通过测量电阻率来测量污垢量的装置、方法、系统和套件制造方法及图纸

一种用于测量污垢(50)量的装置(1)，包括：接收器(2)，该接收器用于接收样品收集器(40)，其中，污垢样品附着到前表面(42)；第一接触件(11)和第二接触件(12)；导电表面(14)；对准器(20)，该对准器用于将该导电表面(14)定位成与所接收的样品收集器(40)的后表面(44)接触；以及电阻计(30)，该电阻计被配置为测量该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间的电阻，其中，当该第一接触件(11)和该第二接触件(12)被放置成与该前表面(42)接触并且该导电表面(14)被放置成与该后表面(44)接触时，在该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间所测量的电阻表示在该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间的该污垢样品的污垢(50)量。(12)之间的该污垢样品的污垢(50)量。(12)之间的该污垢样品的污垢(50)量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】通过测量电阻率来测量污垢量的装置、方法、系统和套件


[0001]本专利技术总体上涉及测量污垢量。

技术介绍

[0002]在清洁设施中的物体时，清洁工人通常会自觉或不自觉地评估各种物体的清洁度。这样做是为了确定设施中的哪些物体最脏且最需要清洁，已清洁的物体是足够干净还是需要更多清洁，未清洁的物体是否足够干净且不需要清洁等。评估清洁度可能会提高清洁过程的质量。当将更多的清洁时间花在最脏的物体上而不是浪费在已经干净的物体上时，整体清洁设施的质量可能很高。当仅在需要时清洁设施或设施中的物体时，需要分配给设施的清洁时间就较少，就更具成本效益的清洁过程而言，质量也可能很高。
[0003]迄今为止，评估清洁度最常用的方法是目视观察，即用眼睛观察物体。根据物体上有机残留物的量来评估清洁度的方法是ATP方法。ATP是在生物细胞中发现的一种分子，并且在ATP方法中，对来自物体表面的样品进行化学处理以检测ATP的存在。评估清洁度的另一种方法是UV照明，其中，用UV光照射表面以诱导某些类型的污垢(例如血液、尿液、唾液等)发出荧光。
[0004]尽管这些本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于测量污垢(50)量的装置(1)，该装置(1)包括：接收器(2)，该接收器被配置为接收样品收集器(40)，该样品收集器(40)具有前表面(42)和后表面(44)，其中，污垢样品附着到该样品收集器(40)的前表面(42)；第一接触件(11)，该第一接触件被配置为放置成在第一接触点处与所接收的样品收集器(40)的前表面(42)接触，以及第二接触件(12)，该第二接触件被配置为放置成在第二接触点处与所接收的样品收集器(40)的前表面(42)接触，该第一接触件和该第二接触件是导电的；导电表面(14)；对准器(20)，该对准器被配置为将该导电表面(14)定位成与所接收的样品收集器(40)的后表面(44)接触，其中，当该导电表面(14)被该对准器(20)定位时：该导电表面(14)的第一部分被放置成在与该前表面(42)上的第一接触点横向的点处与该样品收集器(40)的后表面(44)接触；并且该导电表面(14)的第二部分被放置成在与该前表面(42)上的第二接触点横向的点处与该样品收集器(40)的后表面(44)接触；该装置(1)进一步包括电阻计(30)，该电阻计被配置为测量该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间的电阻，其中，当该第一接触件(11)和该第二接触件(12)被放置成与该前表面(42)接触并且该导电表面(14)被放置成与该后表面(44)接触时，在该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间所测量的电阻表示该污垢样品的污垢(50)量，所表示的污垢(50)量位于该样品收集器(40)的前表面(42)上、在该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间。2.如权利要求1所述的装置(1)，其中，该对准器(20)包括：前部部分(22)，该第一接触件(11)和该第二接触件(12)附接到该前部部分(22)；后部部分(24)，该导电表面(14)附接到该后部部分(24)；铰链(26)，该铰链将该前部部分(22)与该后部部分(24)机械连接，其中，该铰链(26)允许该前部部分(22)相对于该后部部分(24)旋转运动，该铰链(26)具有该接收器(2)自由地接收该样品收集器(40)的旋转打开位置，以及该导电表面(14)与所接收的样品收集器(40)的后表面(44)接触的旋转闭合位置；其中，该前部部分(22)、该后部部分(24)和该铰链(26)被配置为当该铰链(26)处于该旋转闭合位置时将该导电表面(14)定位成与所接收的样品收集器(40)的后表面(44)接触。3.如前述权利要求中任一项所述的装置(1)，其中，该导电表面(14)和该对准器(20)被配置为使得当该导电表面(14)被该对准器(20)定位时，样品收集器/导电表面界面(SC/ECS界面)涵盖：样品收集器/第一接触件界面(SC/1C界面)的横向表示；以及样品收集器/第二接触件界面(SC/2C界面)的横向表示；其中：该SC/ECS界面表示所接收的样品收集器(40)的后表面(44)与该导电表面(14)之间接触的界面；该SC/1C界面表示所接收的样品收集器(40)的前表面(42)与该第一接触件(11)之间接触的界面，该SC/1C界面的横向表示是该后表面(44)上的区域，该区域由该SC/1C界面从该
前表面到该后表面的横向平移限定；该SC/2C界面表示所接收的样品收集器(40)的前表面(42)与该第二接触件(12)之间接触的界面，该SC/2C界面的横向表示是该后表面(44)上的区域，该区域由该SC/2C界面从该前表面(42)到该后表面(44)的横向平移限定。4.如权利要求3所述的装置(1)，其中，该导电表面(14)和该对准器(20)被配置为使得当该导电表面(14)被该对准器(20)定位时，该样品收集器/导电表面界面(SC/ECS界面)另外涵盖：样品测量区域的横向表示；其中，该样品测量区域是该样品收集器(40)的前表面(42)上的区域，该区域在该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间延伸，该样品测量区域的横向表示是该后表面(44)上的区域，该后表面上的区域由该样品测量区域从该前表面(42)到该后表面(44)的横向平移限定。5.如前述权利要求中任一项所述的装置(1)，其中，该装置(1)进一步包括接触压力控制器(60)，该接触压力控制器被配置为设置当该第一接触件(11)和该第二接触件(12)被放置成与该前表面(42)接触并且该导电表面(14)被放置成与该后表面(44)接触时，由该导电表面(14)以及由该第一接触件(11)和该第二接触件(12)中的至少一个接触件施加在该样品收集器(40)上的压力。6.一种用于测量污垢(50)量的系统，该系统包括：如权利要求1至5中任一项所述的装置(1)；存储器(70)，该存储器被配置为存储测量的电阻与位于该样品收集器(40)的前表面(42)上、在该第一接触件(11)与该第二接触件(12)之间的污垢(50)量之间的关系；以及处理器(72)，该处理器被配置为：从该电阻计(30)接收该测量的电阻，从该存储器(70)接收该关系，并且使用该测量的电阻和该关系来计算该...

【专利技术属性】
技术研发人员：约翰，
申请(专利权)人：雷恩创新公司，
类型：发明
国别省市：