一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，属于测试技术领域，包括前端测试装置和后端测试装置，前端测试装置包括MCU和电池，MCU与待测试设备连接，电池为MCU、待测试设备供电；后端测试装置包括顺次连接的控制模块和存储模块，控制模块与MCU经第一光纤进行通信连接；待测试设备的供电电路上设有第一开关，第一开关与MCU控制连接。本实用新型专利技术采用光纤作为传输媒介，在实现控制模块、MCU通信的同时不引入任何外部干扰，保证了EUT测试的可靠性；通过MCU控制第一开关的工作状态，进而实现对EUT的可控供电，大大延长了电池的使用寿命，保证EUT测试的供电持续性。保证EUT测试的供电持续性。保证EUT测试的供电持续性。

【技术实现步骤摘要】
一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统


[0001]本技术涉及测试
，尤其涉及一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统。

技术介绍

[0002]目前越来越多专用设备需要工作于复杂电磁场环境中，则专用设备在出厂前需要在复杂电磁环境中进行测试，以验证其抗干扰性能，测试其在复杂电磁环境下是否可以正常工作。在测试环境中将上述专用设备称为待测试设备（EUT）。
[0003]测试EUT需要一套完整的测试装置，测试装置包含前端测试装置和后端测试装置。其中，前端测试装置与待测试设备（EUT）置于测试屏蔽室或屏蔽暗箱内，这对前端测试装置自身的供电提出了抗干扰性和便捷性要求；前端测试装置用于对待测试设备（EUT）进行数据采集和控制；后端测试装置用于进行数据存储，并对EUT发出控制指令。
[0004]EUT测试周期较长，需持续数天至数月，由于前端测试装置和EUT在一个完整测试流程（测试屏蔽室或屏蔽暗箱）内中不能取出，那么在测试间歇中无法开启或关闭电源。若采用电池供电，由于锂电池供电时长有限，为保证电池电能完全用于EUT测试，需降低电池在测试间歇期的电能浪费，可通过在测试间歇使电池停止向EUT（EUT功耗可达数十瓦至数百瓦）以及MCU的部分外围电路供电达到节约电能的目的，在此基础上，如何实现前端测试装置对EUT的可控供电，同时使前端测试装置、后端测试装置保持通信，进而实现对前端测试装置、EUT测试状态的监控，以确保测前端测试装置始终处于正常工作状态是目前亟需解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于克服现有技术的问题，提供了一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统。
[0006]本技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，系统具体包括前端测试装置和后端测试装置。其中，前端测试装置包括MCU和电池，电池为锂电池或蓄电池等，用于为MCU、待测试设备供电；MCU的I/O端与待测试设备的数据传输端连接，即实现MCU与待测试设备的通信连接，一方面实现MCU对待测试设备的测试控制，另一方面便于MCU采集待测试设备的工作状态信息，比如电压、电流等，基于该工作状态信息进而判断待测试设备是否能够在当前测试环境正常工作。MCU具体为控制器，控制器对应连接有外围电路，如计数器、存储器、晶振电路等，用于保证数据处理器的正常工作。需要进一步说明的是，本技术旨在提高EUT测试的供电持续性，具体如何实现待测设备的性能测试并不在本技术请求保护的范围之内。
[0007]后端测试装置包括控制模块和存储模块，控制模块的I/O端与存储模块的数据传输端连接。控制模块为单片机、FPGA、ARM控制器等任意一种数据处理器；存储模块用于存储数据，包括能够表征EUT测试性能的EUT工作状态信息、MCU的工作状态数据等。本示例中，控
制模块与MCU上均集成有光纤接口，如RJ45接口，进而使控制模块与MCU经第一光纤通信连接，便于控制模块对MCU进行控制，如对EUT的测试进程进行控制；同时，MCU经第一光纤将待测试设备的工作状态信息等传输至控制模块，进而实现待测试设备的工作状态监测。进一步地，待测试设备的供电电路上设有第一开关，第一开关与MCU控制连接，即MCU通过控制第一开关的开关工作状态进而控制EUT的供电电路的通断状态，本示例中测试系统的具体控制原理如下：
