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本发明涉及芯片安全设计技术领域，公开了一种防拆检测方法及电路，包括检测配置单元、边沿检测单元和电平检测单元。检测配置单元可配置检测开关、检测模式、滤波次数、采样频率；边沿检测单元实现上升沿和下降沿检测电路：待检测信号经过二选一选择器和D触发...
该专利属于北京中电华大电子设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中电华大电子设计有限责任公司授权不得商用。

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