一种设备使用寿命预测方法技术

本发明专利技术公开了一种设备使用寿命预测方法，具体涉及寿命预测技术领域，包括以下步骤：S1、测试设备使用的效率；S2、检测设备使用的电流和电压情况；S3、检测设备产生的产生化学情况；S4、使用故障率模型，计算剩余的寿命；S5、计算寿命的平均值，使用多种方式的预测，取平均值，将预测的结果与实际的情况存在的误差尽可能的减少，记录每个时间段的效率，观察机器每个时间段的效率，在测试的时候，效果更加的精准，可以随时记录每个时间的效率，观察使用效率下降的速度和下降的主要时间段，通过时间段，观察主要下降的原因是什么，观察是不是机器自身的原因，还是使用的原因。还是使用的原因。

【技术实现步骤摘要】
一种设备使用寿命预测方法


[0001]本专利技术涉及寿命预测
，具体涉及一种设备使用寿命预测方法。

技术介绍

[0002]随着计算机技术与传感器技术的发展，预测性维护成为一个重要的研究与应用方向。预测性维护大致可以分为故障诊断、趋势预测以及剩余使用寿命预测三大子领域。
[0003]目前已存在的一些设备剩余使用寿命方法主要有传统机器学习技术与深度学习方法两类，机器学习技术需要用户手动构造特征进行数据表征及训练，机器现在基本每天都是处于工作的状态，经常处于高轻度的状态，现在的机器在使用的时候，会有各种消耗品余量情况的展示，但是不能进行作为寿命的参考值，现有的寿命评估方法，基本都是依靠机修人员的经验预测，但是预测的结果与实际的情况存在一定的误差情况。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种设备使用寿命预测方法。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种设备使用寿命预测方法，包括以下步骤：
[0007]S1、测试设备使用的效率；
[0008]S2、检测设备使用的电流和电压情况；
[0009]S3、检测设备产生的产生化学情况；
[0010]S4、使用故障率模型，计算剩余的寿命；
[0011]S5、计算寿命的平均值。
[0012]优选的，所述步骤S1中测试设备使用的效率具体步骤为：
[0013]S1.1、设备在刚投入生产的时候，记录在规定的时间内，功能使用的情况，将设备的使用的效率记作成S1；
[0014]S1.2、记录每个时间段内的使用效率记作S
段
；
[0015]S1.3、计算该时间段的效率的表达式为：S
效率
＝(S
段
/S1)*100％；
[0016]S1.4、在记录效率的时候，同时记录设备反应的时间；
[0017]S1.5、将初始的反应时间记作T
始
，将每个时间段内的效率记作为 T
段
，将反应比记作为T
反
，T
反
＝(T
始
/T
段
)*100％。
[0018]采用上述技术方案：记录每个时间段的效率，观察机器每个时间段的效率，在测试的时候，效果更加的精准，可以随时记录每个时间的效率，观察使用效率下降的速度和下降的主要时间段，通过时间段，观察主要下降的原因是什么，观察是不是机器自身的原因，还是使用的原因。
[0019]优选的，所述步骤S2检测设备使用的电流和电压情况的操作步骤为：
[0020]S2.1、记录初始状态时候的电流和电压；
[0021]S2.2、将每个时间段的电流和电压记录；
[0022]S2.3、将电流和电压与记录初始状态时候的电流和电压进行对比，从而计算出每个时间段的功率，将每个时间段的功率和初始状态的功率进行对比。
[0023]优选的，所述步骤S3检测设备产生的产生化学情况的具体步骤为：
[0024]S3.1、腐蚀：插件板配线、集成电路内部配线的腐蚀，接点部分的腐蚀；
[0025]S3.2、利用化学反应的部件：电池、电容器；
[0026]S3.3、因受a射线、红外线、X射线、B射线的作用而导致老化；
[0027]S3.4、电化学腐蚀；
[0028]S3.5、迁移、电化学迁移；
[0029]S3.6、在进行测试的时候，将上述的因素首先进行排查，然后进行去除。
[0030]采用上述技术方案：因为外界的原因，对设备老的程度是不是加快，将其类导致发生的设备老化进行出去，计算出更加准确的数字。
[0031]优选的，所述步骤S4使用故障率模型为：
