一种缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种缺陷检测装置，包括：检测光源模组，包括一个或多个光源组件，所述光源组件用于从被测工件的正面和/或反面进行照射；成像模组，用于从被测工件的正面和/或反面进行拍摄，形成第一检测图像；多个激光摄像模组，所述多个激光摄像模组围设于所述被测工件的周围，用于向所述被测工件的侧面发射检测激光，并拍摄形成第二检测图像。本实用新型专利技术能够通过检测光源模组和成像模组实现对被测工件的表面缺陷检测，同时结合激光摄像模组实现对待测组件的外形检测，有效地节省了检测工序，提高了检测效率，进而得以满足高效率、低成本投入的生产需求。本投入的生产需求。本投入的生产需求。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检测装置


[0001]本技术涉及光学检测
，尤其涉及一种缺陷检测装置。

技术介绍

[0002]随着工业自动化智能化的飞速发展，如今电子产品种类繁多，而电子元件则是构成这些电子产品的基础，如电阻、电感、电容、二极管、三极管、各种微型开关、电位器及集成电路芯片等等。这些元件的品质对电子产品成品良率、使用稳定度和满意度显得至关重要。因此，在生产过程中需要针对这些电子元件进行缺陷检测。
[0003]由于电子元件种类多样、形态各异，以往的机器视觉检测方案中，针对电子元件外形尺寸精度、表面外观缺陷、表面字符条码印刷、PIN针长短及外观缺陷等各个不同检测项目，分别需要以不同工序或者不同工位进行逐一检测，导致检测设备工序繁多、检测效率低下，且投入成本大，难以满足高效率、低成本投入的生产需求。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供一种缺陷检测装置，解决现有的机器视觉检测方案中，针对电子元件外形尺寸精度、表面外观缺陷、表面字符条码印刷、PIN针长短及外观缺陷等各个不同检测项目，分别需要以不同工序或者不同工位进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：检测光源模组，包括一个或多个光源组件，所述光源组件用于从被测工件(61)的正面和/或反面进行照射；成像模组(70)，用于从被测工件(61)的正面和/或反面进行拍摄，形成第一检测图像；多个激光摄像模组(40)，所述多个激光摄像模组(40)围设于所述被测工件(61)的周围，用于向所述被测工件(61)的侧面发射检测激光，并拍摄形成第二检测图像。2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述激光摄像模组(40)包括：安装支架(41)，所述安装支架(41)用于使所述激光摄像模组(40)固定于待安装位置；激光摄像头(42)，可活动地安装于所述安装支架(41)上，所述激光摄像头(42)可受驱相对于所述安装支架(41)进行升降和/或旋转。3.根据权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述检测光源模组包括光源外壳，所述光源外壳设有对准于所述成像模组(70)的透光通道，所述成像模组(70)透过所述透光通道对所述被测工件(61)的正面进行拍摄；所述光源外壳内设有第一光源组件(10)，所述第一光源组件(10)包括用于发出第一检测光线的第一灯板(13)；沿所述第一检测光线的光路设有分光镜(132)和第一扩散板(131)，所述分光镜(132)位于所述第一检测光线的光路以及所述透光通道上；部分的所述第一检测光线经过所述分光镜(132)的反射后，垂直照射于所述被测工件(61)的正面。4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述光源外壳包括第一外壳(11)，所述第一光源组件(10)位于所述第一外壳(11)内；所述第一外壳(11)开设有拍摄窗口(12)，所述拍摄窗口(12)连通所述透光通道，所述拍摄窗口(12)内设有增透镜(121)。5.根据权利要求4所述的缺陷检...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈灵铭，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：