目标对象的检测方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请实施例提供一种目标对象的检测方法、装置、存储介质及电子设备。方法包括：获取包含待检测器件的待测图像；在待测图像中生成检测区域，并使检测区域覆盖待测图像中待检测器件的目标对象；通过第一预设阈值对检测区域进行第一阈值分割，以确定目标对象在检测区域中的实际区域，其中，第一预设阈值用于对待测图像中的目标对象与背景区域进行区分；通过第二预设阈值对实际区域进行第二阈值分割，以确定实际区域中的异常像素，其中，第二预设阈值根据异常像素的颜色分量设置；根据异常像素所组成的异常区域，确定目标对象是否存在异常。上述技术方案，能够更简便快捷的检测出缺陷，大幅度提高检测效率，能够适应高通量的目标对象的检测场景。象的检测场景。象的检测场景。

【技术实现步骤摘要】
目标对象的检测方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及器件检测领域，具体涉及一种目标对象的检测方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]通常，器件被生产制造出来后，可能会出现多种缺陷，例如器件的引脚表面可能会出现划伤、器件的壳体表面可能会出现裂痕等。因此，需要在出厂前对生产的器件进行缺陷的检测，以剔除质量有瑕疵的器件。器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展，各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升，相应地，也就对器件的检测设备提出了更高的要求。
[0003]然而，现有技术中的已有算法往往需要进行破损、裂痕等特定对象的识别，这些对象识别算法普遍存在计算量大、占用资源多、耗时长的问题，并不适用于实时检测并在短时间内完成计算并输出结果的场景。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的是提供一种目标对象的检测方法、装置、存储介质及电子设备。
[0005]为了实现上述目的，本申请第一方面提供一种目标对象的检测方法，包括：
[0006]获取包含待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种目标对象的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：获取包含待检测器件的待测图像；在所述待测图像中生成检测区域，并使所述检测区域覆盖所述待测图像中待检测器件的目标对象；通过第一预设阈值对所述检测区域进行第一阈值分割，以确定所述目标对象在所述检测区域中的实际区域，其中，所述第一预设阈值用于对所述待测图像中的所述目标对象与背景区域进行区分；通过第二预设阈值对所述实际区域进行第二阈值分割，以确定所述实际区域中的异常像素，其中，所述第二预设阈值根据所述异常像素的颜色分量设置；根据所述异常像素所组成的异常区域，确定所述目标对象是否存在异常。2.根据权利要求1所述的目标对象的检测方法，其特征在于，在所述待测图像中生成检测区域，并使所述检测区域覆盖所述待测图像中待检测器件的目标对象包括：获取与所述待测图像对应的模板图像，其中，所述模板图像包括参考器件以及覆盖所述参考器件中目标对象的初始检测区域；将所述待测图像与所述模板图像进行对比，以确定所述待测图像中所述待检测器件与所述模板图像中所述参考器件之间的位置偏移量；根据所述位置偏移量在所述待测图像中生成检测区域。3.根据权利要求1所述的目标对象的检测方法，其特征在于，通过第二预设阈值对所述实际区域进行第二阈值分割，以确定所述实际区域中的异常像素包括：通过所述第二预设阈值对所述待测图像被所述检测区域覆盖的区域进行第二阈值分割，将所述检测区域中异常的像素确定为初始异常像素；将所述初始异常像素中位于所述实际区域中的像素确定为所述异常像素。4.根据权利要求3所述的目标对象的检测方法，其特征在于，将所述初始异常像素中位于所述实际区域中的像素确定为所述异常像素包括：将所述初始异常像素置为1，并将所述实际区域内的全部像素置为1；将所述初始异常像素所组成的区域与所述实际区域进行与运算，将与运算结果为1的像素确定为所述异常像素。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：殷亚男，朱小明，田松，许超，
申请(专利权)人：苏州镁伽科技有限公司，
类型：发明
国别省市：