[0032]λ
p
＝λ
b
π
E
π
Q
π
X
。
[0033]优选的，所述λ
p
＝λ
b
π
E
π
Q
π
X
中的：λ
p
为部件故障率、λ
b
为基础故障率、π
E
为使用的环境系数、π
Q
为品质系数、π
X
为各种修正系数：
[0034]优选的，所述步骤S5中：平均寿命值＝(S
效率
+T
反
+λ
p
)/3*100％。
[0035]本专利技术的有益效果为：
[0036]1、本专利技术使用多种方式的预测，取平均值，将预测的结果与实际的情况存在的误差尽可能的减少；
[0037]2、本专利技术记录每个时间段的效率，观察机器每个时间段的效率，在测试的时候，效果更加的精准，可以随时记录每个时间的效率，观察使用效率下降的速度和下降的主要时间段，通过时间段，观察主要下降的原因是什么，观察是不是机器自身的原因，还是使用的原因；
[0038]3、本专利技术检查腐蚀：插件板配线、集成电路内部配线的腐蚀，接点部分的腐蚀，如果有这类情况及时的进行更换和处理、利用化学反应的部件：电池、电容器，检查设备内部的电池和电容器这类容易消耗的产品，在进行测试的时候，将其进行更换，因受a射线、红外线、X射线、B射线的作用而导致老化，因为外界的原因，对设备老的程度是不是加快，将其类导致发生的设备老化进行出去，计算出更加准确的数字。
具体实施方式
[0039]实施例1
[0040]一种设备使用寿命预测方法，包括如下步骤：
[0041]S1、测试设备使用的效率；
[0042]S1.1、设备在刚投入生产的时候，记录在规定的时间内，功能使用的情况，将设备的使用的效率记作成S1；
[0043]S1.2、记录每个时间段内的使用效率记作S
段
；
[0044]S1.3、计算该时间段的效率的表达式为：S
效率
＝(S
段
/S1)*100％；
[0045]S1.4、在记录效率的时候，同时记录设备反应的时间；
[0046]S1.5、将初始的反应时间记作T
始
，将每个时间段内的效率记作为 T
段
，将反应比记作为T
反
，T
反
＝(T
始
/T
段
)*100％。
[0047]S2、检测设备使用的电流和电压情况；
[0048]S2.1、记录初始状态时候的电流和电压；
[0049]S2.2、将每个时间段的电流和电压记录；
[0050]S2.3、将电流和电压与记录初始状态时候的电流和电压进行对比，从而计算出每个时间段的功率，将每个时间段的功率和初始状态的功率进行对比。
[0051]S3、检测设备产生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备使用寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、测试设备使用的效率；S2、检测设备使用的电流和电压情况；S3、检测设备产生的产生化学情况；S4、使用故障率模型，计算剩余的寿命；S5、计算寿命的平均值。2.根据权利要求1所述的一种设备使用寿命预测方法，其特征在于：所述步骤S1中测试设备使用的效率具体步骤为：S1.1、设备在刚投入生产的时候，记录在规定的时间内，功能使用的情况，将设备的使用的效率记作成S1；S1.2、记录每个时间段内的使用效率记作S
段
；S1.3、计算该时间段的效率的表达式为：S
效率
＝(S
段
/S1)*100％；S1.4、在记录效率的时候，同时记录设备反应的时间；S1.5、将初始的反应时间记作T
始
，将每个时间段内的效率记作为T
段
，将反应比记作为T
反
，T
反
＝(T
始
/T
段
)*100％。3.根据权利要求1所述的一种设备使用寿命预测方法，其特征在于：所述步骤S2检测设备使用的电流和电压情况的操作步骤为：S2.1、记录初始状态时候的电流和电压；S2.2、将每个时间段的电流和电压记录；S2.3、将电流和电压与记录初始状态时候的电流和电压进行对比，从而计算出每个时间段的功率，将每个时间段的功率和初始状态的功率进行对比。4.根据权利要求1所述的一种设...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文东，汪兆伟，
申请(专利权)人：豪越科技有限公司，
类型：发明
国别省市：