一种动态调节光电检测参数的方法、系统及传感器技术方案

技术编号:33703334 阅读:20 留言:0更新日期:2022-06-06 08:20
本申请公开了一种动态调节光电检测参数的方法、系统及传感器,其中,所述方法包括:实时接收脉冲信号;基于脉冲信号,进行数据采集;基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰;当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值;本申请通过上述方案,能够实时的动态的调整比较器参考电平和迟滞,从而消除了LED光干扰对传感器的影响。感器的影响。感器的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种动态调节光电检测参数的方法、系统及传感器


[0001]本申请涉及光电传感器领域,尤其涉及一种动态调节光电检测参数的方法。

技术介绍

[0002]随着LED等的普及,光电传感器在LED环境下工作越来越多。而LED发出的光是可见光谱,当光电传感器使用红光光源的时候,他们两者的光谱是有重叠,所以对于红光光电传感器是无法从光谱上滤除LED干扰。光电传感器发出的脉宽一般在1

5us以内,也就是200K

1M带宽内,LED电源频率在几十K到100Khz左右,两者带宽有重叠,而且由于两个带宽相邻较近,很难做一个过渡带陡峭的滤波器把他们区分出来,因此LED会对光电传感器造成干扰。
[0003]从时域上来看,信号会叠加在干扰信号上,当信号处于波峰,这个时候信号电压是最高的,而当信号处于波谷,信号是最低的,整个最高最低的差值是取决于干扰信号的峰谷值。而从判断上来说,处于波峰上,有可能判断为有目标,处于波谷,则判为无目标,表现起来就是有目标和无目标来回判断,造成输出抖动。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是消除杂波干扰对光电传感器的检测的影响。
[0005]本申请的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种动态调节光电检测参数的方法,其中,包括:实时接收脉冲信号;基于脉冲信号,进行数据采集;基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰;当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值。
[0006]本申请上述方案,通过进行数据采集,判断是否存在杂波,在存在杂波时,进行动态调整判断阈值,来抵消掉光干扰信号的影响,从而提高了检测效率和精度,避免出现抖动。
[0007]可选的,所述的动态调节光电检测参数的方法,其中,基于脉冲信号,进行数据采集的步骤中,通过ADC进行数据采集。
[0008]本申请上述方案,通过ADC实现模拟信号到数字信号的转换,采集基波电平,保证数据采集的稳定性,也便于后续的判断比较。
[0009]可选的,所述的动态调节光电检测参数的方法,其中,基于脉冲信号,进行数据采集的方法包括:按照预定的采样周期和ADC采集速度,获取多个数据点。
[0010]本申请上述方案,能够按照预定的采样周期以及采集速度,来进行数据点的采集,提高采集的数据点的效率,和采集数据的准确性。
[0011]可选的,所述的动态调节光电检测参数的方法,其中,基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰的方法包括:
对采集的数据按照大小进行排序;获取排名靠前的预定个数的数据,计算平均值D1;基于平均值D1和直流偏置值D2,计算差值;当差值小于下限阈值时,判断没有杂波干扰;当差值大于上限阈值时,则判断存在杂波干扰;当差值在下限阈值和上限阈值之间,则维持上一次的判断结果。
[0012]本申请上述方案,通过计算采集的较大数据的平均值与直流偏置值比较,判断是否存在杂波,基于是否存在杂波,来判断是否需要调节判断阈值。
[0013]可选的,所述的动态调节光电检测参数的方法,其中,当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值的方法包括:获取偏离直流偏置的波峰Vdif;计算出电压高阈值Vth_high=Vdc+Vdif+Vhys,其中,Vdc为直流偏置电压,Vhys为迟滞电压。
[0014]本申请上述方案,通过获取偏离直流偏置的波峰,来得出电压高阈值,并且电压高阈值是基于偏离直流偏置的波峰,能够抵消光干扰信号的影响。
[0015]可选的,所述的动态调节光电检测参数的方法,其中,还包括:验证电压高阈值是否合理,合理则保留电压高阈值,不合理则关闭传感器判断告警。
[0016]本申请上述方案,通过验证电压高阈值是否合理,进一步的保证传感器的检测稳定性和精度。
[0017]可选的,所述的动态调节光电检测参数的方法,其中,还包括:获取DAC输出的最高电压值;当最高电压值大于Vth_high时,保留电压高阈值;当最高电压值小于Vth_high时,关闭传感器判断告警。
