一种防拆检测方法及电路技术

本发明专利技术涉及芯片安全设计技术领域，公开了一种防拆检测方法及电路，包括检测配置单元、边沿检测单元和电平检测单元。检测配置单元可配置检测开关、检测模式、滤波次数、采样频率；边沿检测单元实现上升沿和下降沿检测电路：待检测信号经过二选一选择器和D触发器生成上升沿检测事件，待检测信号经过反相器、二选一选择器和D触发器生成下降沿检测事件；电平检测单元由计数单元和对比单元构成：计数单元1计数到配置采样频率的计数值后由对比单元1产生脉冲后作用到计数单元2，同时计数单元2依据检测电平计数到滤波次数配置值后由对比单元2产生有效检测事件。本发明专利技术提供的防拆检测方法解决了检测方式可配置性低，边沿检测误触发的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种防拆检测方法及电路


[0001]本专利技术涉及芯片安全设计
，特别涉及一种用于芯片中的防拆检测方法及电路。

技术介绍

[0002]当前社会正处于数字时代的蓬勃发展期，随着近几年物联网技术的高速发展，电子终端设备已经应用到社会发展的方方面面，越来越多的人开始重视电子终端设备的安全问题，对于电子终端设备中芯片的安全需求也越来越高。
[0003]防拆检测作为终端设备芯片安全设计的一项基本功能，可以有效防止无关人员非法拆机、破坏等操作，保护芯片和用户的重要信息的安全。本专利技术公开一种防拆检测方法及电路，具有配置灵活、便于扩展、适用广泛的特点。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种防拆检测方法及电路，适用于芯片中的防拆电路设计，可以灵活配置边沿和电平的检测模式，边沿检测模式采用无时钟的设计方法可适用于芯片的低功耗设计场景，即便在时钟关闭时仍然可以进行防拆检测；电平检测模式可灵活配置检测的采样频率和滤波次数，适用不同需求的应用场景。
[0005]本专利技术提出了一种防拆检测方法及电路，电路描述如下：包括：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种防拆检测的方法，其特征在于，支持软件配置上升沿、下降沿、高电平、低电平的检测模式，对于上升沿、下降沿检测模式无需使用时钟，仅使用反相器、二选一选择器和D触发器的组合逻辑完成，引入二选一选择器避免了边沿检测开启瞬间产生的误触发；对于高电平、低电平检测模式，支持采样频率和滤波次数可灵活配置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测模式支持上升沿、下降沿、高电平、低电平的检测模式。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述上升沿检测模式仅使用一个二选一选择器(101)和一个D触发器(102)的组合逻辑进行检测，不需要其它时钟。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述下降沿检测模式仅使用一个反相器(103)、一个二选一选择器(104)和一个D触发器(105)的组合逻辑进行检测，不需要其它时钟。5.根据权利要求2、3所述的方法，其特征在于，所述上升沿、下降沿检测模式都包含一个二选一选择器，检测开关断开时选择器始终输出高电平，这样避免在检测开关开启瞬间产生误触发。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述高电平、低电平检测模式可以通过灵活配置电平采样频率和电平滤波次数完成电平检测过程。7.一种防拆检测电路，用于实现权利要求1所述的防拆检测方法，其特征在于，包括：检测配置单元、边沿检测单元和电平检测单元；其中：检测配置单元：配置检测开关、检测模式、电平...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟得光，顾庆，赵文广，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：