集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置制造方法及图纸

本申请公开了一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置。该方法包括将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。本申请解决了缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的技术问题。通过本申请能够应用到更多的测试场景，获取更多维度的测量信息。同时对用户提供开发接口，从而满足用户测试测量应用的相关需求。从而满足用户测试测量应用的相关需求。从而满足用户测试测量应用的相关需求。

【技术实现步骤摘要】
集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置


[0001]本申请涉及测试测量系统领域，具体而言，涉及一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置。

技术介绍

[0002]测量仪器各自独立，通常搭配使用才能够满足日常测试测量需求。
[0003]测试测量设备的功能分离，需要单独操作依据供电。并且设备之间单独分离，无法进行联网。
[0004]针对相关技术中缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本申请的主要目的在于提供一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置，以解决缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的问题。
[0006]为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种集成化测试测量方法。
[0007]根据本申请的集成化测试测量方法包括：将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。
[0008]进一步地，所述根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生包括：采用FPGA产生所述待测设备产生的测试测量信号、产生控制电源、采集控制信号、处理采集数据。
[0009]进一步地，根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，还包括：所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现多种所述测试测量信号的采集，其中所述多种所述测试测量信号包括电源、信号发生器、示波器、频谱仪、万用表的测试测量信号。
[0010]进一步地，还包括同时运行与用户相关的应用程序。
[0011]进一步地，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号在时域、频域至少两个维度的测试测量信号的采集。
[0012]进一步地，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：通过机器学习基于所述测试测量信号的数据进行智能诊断；基于语音控制、语音信息报告接口，显示所述测试测量信号。
[0013]为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种集成化测试测量系统。
[0014]根据本申请的集成化测试测量系统包括：树莓派模块，用于控制测试测量过程以及显示测试测量结果；FPGA模块，用于处理所述测试测量过程产生的数据；ADC接口，与待测设备用于接收采集到的测试测量数据并转换为数字信号；DAC接口，与待测设备连接用于发
送所述FPGA模块产生的测试测量结果数据并转换为模拟信号。
[0015]为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种集成化测试测量。
[0016]根据本申请的集成化测试测量包括：关联模块，用于将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；配置模块，用于通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；测试测量模块，用于根据所述自定义测试测量应用实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。
[0017]在本申请实施例中集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置，采用将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联的方式，通过通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面，达到了根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生的目的，从而实现了能够应用到更多的测试场景，获取更多维度的测量信息，同时该系统对用户提供开发接口，允许用户根据自己的需要开发适合自己领域的应用以及控制界面的技术效果，进而解决了缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的技术问题。
附图说明
[0018]构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0019]图1是根据相关技术的测试测量设备示意图；
[0020]图2是根据本申请实施例的集成化测试测量方法流程示意图；
[0021]图3是根据本申请实施例的集成化测试测量装置结构示意图；
[0022]图4是根据本申请实施例的集成化测试测量系统结构示意图；
[0023]图5是根据本申请实施例的集成化测试测量实现原理示意图。
具体实施方式
[0024]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0025]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0026]在本申请中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、
“
中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本申请及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。
[0027]并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本申请中的具体含义。
[0028]此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”、“套接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0029]如图1所示，是根据相关技术的测试测量设备示意图，其中包括了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成化测试测量方法，其特征在于，包括：将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生包括：采用FPGA产生所述待测设备产生的测试测量信号、产生控制电源、采集控制信号、处理采集数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，还包括：所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现多种所述测试测量信号的采集，其中所述多种所述测试测量信号包括电源、信号发生器、示波器、频谱仪、万用表的测试测量信号。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括同时运行与用户相关的应用程序。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号在时域、频域至少两个维度的测试测量信号的采集。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏公雨，
申请(专利权)人：苏州硬禾信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：