一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本申请涉及图像处理技术领域，提供一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置。该方法包括：将采集的MiniLED背光面板图像划分为多个LED图像，每个LED图像包含一个LED颗粒；按照缺陷类型，采用与缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态，从而可以快速、准确的检测出MiniLED背光面板中LRD颗粒的缺陷。缺陷。缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置


[0001]本申请涉及图像处理
，特别涉及一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置。

技术介绍

[0002]目前，主要采用显微镜和人工目检的方式对MiniLED背光面板进行缺陷状态检测，由于MiniLED背光面板具有LED颗粒尺寸小(50*100微米)、数量多(20万颗/片)的特点，导致人工检测LED颗粒缺陷的效率较低。于是，部分厂家采用点亮MiniLED背光检测LED颗粒的缺陷状态，但该方法只能检测出与发光效果相关的面板缺陷状态(比如极反、反白等)，对于与发光效果无关的缺陷状态则无法检测，影响了MiniLED背光面板的出货良品率。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置，用以快速、准确的检测MiniLED背光面板中LED颗粒的缺陷状态。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种MiniLED背光面板缺陷检测方法，包括：
[0005]将采集的MiniLED背光面板图像划分为多个LED图像，每个LED图像包含一个LE本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MiniLED背光面板缺陷检测方法，其特征在于，包括：将采集的MiniLED背光面板图像划分为多个LED图像，每个LED图像包含一个LED颗粒；按照缺陷类型，采用与所述缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷类型包括位置缺陷，所述按照缺陷类型，采用与所述缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态，包括：针对任一LED图像，根据设定的灰度匹配方法权重和轮廓匹配方法权重，计算所述LED图像包含的LED颗粒的模板图像与所述LED图像中各子图像的匹配度，并将最大匹配度对应的子图像确定为所述模板图像对应的匹配图像；根据各LED图像包含的LED颗粒的模板图像以及对应的匹配图像，确定各LED图像中包含的LED颗粒是否存在位置缺陷。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述位置缺陷包括缺件和错件缺陷，所述根据各LED图像包含的LED颗粒的模板图像以及对应的匹配图像，确定各LED图像中包含的LED颗粒是否存在位置缺陷，包括：针对任一LED图像，确定所述LED图像包含的LED颗粒的模板图像与对应的匹配图像的匹配分值；若所述匹配分值小于第一阈值，则确定所述LED图像中包含的LED颗粒存在缺件和错件缺陷；和/或所述位置缺陷包括偏位缺陷，所述根据各LED图像包含的LED颗粒的模板图像以及对应的匹配图像，确定各LED图像中包含的LED颗粒是否存在位置缺陷，包括：针对任一LED图像，根据所述LED图像包含的LED颗粒的模板图像以及对应的匹配图像，确定所述LED图像中包含的LED颗粒的图像坐标；将所述LED颗粒的图像坐标转换为物理坐标，并确定所述LED颗粒的物理坐标与所述MiniLED背光面板中相应LED颗粒的标准物理坐标的差值；若所述差值大于第二阈值，则确定所述LED图像中包含的LED颗粒存在偏位缺陷。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷类型包括破损缺陷，所述按照缺陷类型，采用与所述缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态，包括：针对任一LED图像，确定所述LED图像中包含的LED颗粒的封闭边缘区域与相应封闭边缘区域外接矩形的面积比值；若所述面积比值小于第三阈值，则确定所述LED图像中包含的LED颗粒存在破损缺陷。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷类型包括极反缺陷，所述按照缺陷类型，采用与所述缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态，包括：根据各LED图像中包含的LED颗粒的极性标志的分布方式，确定各LED图像包含的LED颗粒在与所述分布方式相匹配的方向上的投影值，其中，各LED图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：修浩然，王嘉伟，
申请(专利权)人：合肥欣奕华智能机器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：