一种高精度区间电流检测电路制造技术

本申请包括一种高精度区间电流检测电路，具体涉及电流检测技术领域。在该电路中，待测MOS管的漏极与第一比较器的反相输入端连接；待测MOS管的漏极与第二比较器的反相输入端连接；第一检测开关管的漏极与第一比较器的同相输入端连接；第二检测开关管的漏极与第二比较器的同相输入端连接；待测MOS管的栅极与第一检测开关管的栅极连接；待测MOS管的栅极与第二检测开关管的栅极连接；第一检测开关管的漏极通过第一检测电流镜的第一支路接地；第二检测开关管的漏极通过第二检测电流镜的第一支路接地。通过上述电路结构，更加精确地检测出了电流所处区间，从而对该各个区间内的电流进行精确控制。行精确控制。行精确控制。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度区间电流检测电路


[0001]本专利技术涉及电流检测
，具体涉及一种高精度区间电流检测电路。

技术介绍

[0002]现有技术的电路结构中通常需要对电流进行检测，并根据电流的检测结果生成控制信号以对电路进行控制，从而保证电路的稳定运行。
[0003]集成电路芯片内部常用的电流检测装置如图1所示，Mp0是功率管，负责输出电流，Ms0采样管，k0为Mp0与Ms0的宽度比，且k0>>1，I
o0
和V
o0
分别是输出电流和输出电压，I
s0
和V
s0
分别是采样电流和采样电压。在电流检测过程中，先对输出电流进行采样，得到的采样电流为i
s0
，然后再让采样电流i
s
流进采样电阻rs，产生一个采样电压V
s0
，再将采样电压V
s0
输入到比较器的同相输入端，和与比较器的反相输入端相连的基准电压V
ref0
进行比较，比较器的输出电压为V
c0...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度区间电流检测电路，其特征在于，所述电路包括待测MOS管、第一检测开关管、第二检测开关管、第一比较器、第一检测电流镜、第二比较器、第二检测电流镜、第一参考电流源以及第二参考电流源；所述待测MOS管的源极与电源输入端连接；所述第一检测开关管的源极与电源输入端连接；所述待测MOS管的漏极与第一比较器的反相输入端连接；所述第二检测开关管的源极与电源输入端连接；所述待测MOS管的漏极与所述第二比较器的反相输入端连接；所述第一检测开关管的漏极与所述第一比较器的同相输入端连接；所述第二检测开关管的漏极与所述第二比较器的同相输入端连接；所述待测MOS管的栅极与所述第一检测开关管的栅极连接；所述待测MOS管的栅极与所述第二检测开关管的栅极连接；所述第一检测开关管的漏极通过所述第一检测电流镜的第一支路接地；所述第二检测开关管的漏极通过所述第二检测电流镜的第一支路接地；所述电源输入端依次通过所述第一参考电流源以及所述第一检测电流镜的第二支路接地；所述电源输入端依次通过所述第二参考电流源以及所述第二检测电流镜的第二支路接地。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第一检测电流镜的第一支路包括第一开关管以及第三开关管；所述第一开关管的漏极与所述第三开关管的源极连接；所述第一检测电流镜的第二支路包括第二开关管以及第四开关管；所述第二开关管的漏极与所述第四开关管的源极连接。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述电源输入端依次通过所述第一参考电流源以及所述第一检测电流镜的第二支路接地，包括：所述第二开关管的源极接地，以便所述电源输入端依次通过所述第一参考电流源、第四开关管以及第二开关管接地；所述第一检测开关管通过所述第一检测电流镜的第一支路接地，包括：所述第一检测开关管的漏极连接至所述第三开关管的漏极，且所述第一开关管的源极接地，以便所述第一检测开关管的漏极依次通过所述第三开关管以及所述第一开关管接地。4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第二检测电流镜的第一支路包括第六开关管与第八开关管；所述第六开关管的漏极与所述第八开关管的源极连接；所述第二检测电流镜的...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：苏州贝克微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：