芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：在芯片中的多个待验证模块正常工作的情况下，获取各待验证模块的传输日志；其中，传输日志中，包括待验证模块中的至少一个第一主设备的传输命令信息；将各第一主设备替换为芯片验证环境中验证组件的各第二主设备；在芯片验证环境中，控制各第二主设备按照传输日志进行激励驱动，并获取各第二主设备与各待验证模块中对应从设备之间的传输行为信息；基于传输行为信息，确定待验证模块的性能指标，提高了芯片验证速度，且在芯片设计的早期阶段即可准确的评估芯片的性能指标，不必等到芯片集成完成后才能进行芯片验证，提高了芯片的开发迭代速度。提高了芯片的开发迭代速度。提高了芯片的开发迭代速度。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及集成电路
，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]SOC(System
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Chip，片上系统)芯片是一种集成电路的芯片，可以有效地降低电子/信息系统产品的开发成本，缩短开发周期，提高产品的竞争力，是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。在SOC芯片的设计过程中，性能指标是否满足设计需求是非常关键的设计任务，如何快速准确的建模仿真出芯片的性能特性是非常重要的设计挑战。
[0003]相关技术，通常是在SOC芯片的各子系统以及顶层系统集成完成之后，通过EDA(Electronic Design Automation，电子设计自动化)验证仿真SOC芯片的性能，然而，由于SOC芯片的系统复杂度很高，因此通过EDA验证仿真大规模SOC芯片的速度很慢，并且，这种验证方式需要等待SOC芯片集成完成后才可以进行，影响了SOC芯片的开发迭代速度。
专利技术内容
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：在芯片中的多个待验证模块正常工作的情况下，获取各所述待验证模块的传输日志；其中，所述传输日志中，包括所述待验证模块中的至少一个第一主设备的传输命令信息；将各所述第一主设备替换为芯片验证环境中验证组件的各第二主设备；在所述芯片验证环境中，控制各所述第二主设备按照所述传输日志进行激励驱动，并获取各所述第二主设备与各所述待验证模块中对应从设备之间的传输行为信息；基于所述传输行为信息，确定所述待验证模块的性能指标。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，各所述第一主设备分别通过接口与检测器连接；所述获取各所述待验证模块的传输日志，包括：在芯片中的多个待验证模块正常工作的情况下，采用所述检测器监测各所述待验证模块中的至少一个第一主设备的传输信号；对各所述第一主设备的传输信号进行解析，以获取各所述第一主设备的传输命令信息；将所述传输命令信息写入日志文件，以得到所述传输日志。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，各所述第二主设备分别对应一个序列生成器；所述在所述芯片验证环境中，控制各所述第二主设备按照所述传输日志进行激励驱动，包括：在所述芯片验证环境中，采用各所述第二主设备对应的序列生成器，控制各所述第二主设备按照所述传输日志进行激励驱动。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述芯片验证环境中，采用各所述第二主设备对应的序列生成器，控制各所述第二主设备按照所述传输日志进行激励驱动，包括：采用各所述序列生成器，对所述传输日志进行文本解析，以获取对应的所述第一主设备的每一笔传输的详细命令信息；将所述每一笔传输的详细命令信息下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备按照所述详细命令信息进行激励驱动。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述详细命令信息中包括各所述第一主设备的初始读写地址，各所述序列生成器具有偏移地址参数；所述将所述每一笔传输的详细命令信息下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备按照所述详细命令信息进行激励驱动之前，还包括：将各所述初始读写地址替换为预设的读写地址偏移量，并根据预设的所述读写地址偏移量，对各所述序列生成器的所述偏移地址参数进行赋值；所述将所述每一笔传输的详细命令信息下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备按照所述详细命令信息进行激励驱动，包括：采用各所述序列生成器，将赋值后的所述偏移地址参数的数值下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备的读写地址，其中，各所述第二主设备之间的读写地址不冲突，且各所述第二主设备的读地址与写地址之间不冲突。6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述详细命令信息中包括各所述第一主设备的每一笔传输的传输时间点；
所述将所述每一笔传输的详细命令信息下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备按照所述详细命令信息进行激励驱动之前，还包括：根据每一笔传输与相邻的上一笔传输的传输时间点，确定所述每一笔传输与相邻的上一笔传输的发送间隔；所述将所述每一笔传输的详细命令信息下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备按照所述详细命令信息进行激励驱动，包括：按照所述发送间隔，将所述每一笔传输的详细命令信息下发至对应的所述第二主设备，以控制对应的所述第二主设备按照所述详细命令信息进行激励驱动。7.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：获取模块，用于在芯片中的多...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔昭华，
申请(专利权)人：杭州爱芯元智科技有限公司，
类型：发明
国别省市：