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本实用新型公开了一种复杂电磁环境中待测试设备的测试系统，属于测试技术领域，包括前端测试装置和后端测试装置，前端测试装置包括MCU和电池，MCU与待测试设备连接，电池为MCU、待测试设备供电；后端测试装置包括顺次连接的控制模块和存储模块，控制...
该专利属于成都金迈微科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都金迈微科技有限公司授权不得商用。

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