安检设备及安检系统技术方案

技术编号:33568231 阅读:31 留言:0更新日期:2022-05-26 23:10
本实用新型专利技术提供一种安检设备及安检系统,包括:支架,限定沿第一方向延伸的检查通道;第一X射线加速器,设置在支架的顶部偏移检查通道的中心线的位置,配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线,用以对通过检查通道的待检物品进行检查;第二X射线加速器,配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查;以及探测器装置,包括:多个探测器模块,设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置,用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线,以形成待检物品的透射图像;其中,第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。平面内。平面内。

【技术实现步骤摘要】
安检设备及安检系统


[0001]本技术的至少一种实施例涉及一种安全检查
,尤其涉及一种安检设备及安检系统。

技术介绍

[0002]目前,对于大型物品进行安检的需求越来越高,例如在海关等工作场景中,就需要对集装箱和/或车辆等体积较为庞大的待检物品进行扫描。
[0003]目前,针对上述待检物品进行安检的设备至少包括两个支架,两个支架相邻设置在待检物品移动方向的上下游位置。并且,需要在两个支架上分别设置两套扫描设备(如含X射线加速器及相应的探测器模块),用以从至少两个角度对待检物品进行扫描。
[0004]上述安检设备中包含两个支架,因此,需要占用(或预留)较大的空间。另外,由于每个支架均需要安装相应的X射线加速器和探测器模块,因此,所需的探测器模块的数量也较多。进一步地,由于探测器模块的数量较多,探测器模块采集的响应信号以及对安检设备的控制也较为复杂。

技术实现思路

[0005]针对于现有的技术问题,本技术提供一种安检设备及安检系统,用于至少部分解决以上技术问题。
[0006]本技术的一方面提供一种安检设备,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种安检设备,其特征在于,包括:支架(6),限定沿第一方向延伸的检查通道;第一X射线加速器(1),设置在所述支架(6)的顶部偏移所述检查通道的中心线的位置,配置成向下朝向所述检查通道辐射第一X射线(11),用以对通过所述检查通道的待检物品(7)进行检查;第二X射线加速器(2),配置成向所述检查通道辐射第二X射线(21)用以对通过所述检查通道的待检物品(7)进行检查;以及探测器装置,包括:多个探测器模块,设置在所述支架(6)上与所述第一X射线加速器(1)和所述第二X射线加速器(2)面对的位置,用于接收至少一部分所述第一X射线和/或第二X射线,以形成所述待检物品(7)的透射图像;其中,所述第一X射线(11)、第二X射线(21)及多个所述探测器模块所形成的中心面构造成位于同一平面内。2.根据权利要求1所述的安检设备,其特征在于,所述探测器装置还包括信号采集模块,所述第一X射线加速器(1)、第二X射线加速器(2)及多个所述探测器模块通讯连接,用以将所述探测器模块接收的由第一X射线(11)和第二X射线(21)所产生的信号进行标记。3.根据权利要求1所述的安检设备,其特征在于,多个所述探测器模块平铺设置构造成行、列或阵列;其中,平铺表征为每一行、列或阵列中的每个所述探测器模块的接收端均位于同一平面内。4.根据权利要求1至3中任一所述的安检设备,其特征在于,一部分所述探测器模块分别构造成侧部阵列(4)及底部阵列(5);其中,所述侧部阵列(4)设置在所述支架(6)的内侧侧面,所述底部阵列...

【专利技术属性】
技术研发人员:李元景孙尚民宗春光宋涛刘磊马媛喻卫丰刘必成
申请(专利权)人:同方威视科技北京有限公司
类型:新型
国别省市:

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