一种基于双波长的荧光气体检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及气体检测技术领域，尤其涉及一种基于双波长的荧光气体检测装置，包括激光器一、激光器二、气室和探测器一，所述激光器一输出的激光波长短于待测气体的吸收波长，所述激光器二输出的激光波长长于待测气体的吸收波长，所述激光器一和激光器二产生的激光能够打到气室内的待测气体上，所述探测器一用于探测激光打到气室内待测气体上产生的辐射荧光的功率和激光器一的散射光功率之和，本发明专利技术提供了一种结构紧凑且装配要求低的气体检测装置。了一种结构紧凑且装配要求低的气体检测装置。了一种结构紧凑且装配要求低的气体检测装置。

【技术实现步骤摘要】
一种基于双波长的荧光气体检测装置


[0001]本专利技术涉及气体检测
，尤其涉及一种基于双波长的荧光气体检测装置。

技术介绍

[0002]基于光学的气体检测技术具有测量范围广、与信息系统兼容而实现在线监测预判，且灵敏度高可靠性高。目前可调谐二极管激光吸收光谱(TDLAS)检测是目前气体检测的主流技术方案之一。通过可调谐激光器扫描波长，对分子吸收谱信息进行分析，从而判断气体分子的类别和浓度。该技术具有非接触式、响应快、与信息系统兼容等优势。但是该技术因为需要确保激光波长严格对准气体吸收波长，导致结构复杂，成本整体比较高。
[0003]荧光法是另一种有效的气体检测方案。该方案利用探测待测气体辐射的荧光功率来判断气体的浓度。尤其是对激发光波长要求低，并不需要严格控制波长，所以控制系统难度低。但是荧光法装置中需要装配滤光片将因光散射等造成的多余激发光滤掉，从而得到较为准确的荧光功率。因此这类装置需要对滤波器的光谱和激发光波长准确控制，另外增加装配的要求，这样整体制造依旧会复杂。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双波长的荧光气体检测装置，其特征在于，包括激光器一、激光器二、气室和探测器一，所述激光器一输出的激光波长短于待测气体的吸收波长，所述激光器二输出的激光波长长于待测气体的吸收波长，所述激光器一和激光器二产生的激光能够打到气室内的待测气体上，所述探测器一用于探测激光打到气室内待测气体上产生的辐射荧光的功率和激光器一的散射光功率之和。2.根据权利要求1所述的一种基于双波长的荧光气体检测装置，其特征在于，还包括载体，所述激光器一和激光器二同时贴片在载体上，所述激光器一和激光器二均为半导体激光器，所述激光器一和激光器二交替工作或同时工作。3.根据权利要求1所述的一种基于双波长的荧光气体检测装置，其特征在于，还包括光路框架结构，所述气室开设在该光路框架结构上，所述光路框架结构上还设有光路通道，所述气室与光路通道相互交汇，所述气室侧壁开设有一个窗口作为光阑，所述探测器一安装在光阑外部。4.根据权利要求1所述的一种基于双波长的荧光气体检测装置，其特征在于，还包括探测器二，所述激光器一和激光器二的输出端对准光路通道入口端设置，所述探测器二安装在...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨炳雄，徐洋，施跃春，
申请(专利权)人：南京浦光芯片科技有限公司，
类型：发明
国别省市：