【技术实现步骤摘要】
图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备
[0001]本申请涉及计算机
，具体地涉及一种图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]通常，器件被生产制造出来后，需要在出厂前进行缺陷的检测，以剔除质量有瑕疵的器件，器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展，各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升，相应地，也就对器件的检测设备提出了更高的要求。
[0003]目前，一些图像处理算法会使用感兴趣区域(region of interest，ROI)和模板图像，通过在模板图像中绘制ROI来勾勒出需要检测的图像区域，在检测时将模板图像的ROI放置到待测图像中的对应位置，以进行检测。但是在视觉检测设备中使用ROI和模板图进行图像处理时，可能出现待测器件的姿态与模板图像中标准器件的姿态存在偏差的情况。例如，在模板图像中，标准器件位于图像的中心，器件的边缘与模板图像边界平行；但是在待测图像中，因为器件传送过程、器件姿态归置过程等很多因素，都可能会导致待测器...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像偏移的校正方法，其特征在于，所述校正方法包括：获取至少一个旋转角度下的模板梯度图像，其中，每个旋转角度下的所述模板梯度图像包含模板图像的检测区域中预定像素点的梯度方向；获取待测图像，并确定所述待测图像的待测梯度图像；将所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上，并对所述模板梯度图像进行旋转和平移，以将所述待测梯度图像与所述模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果；根据所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果确定所述模板梯度图像与所述待测梯度图像的偏移量；根据所述偏移量校正所述检测区域与所述待测图像之间的偏差。2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述确定所述待测图像的待测梯度图像包括：对于所述待测图像中目标像素点的梯度方向，其中，对于每个目标像素点，根据该目标像素点与所有相邻像素点的灰度，确定该目标像素点的目标梯度方向。3.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述根据该目标像素点与所有相邻像素点的灰度，确定该目标像素点的梯度方向包括：对于所述每个目标像素点，确定与该目标像素点相邻且与该目标像素点灰度差异最大的相邻像素点，根据该相邻像素点与所述目标像素点的位置确定该目标像素点的梯度方向。4.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述将所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上，并对所述模板梯度图像进行旋转和平移，以将所述待测梯度图像与所述模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度以及所有平移位置下的对比结果包括：将当前旋转角度下的所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上；平移所述模板梯度图像，并得到所述模板梯度图像在初始位置和所有平移位置中每个位置对应的对比结果，其中，对于每个位置，根据当前旋转角度下所述模板梯度图像中所有所述预定像素点与对应目标像素点的目标梯度方向之间的匹配度，得到匹配度评分；将所述模板梯度图像进行旋转，重复前一步骤，直至得到各个旋转角度下每个位置的匹配度评分。5.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述将所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上，并对所述模板梯度图像进行旋转和平移，以将所述待测梯度图像与所述模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度以及所有平移位置下的对比结果包括：将当前平移位置下的所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上；对所述模板梯度图像进行旋转，并得到所述模板梯度图像在初始角度和所有旋转后角度中每个角度对应的对比结果，其中，对于每个角度，根据该角度下所述模板梯度图像中所有所述预定像素点与对应目标像素点的目标梯度方向之间的匹配度，得到匹配度评分；将所述模板梯度图像进行平移，重复前一步骤，直至以得到各个平移位置...
【专利技术属性】
技术研发人员：殷亚男，许超，张鑫，朱小明，
申请(专利权)人：苏州镁伽科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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