包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法技术

本发明专利技术涉及测试技术领域，公开了包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法。包装纸表面镀层制样方法，包括：向从包装纸上截下的镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶，固化胶用于渗透纸屑，且硬化后将纸屑固化于胶层中得到第一中间样；将第一中间样镶嵌于透明树脂内得到第二中间样；朝向镀层粗样边缘对第二中间样进行打磨，磨掉镀层的边缘。包装纸表面镀层的厚度测试方法，包括采用上述的制样方法得到镀层样本；测试镀层样本中镀层的厚度。本申请提供的方案，将厚度不准确的镀层边缘磨掉，打磨后得到样本中镀层的各层分布清晰，厚度准确，对该样本中镀层各膜层进行测试，能得到更加准确的测试结果。测试结果。测试结果。

【技术实现步骤摘要】
包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法


[0001]本专利技术涉及测试
，具体而言，涉及包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法。

技术介绍

[0002]纸板是瓦楞纸箱、纸盒等产品生产的主要原材料，它的性能如何直接或间接影响了产品的内在质量和使用性能。对瓦楞纸箱、纸盒等包装产品来说，需要具有耐磨、防水和防潮性能，因此在制造过程中需要对包装纸进行印后加工，印后加工包括上光涂布，纸板表面通过上光涂布，可以使印刷品增强耐水、耐晒、耐磨擦和耐污染的性能。进行上光涂布的包括用印刷机上光的油性上光油，也包括用上光机上光的水性、油性上光油，还包括溶剂型上光涂料、UV上光涂料等。
[0003]常见厚膜测试方法：金相测厚、X射线荧光测厚(XRF)、SEM测厚、XPS深度剖析、台阶测厚等。
[0004]射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用，此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。扫描电子显微镜(SEM)测试厚度的方法测试范围宽，适用于测试厚度0.01μm～1mm本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种包装纸表面镀层制样方法，其特征在于，包括：向从包装纸上分离的镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶，所述固化胶用于渗透纸屑，且硬化后将纸屑固化于胶层中得到第一中间样；将所述第一中间样镶嵌于透明树脂内得到第二中间样；朝向所述镀层粗样边缘对所述第二中间样进行打磨，磨掉镀层厚度不准确的边缘。2.根据权利要求1所述的包装纸表面镀层制样方法，其特征在于，所述固化胶包括502胶、CC
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33A粘合剂和401胶水中至少一种。3.根据权利要求1所述的包装纸表面镀层制样方法，其特征在于，所述透明树脂包括环氧树脂、水晶滴胶树脂和AB胶树脂中至少一种。4.根据权利要求1所述的包装纸表面镀层制样方法，其特征在于，在向所述镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶之前还包括：将从包装纸上截下的样本浸泡于水中，待纸层软化后，剥离纸层，然后去除剩余样本的水分得到所述镀层粗样。5.根据权利要求4所述的包装纸表面镀层制样方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹雅冰，陈兰，梁朝辉，杨颖，许慧，黄梓彬，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：