一种磁芯多匝磁性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种磁芯多匝磁性能测试装置，包括测试底座、多匝测试插头和串联引线，所述多匝测试插头和串联引线均分别固定设置在测试底座的侧表面，所述测试底座的上表面固定设置有底座插座，所述串联引线的一端固定设置有引线插座。本实用新型专利技术首先将要测试的磁芯放到多匝测试插头上，根据测试要求选择具体要用几组多匝测试插头，然后把要用到的多匝测试插头插上，再把测试底座外侧各组多匝测试插头的串联引线串接起来后连接到测试仪表进行测试，本实用新型专利技术结构简单而且能适用不同规格的磁芯不同测试场合的测试需要，便于快速操作，降低磁芯测试时绕线及测试完成后拆除线圈时间，从而提高了生产效率，降低了人工成本。降低了人工成本。降低了人工成本。

【技术实现步骤摘要】
一种磁芯多匝磁性能测试装置


[0001]本技术涉及磁芯性能测试
，尤其涉及磁芯的电感、感应电动势及B
‑
H曲线等的测试装置，具体为一种磁芯多匝磁性能测试装置。

技术介绍

[0002]磁芯在很多场合测试时需要绕线，比如测试指定匝数的电感和感应电动势，还有测试其直流DC和交流AC的B
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H磁滞回线和交流AC损耗等。
[0003]但是现有技术在实际使用时，在测试时目前大多采用手工绕线的方式，存在费时、费力、效率低下，不能自动化的缺点，同时，在手动测试过程中，如果是对裸磁芯进行测试，在绕线前必须找到合适尺寸的保护盒才能绕线，而对于一些非常规尺寸的磁芯要想找到适合的绕线保护盒有时不太容易，测试完成后，再把绕的线圈拆除掉，这样测试操作十分不便，也会造成漆包线或其他绝缘线等导线的浪费，上述种种严重制约了磁芯检测效率、磁芯产量及生产效益。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种磁芯多匝磁性能测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种磁芯多匝磁性能测试装置，包括测试底座、多匝测试插头和串联引线，所述多匝测试插头和串联引线均分别固定设置在测试底座的侧表面，所述测试底座的上表面固定设置有底座插座，所述串联引线的一端固定设置有引线插座，所述测试底座为圆柱体结构。
[0006]优选的，所述测试底座由绝缘塑料材料成型制成，所述底座插座的数量为六个。
[0007]优选的，所述多匝测试插头的数量为六组，且六组多匝测试插头关于测试底座上表面的竖直中线相互对称，六组所述多匝测试插头分别与六个所述底座插座相对应电性连接。
[0008]优选的，所述串联引线的数量为六个，且六个串联引线分别对称设置在测试底座的侧表面。
[0009]优选的，所述多匝测试插头的插头为十匝测试插头。
[0010]优选的，所述多匝测试插头的位置与串联引线的位置相对应。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]1、本技术首先将要测试的磁芯放到多匝测试插头上，根据测试要求选择具体要用几组多匝测试插头，然后把要用到的多匝测试插头插上，再把测试底座外侧各组多匝测试插头的串联引线串接起来后连接到测试仪表，就实现了磁芯性能的多匝测试，结构简单而且能适用不同规格的磁芯不同测试场合的测试需要，便于快速操作，降低磁芯测试时绕线及测试完成后拆除线圈时间，从而提高了生产效率，降低了人工成本；
[0013]2、本技术每组多匝测试插头是10匝，可以同时实现10匝，20匝，30匝，40匝，50
匝及60匝的绕线匝数测试，实际测试时可根据不同匝数需要进行选择，高效率地完成磁芯测试，测试时配合磁芯性能测试仪(LCR，V
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A表及B
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H测试仪等)使用，测试过程方便快捷，实用性和灵活性高。
附图说明
[0014]图1为本技术一种磁芯多匝磁性能测试装置立体结构示意图；
[0015]图2为本技术一种磁芯多匝磁性能测试装置俯视图。
[0016]图中：1、测试底座；2、多匝测试插头；3、串联引线；4、底座插座；5、引线插座。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]请参阅图1
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2，本技术提供一种技术方案：一种磁芯多匝磁性能测试装置，包括测试底座1、多匝测试插头2和串联引线3，多匝测试插头2和串联引线3均分别固定安装在测试底座1的侧表面，测试底座1的上表面固定安装有底座插座4，串联引线3的一端固定安装有引线插座5，测试底座1为圆柱体结构，测试底座1、多匝测试插头2和串联引线3可组合成一个完整的磁芯多匝磁性能测试装置，对磁芯进行测试，通过引线插座5可将多个串联引线3快速串联。
[0019]测试底座1由绝缘塑料材料成型制成，底座插座4的数量为六个。
[0020]多匝测试插头2的数量为六组，且六组多匝测试插头2关于测试底座1上表面的竖直中线相互对称，六组多匝测试插头2分别与六个底座插座4相对应电性连接。
[0021]串联引线3的数量为六个，且六个串联引线3分别对称设置在测试底座1的侧表面。
[0022]多匝测试插头2的插头为十匝测试插头，多匝测试插头2数量及每个多匝测试插头2可实现测试的匝数可根据磁芯的具体测试匝数要求来设计。
[0023]多匝测试插头2的位置与串联引线3的位置相对应。
[0024]工作原理：在使用时，该技术首先将要测试的磁芯放到多匝测试插头2上，根据测试要求选择具体要用几组多匝测试插头2，然后把要用到的多匝测试插头2插上，再把测试底座1外侧各组多匝测试插头2的串联引线3串接起来后连接到测试仪表，就实现了磁芯性能的多匝测试，结构简单而且能适用不同规格的磁芯不同测试场合的测试需要，便于快速操作，降低磁芯测试时绕线及测试完成后拆除线圈时间，从而提高了生产效率，降低了人工成本。本技术每组多匝测试插头2是10匝，可以同时实现10匝，20匝，30匝，40匝，50匝及60匝的绕线匝数测试，实际测试时可根据不同匝数需要进行选择，高效率地完成磁芯测试，测试时配合磁芯性能测试仪(LCR，V
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A表及B
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H测试仪等)使用，测试过程方便快捷，实用性和灵活性高。
[0025]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖
非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0026]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁芯多匝磁性能测试装置，包括测试底座(1)、多匝测试插头(2)和串联引线(3)，其特征在于：所述多匝测试插头(2)和串联引线(3)均分别固定设置在测试底座(1)的侧表面，所述测试底座(1)的上表面固定设置有底座插座(4)，所述串联引线(3)的一端固定设置有引线插座(5)，所述测试底座(1)为圆柱体结构。2.根据权利要求1所述的一种磁芯多匝磁性能测试装置，其特征在于：所述测试底座(1)由绝缘塑料材料成型制成，所述底座插座(4)的数量为六个。3.根据权利要求1或2所述的一种磁芯多匝磁性能测试装置，其特征在于：所述多匝测试插头(2)的数...

【专利技术属性】
技术研发人员：李丽娜，张鹏，
申请(专利权)人：北京首冶磁性材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：