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本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：在芯片中的多个待验证模块正常工作的情况下，获取各待验证模块的传输日志；其中，传输日志中，包括待验证模块中的至少一个第一主设备的传输命令信息；将各第一主设备替换为芯片验证环境...
该专利属于杭州爱芯元智科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州爱芯元智科技有限公司授权不得商用。

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