[0008]控制模块经第一光纤向MCU发送暂停测试的控制指令，MCU接收到该控制指令后，控制第一开关断开进而使EUT的供电电路处于断开状态，电池停止向EUT供电，进入测试间歇期。当需要继续对EUT进行测试时，控制模块经第一光纤向MCU发送继续测试的控制指令，MCU接收到该控制指令后，控制第一开关闭合进而使EUT的供电电路处于导通状态，电池继续向EUT供电，继续测试。本示例中，采用光纤作为传输媒介，在实现控制模块、MCU通信的同时不会引入任何外部干扰，保证了EUT测试的可靠性；通过MCU控制第一开关的工作状态进而实现对EUT的可控供电，大大延长了电池的使用寿命，保证EUT测试的供电持续性。
[0009]需要进一步说明的是，本技术中控制模块向MCU发送控制指令，MCU对该控制指令进行识别等数据处理方式是本领域技术人员的公知常识，不在本技术请求保护的范围之内。
[0010]在一示例中，所述MCU的外围电路经电池供电，在测试间歇期无需工作的第一外围电路的电源电路上设有第二开关，第二开关与MCU控制连接。
[0011]在一示例中，所述后端测试装置还包括顺次连接的驱动电源和供电激光器；前端测试装置还包括顺次连接的光伏转化器和电源电路，供电激光器经第二光纤与光伏转化器连接，电源电路输出端与MCU连接。
[0012]在一示例中，所述第一开关为继电器或晶体管，第二开关为继电器或晶体管。
[0013]在一示例中，所述MCU连接有光通信模块，光通信模块与电源电路的输出端连接。
[0014]在一示例中，所述电源电路包括第一稳压电路和第二稳压电路，第一稳压电路的输出端与MCU连接，第二稳压电路的输出端与光通信模块连接。
[0015]在一示例中，所述MCU与待测试设备经RS485或RS232或RS422通信连接。
[0016]在一示例中，所述电池连接有电压检测模块，电压检测模块输出端连接至MCU。
[0017]在一示例中，所述控制模块输出端连接有报警单元。
[0018]在一示例中，所述控制模块通信连接有上位机。
[0019]需要进一步说明的是，上述各示例对应的技术特征可以相互组合或替换构成新的技术方案。
[0020]与现有技术相比，本技术有益效果是：
[0021]1.在一示例中，采用光纤作为传输媒介，在实现控制模块、MCU通信的同时不引入任何外部干扰，保证了EUT测试的可靠性；通过控制第一开关的工作状态进而实现对EUT的可控供电，大大延长了电池的使用寿命，保证EUT测试的供电持续性。
[0022]2.在一示例中，通过第二开关实现第一外围电路的供电可控性，进一步降低测试间歇期外围电路的电能损耗，延长了电池的工作寿命。
[0023]3.在一示例中，通过后端测试装置中的供电激光器经光纤为MCU和/或光通信模块供电，减少了通过电池供电的受电装置或设备，进一步降低电池的电能损耗。
[0024]4.在一示例中，通过电压检测模块实时检测电池的电量信息，进而实现对电池电量的监测，为EUT测试提供参考。
附图说明
[0025]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明，此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。
[0026]图1为本技术一示例中的系统框图；
[0027]图2为本技术优选示例中的系统框图。
具体实施方式
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，包括前端测试装置和后端测试装置，前端测试装置包括MCU和电池，MCU与待测试设备连接，电池为MCU、待测试设备供电；后端测试装置包括顺次连接的控制模块和存储模块，其特征在于：所述控制模块与MCU经第一光纤进行通信连接；待测试设备的供电电路上设有第一开关，第一开关与MCU控制连接。2.根据权利要求1所述的一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，其特征在于：所述MCU的外围电路经电池供电，在测试间歇期无需工作的第一外围电路的电源电路上设有第二开关，第二开关与MCU控制连接。3.根据权利要求1所述的一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，其特征在于：所述后端测试装置还包括顺次连接的驱动电源和供电激光器；前端测试装置还包括顺次连接的光伏转化器和电源电路，供电激光器经第二光纤与光伏转化器连接，电源电路输出端与MCU连接。4.根据权利要求2所述的一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，其特征在于：所述第一开关为继电器或晶体管...

【专利技术属性】
技术研发人员：王波，张洪妹，陈家俊，
申请(专利权)人：成都金迈微科技有限公司，
类型：新型
国别省市：