仅剩两个级参数组合，根据级参数组合绘制方形散点图，建立所述多参数平面模型。
[0020]具体地，以图2所示的参数个数为偶数的平面模型为例，所述实施例有4个参数：a、b、c、d，每个参数取2个采样点，记为a1，a2，b1，b2，c1，c2，d1，d2，取任意两个参数构成方形散点图，本例以a和b进行配对，c和d进行配对。方形的每个交点代表一个组合，这些交点被映射在一条对角线上，得到参数组合。a 与b配对后得到参数组合a1b1、a2b1、a1b2、a2b2；c与d配对后得到参数组合c1d1、c2d1、c1d2、c2d2。将这些参数组合也按照上述方法形成一个新的正方形散点图。
[0021]具体地，以图3所示的参数个数为奇数的平面模型为例，所述实施例有3个参数：a、b、c，每个参数取2个采样点，记为a1，a2，b1，b2，c1，c2，取任意两个参数构成方形散点图，本例以a和b进行配对，c被剩下。a与b配对后，映射至对角线得到一级参数组合a1b1、a2b1、a1b2、a2b2；另一组c1，c2升至一级参数组合，将一级参数组合也按照上述方法形成一个新的长方形散点图。
[0022]最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本专利技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本专利技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本专利技术各实施例技术方案的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多参数平面模型建立方法，其特点在于：将N个参数经过处理，最终得到两个参数组合，以这两个参数组合绘制平面图，建立多参数平面模型；所述N为大于等于二的整数。2.根据权利要求1所述的多参数平面模型技术，其特点在于：所述处理过程是将N个参数进行两两配对，每个参数取K个采样点，根据采样点绘制方形散点图，再对所述方形散点图的交点进行映射，得到一级参数组合；再次将所述一级参数组合两两配对，根据其采样点绘制方形散点图，再对所述方形散点图的交点进行映射，从而得到二级参数组合；重复多次所述配对组合，...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙鹏，李研彪，戴显永，杨奎，
申请(专利权)人：浙江工业大学，
类型：发明
国别省市：