[0018]本申请上述方案,通过与DAC输出的最高电压值进行对比,来判断最高电压值是否合理,保证传感器的检测精度,避免光干扰信号过强,导致传感器检测结果不可信。
[0019]本申请另一方面,公开了一种动态调节光电检测参数的系统,其中,包括:处理器,用于接收和发射脉冲信号;放大器,用于增加脉冲信号幅度或功率;ADC,用于采集基波电平;DAC,用于输出参考比较电平;比较器,用于对采集的电平与比较电平进行比较;当比较器比较ADC采集的基波电平存在干扰时,通过DAC动态调整参考电平。
[0020]本申请上述方案,处理器负责发射脉冲信号,接收脉冲信号,控制DAC,比较器负责信号与参考电平的比较,ADC负责采集基波电平,DAC负责输出参考比较电平,通过进行数据采集,判断是否存在杂波,在存在杂波时,进行动态调整判断阈值,来抵消掉光干扰信号的影响,从而提高了检测效率和精度,避免出现抖动。
[0021]可选的,所述的动态调节光电检测参数的系统,其中,当处理器输出的最高电压阈值大于DAC输出的最高电压值时,处理器发送调制信号,关闭传感器判断告警。
[0022]本申请上述方案,通过与DAC输出的最高电压值进行对比,来判断最高电压值是否合理,保证传感器的检测精度,避免光干扰信号过强,导致传感器检测结果不可信。
[0023]本申请另一方面,公开了一种传感器,其中,包括前述方案所述的动态调节光电检测参数的系统。
[0024]综上所述,本申请公开了一种动态调节光电检测参数的方法、系统及传感器,其中,所述方法包括:实时接收脉冲信号;基于脉冲信号,进行数据采集;基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰;当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值;本申请通过上述方案,能够实时的动态的调整比较器参考电平和迟滞,从而消除了LED光干扰对传感器的影响。
附图说明
[0025]图1是本申请所述动态调节光电检测参数的方法的步骤流程图。
[0026]图2是本申请所述动态调节光电检测参数的方法的较佳实施例,回波信号的时域流程图。
[0027]图3是本申请所述动态调节光电检测参数的系统的结构示意图。
具体实施方式
[0028]以下结合附图对本申请作进一步详细说明。
[0029]本申请实施例,为了解决光电传感器的光信号干扰,具体公开了一种动态调节光电检测参数的方法,参阅图1,为所述方法的步骤流程图,其中,包括:S1.实时接收脉冲信号;S2.基于脉冲信号,进行数据采集;S3.基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰;S4.当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值。
[0030]本申请实施例,传感器发送检测信号,实时接收返回的脉冲信号,需要判断是否存在杂波干扰,在没有杂波干扰时,普通的脉冲调制一般采用固定的比较电平,当回波信号超出阈值,比较就会输出一个信号,判断是否有目标存在,而在存在杂波干扰时,回波信号会叠加到干扰信号上,那么判断回波本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种动态调节光电检测参数的方法,其特征在于,包括:实时接收脉冲信号;基于脉冲信号,进行数据采集;基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰;当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值。2.根据权利要求1所述的动态调节光电检测参数的方法,其特征在于,基于脉冲信号,进行数据采集的步骤中,通过ADC进行数据采集。3.根据权利要求2所述的动态调节光电检测参数的方法,其特征在于,基于脉冲信号,进行数据采集的方法包括:按照预定的采样周期和ADC采集速度,获取多个数据点。4.根据权利要求3所述的动态调节光电检测参数的方法,其特征在于,基于采集的数据,判断是否存在杂波干扰的方法包括:对采集的数据按照大小进行排序;获取排名靠前的预定个数的数据,计算平均值D1;基于平均值D1和直流偏置值D2,计算差值;当差值小于下限阈值时,判断没有杂波干扰;当差值大于上限阈值时,则判断存在杂波干扰;当差值在下限阈值和上限阈值之间,则维持上一次的判断结果。5.根据权利要求3所述的动态调节光电检测参数的方法,其特征在于,当存在杂波干扰时,基于杂波信号,调节判断阈值的方法包括:获取偏离直流偏置的波峰Vdif;计算出电压高阈值Vth_high=Vd...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶立平周志力唐可信
申请(专利权)人:深圳市志奋领科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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