检测方法、检测装置、检测系统制造方法及图纸

提供一种检测方法、检测装置、检测系统。检测热敏电阻(TH)的不良的检测方法包括：对热敏电阻(TH)经时地提供负荷的步骤(S101)；在对热敏电阻(TH)提供所述负荷的时间中的至少第1时间及第2时间，测定热敏电阻(TH)的物性值的步骤(S102、S104)；以及根据表示在第1时间测定的热敏电阻的物性值的第1数据和表示在第2时间测定的热敏电阻(TH)的物性值的第2数据，检测热敏电阻(TH)的不良的步骤(S108)。热敏电阻(TH)的不良的步骤(S108)。热敏电阻(TH)的不良的步骤(S108)。

【技术实现步骤摘要】
检测方法、检测装置、检测系统


[0001]本公开涉及检测热敏电阻的不良(failure)的技术。

技术介绍

[0002]以往，提出检测热敏电阻的不良的各种技术。例如，在日本特开2000
‑
171309号公报中记载了如下技术：在将温度输出特性相互不同的第一热敏电阻以及第二热敏电阻收容到单一封装体后，测定两个热敏电阻的电压值，使用测定的电压和预定的温度映射，判定热敏电阻的不良的可能性。
[0003]在专利文献1记载的技术中，判定与第一热敏电阻的电压值VA对应的温度值TA、和与第二热敏电阻的电压值VB对应的温度值TB是否大致相等，在否定判定的情况下，进行异常处理。

技术实现思路

[0004]以往，如专利文献1记载的技术，使用一定的试验环境中的热敏电阻的电阻值，进行是否良好的判定。即，如果在施加电流时热敏电阻的电阻值正常，则判定为良品。因此，在判定虽然基本上正常地动作但是瞬间性地成为异常的电阻值的热敏电阻是否良好的情况下，在以往的试验中，有时无法检测为不良。
[0005]本公开的目的在于提供一种即便是瞬本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测热敏电阻的不良的检测方法，包括：对所述热敏电阻经时地提供负荷的步骤；在对所述热敏电阻提供所述负荷的时间中的至少第1时间及第2时间，测定所述热敏电阻的物性值的步骤；以及根据表示在所述第1时间测定的所述热敏电阻的所述物性值的第1数据和表示在所述第2时间测定的所述热敏电阻的所述物性值的第2数据，检测所述热敏电阻的不良的步骤。2.根据权利要求1所述的检测方法，其中，检测所述热敏电阻的不良的步骤包括：根据所述第1数据表示的所述物性值与所述第2数据表示的所述物性值的差分、和所述第1时间与所述第2时间的差分，计算每单位时间的所述物性值的变化量的步骤；以及通过比较每单位时间的所述物性值的变化量和基准值，检测所述热敏电阻的不良的步骤。3.根据权利要求2所述的检测方法，其中，检测所述热敏电阻的不良的步骤包括：通过比较所述物性值的变化量的移动平均值和基准值，检测所述热敏电阻的不良的步骤。4.根据权利要求2～3中的任意一项所述的检测方法，其中，对所述热敏电阻提供所述负荷的步骤包括：使所述热敏电阻的温度变化的步骤。5.根据权利要求2～4中的任意一项所述的检测方法，其中，所述物性值是所述热敏电阻的电阻值。6.根据权利要求5所述的检测方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：内藤公计，川崎永士，山本康介，
申请(专利权)人：泰星能源解决方案有限公司，
类型：发明
国别省市：