一种适用于芯片Bar条角度测试夹具制造技术

一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，包括底座，所述底座上一端设有固定架，所述固定架位于一侧的上方设有第一光源发射部，位于另一侧下方设有第二光源发射部，所述底座上还设有升降机构，所述升降机构还设有横向设置的滑动机构，所述滑动机构的内侧还设有用于调节角度的调节机构，所述调节机构还设有用于承载BAR条的固定座，本申请有益效果为：本申请通过滑动机构、调节机构以及升降机构可取代人手对BAR条进行调节，以准确反射出研磨端面的角度，从而提高了精度，并且提高了效率。并且提高了效率。并且提高了效率。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于芯片Bar条角度测试夹具


[0001]本技术涉及光通芯片制造领域，尤其涉及一种适用于芯片Bar条角度测试夹具。

技术介绍

[0002]以往的Bar条角度测试方法为使用电子显微镜去测试，没有固定的限位，装夹仅靠员工手动凭经验操作，导致Bar条放置到显微镜上的位置不平整，影响测试精度、操作复杂繁琐，效率低。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本技术方案提供一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，通过高精度限位机构和高精度滑台有效解决上述问题。
[0004]为实现上述目的，本技术方案如下：
[0005]一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，包括底座，所述底座上一端设有固定架，所述固定架位于一侧的上方设有第一光源发射部，位于另一侧下方设有第二光源发射部，所述底座上还设有升降机构，所述升降机构还设有横向设置的滑动机构，所述滑动机构的内侧还设有用于调节角度的调节机构，所述调节机构还设有用于承载BAR条的固定座。
[0006]在一些实施例中，所述调节机构包括固定底板和滑板，其中所述固定底板形状呈弧形，所述滑板形本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)上一端设有固定架(2)，所述固定架(2)位于一侧的上方设有第一光源发射部(3)，位于另一侧下方设有第二光源发射部(4)，所述底座(1)上还设有升降机构(5)，所述升降机构(5)还设有横向设置的滑动机构(6)，所述滑动机构(6)的内侧还设有用于调节角度的调节机构(7)，所述调节机构(7)还设有用于承载BAR条的固定座(8)。2.根据权利要求1所述的一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，其特征在于：所述调节机构(7)包括固定底板(71)和滑板(72)，其中所述固定底板(71)形状呈弧形，所述滑板(72)形状与所述固定底板(71)相匹配。3.根据权利要求2所述的一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，其特征在于：所述固定底板(71)的中部凸起有限位部(73)，其中所述限位部(73)由上端面至下端面面积逐渐减小。4.根据权利要求1所述的一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，其特征在于：所述升降机构(5)包括一驱动座(51)，所述驱动座(51)一端设有插入所述驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：何褀昌，文羑煟，
申请(专利权)人：安捷芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：