一种用于高精度光纤环温度测试的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于高精度光纤环温度测试的装置，包括自下而上依次设置的下盖、下垫片、上垫片和上盖，以及设置在上盖顶部的Y波导光学集成器和温度传感器；其中，下盖与上盖形成模拟光纤陀螺壳体本身的热设计的结构，同时采用磁屏蔽材料实现屏蔽电磁干扰；通过在上盖与下盖之间设计上垫片和下垫片，以压紧将被测光纤环于光纤环测试装置内，不仅避免了环境振动对被测光纤环的影响，还极大低降低了被测光纤环的安装和拆卸难度；同时通过在上盖和上垫片的结构上设计了用于光纤环尾纤出纤、走线和接线的豁口和凹槽，实现光纤环尾纤的平滑走线，避免尾纤断裂的情况发生。避免尾纤断裂的情况发生。避免尾纤断裂的情况发生。

【技术实现步骤摘要】
一种用于高精度光纤环温度测试的装置


[0001]本技术涉及光纤陀螺光纤环温度测试
，特别涉及一种用于高精度光纤环温度测试的装置。

技术介绍

[0002]高精度光纤环是高精度光纤陀螺的核心器件，其精度直接决定了高精度光纤陀螺的最终精度。在实际使用过程中，对高精度光纤环的任何干扰都会引起高精度光纤环内正向和反向传输光的非互易性，使高精度光纤陀螺产生偏置漂移而降低高精度光纤陀螺的精度。
[0003]对高精度光纤环的主要干扰包括：环境温度干扰，环境磁场干扰和振动干扰。其中，环境温度对高精度光纤陀螺测量精度的影响最为明显。为了确保高精度光纤陀螺的全温精度，提高高精度光纤陀螺的合格率，在高精度光纤陀螺装配前，对高精度光纤环进行温度试验评价并获得高精度光纤环的温度指标是高精度光纤环生产中的重要环节。
[0004]针对光纤陀螺光纤环温度试验，已公开专利CN 100538309C公开了一种光纤陀螺中光纤环在线模块化测试装置，已公开专利CN111964659A公开了一种光纤陀螺光纤环温度测试与评价系统；这些现有技术虽然给光纤陀螺光纤环温度试验本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于高精度光纤环温度测试的装置，其特征在于，包括自下而上依次设置的下盖(7)、下垫片(6)、上垫片(4)和上盖(3)，以及设置在上盖上的Y波导光学集成器(1)和温度传感器(2)；其中，下盖(7)顶端设有开口的筒体，其中心处设有圆形上盖安装槽、周向上形成有一个环形的光纤环安装槽；上盖(3)由下柱形体、自下柱形体顶面边缘处沿轴向向上延伸形成的环形筒体、和内边缘固定在环形筒体顶端的上环形板构成，使上盖(3)的下柱形体插装在下盖(7)的上盖安装槽内时，其上环形板盖装在光纤环安装槽的顶端开口处，使光纤环安装槽形成一个封闭的环形空间；在上盖(3)的上环形板顶面的外边缘处和内边缘处分别设有外环状凸条和内环状凸条，使二者之间形成环形尾纤凹槽，且在外环状凸条上开设有一个与光纤环安装槽连通的尾纤出纤豁口I，在与尾纤出纤豁口I间距最远的内环状凸条上开设有尾纤出纤豁口II，且自尾纤出纤豁口II两侧分别开设有与上盖安装槽连通的第一狭长尾纤固定槽和第二狭长尾纤固定槽；下垫片(6)和上垫片(4)为两块具有相同结构和尺寸的环形垫片，二者内置在光纤环安装槽内，且在位于尾纤出纤豁口I下方的上垫片(4)上开设有出纤豁口；Y波导光学集成器(1)包括内嵌在上盖(3)上的Y波导光学集成器主体(101)，其上设有用于与被测光纤环(5)的第一尾纤(8)相连接的第一尾纤输入端子(102)、与被测光纤环(5)的第二尾纤(9)相连接的第二尾纤输入端子(103)和一个光学信号输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：张江源，涂勇强，杨功流，
申请(专利权)人：厦门天宇丰荣科技有限公司，
类型：新型
国别省市：