一种晶片颜色检测设备制造技术

本发明专利技术公开的一种晶片颜色检测设备，包括：依次设置在检测设备顶部的上料模组、检测模组与下料模组，上料模组包括上料输送机构、补料输送机构与上料抓取机构；上料输送机构上设置有上料缓存机构，缓存推动机构能够将上料推送链上的晶片箱推入缓存腔室内进行缓存；检测模组包括检测支撑架以及设置在检测支撑架一侧的至少一个视觉检测机构，视觉检测机构能够对晶片进行拍照检测，检测模组还包括标记机构，当视觉检测机构检测到晶片缺陷时，通过标记机构在晶片表面进行标记，以便于对晶片进行分类；下料输送机构一侧设置有箱体输送链，箱体输送链上设置有多个储存箱，通过推动机械手将晶片箱推动至储存箱内。将晶片箱推动至储存箱内。将晶片箱推动至储存箱内。

【技术实现步骤摘要】
一种晶片颜色检测设备


[0001]本专利技术涉及晶片颜色检测领域，更具体的，涉及一种晶片颜色检测设备。

技术介绍

[0002]随着科技的进步，越来越多电子产品问世，且亦逐渐有朝小型化设计发展的趋势。而电子产品得以小型化，主要在于其内部电路大量使用半导体材料所制成的芯片、二极管、晶体管或是发光二极管等小型化的电子元件，而可大幅减低整体电路的体积，进而节省设置的空间以达到小型化的目地。
[0003]众所皆知的是，半导体电子材料在制作时，主要是于晶片制作完成后，检察晶片中各晶粒是否合乎出厂或布设的标准，并于检测完成后，筛选出晶片中合格的晶粒，以利后续的封装作业。
[0004]传统的晶片颜色检测设备均是通过对晶片进行拍照，且无法将晶片进行自动产品合格分类，此外在对晶片进行上料及下料过程中，无法对晶片进行物料缓存，需要通过人工进行上料或下料，浪费人力物力。

技术实现思路

[0005]为了解决上述至少一个技术问题，本专利技术提出了一种晶片颜色检测设备。
[0006]本专利技术第一方面提供了一种晶片颜色检测设备，包括：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶片颜色检测设备，包括：依次设置在检测设备顶部的上料模组、检测模组与下料模组，其特征在于，所述上料模组包括上料输送机构、补料输送机构与上料抓取机构；所述上料输送机构上设置有上料缓存机构，所述上料输送机构上设置有上料输送链，所述上料输送链上设置有多个晶片箱，所述上料缓存机构内部设置有缓存腔室，所述上料缓存机构底部设置有缓存推动机构，所述缓存推动机构能够将上料推送链上的晶片箱推入缓存腔室内进行缓存；所述上料抓取机构能够沿水平方向移动，所述上料抓取机构底部铰接有抓取机械手，所述抓取机械手能够旋转，所述抓取机械手能够沿竖直方向移动，所述抓取机械手一侧设置有真空吸附板；所述检测模组包括检测支撑架以及设置在检测支撑架一侧的至少一个视觉检测机构，所述检测支撑架下方设置有至少一个检测输送链，所述检测输送链与所述视觉检测机构一一对应，所述检测输送链配合设置有治具平台，所述治具平台能够沿所述检测输送链水平滑动；所述抓取机械手能够将晶片箱内的晶片抓取放置在所述治具平台上，所述视觉检测机构能够对晶片进行拍照检测，所述检测模组还包括标记机构，当所述视觉检测机构检测到所述晶片缺陷时，通过所述标记机构在所述晶片表面进行标记，以便于对晶片进行分类；所述下料模组包括下料抓取机构与下料输送机构，所述下料抓取机构将检测完成后的晶片抓取移动至下料输送机构上的晶片箱内，所述下料输送机构上方设置有下料推动机构，所述下料推动机构端部设置有推动机械手；所述下料输送机构一侧设置有箱体输送链，所述箱体输送链上设置有多个储存箱，通过推动机械手将晶片箱推动至储存箱内。2.根据权利要求1所述的一种晶片颜色检测设备，其特征在于，所述上料缓存机构与所述上料输送机构相互垂直设置，所述上料输送链通过电机带动旋转，所述上料输送链能够带动所述晶片箱水平移动，当晶片箱移动至上料缓存机构正下方时，通过缓存推动机构将晶片箱推动至缓存腔体内部，所述缓存腔体内部的晶片箱层叠设置，所述上料输送链一端端部设置有上料阻挡件，所述上料缓存机构顶部设置有缓存阻挡件。3.根据权利要求1所述的一种晶片颜色检测设备，其特征在于，所述上料输送机构一侧设置有补料输送机构，所述上料输送机构与所述补料输送机构平行设...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦应化，刘杰杰，刘传磊，
申请(专利权)人：苏州鼎纳自动化技术有限公司，
类型：发明
国别省市：