一种微型显示屏的Demura方法、计算设备及存储介质技术

本发明专利技术公开了一种微型显示屏的Demura方法、计算设备及存储介质，通过高分辨率相机和远心镜头，有效提升取像清晰度，通过自动拟合网格方法解决拍摄技术缺陷所造成的LED位置偏差及对网格关联度的影响，进一步提升数据处理及补偿的精确度；通过Demura方法获取ROI并通过自动拟合网格方式与LED位置拟合，并对ROI进行亮度调整并与标准亮度值比对以获取补偿值，能够提升补偿的速度及精确度；通过亮度调整比对及梯度下降算法完整呈现所述像素的补偿值，使得Mura的边缘趋近平顺而无明显界线，以改善显示面板亮度不均的情况，进而提升画面的显示品质。品质。品质。

【技术实现步骤摘要】
一种微型显示屏的Demura方法、计算设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及显示屏
，具体涉及一种微型显示屏的Demura方法、计算设备及存储介质。

技术介绍

[0002]微型显示屏（Micro LED显示屏）是指以自发光的微米量级的LED为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED阵列的显示技术。由于微型显示屏芯片尺寸小、集成度高和自发光等特点, 在显示方面与 LCD、OLED相比在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面具有更大的优势。但是，由于晶化工艺的局限性，在大面积玻璃基板上进行LTPS TFT（低温多晶硅技术）时，不同位置的TFT常常在诸如阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，这种非均匀性会转化为MicroLED显示器件的电流差异和亮度差异，并被人眼所感知，即mura现象。
[0003]现有技术中通常采用Oxide TFT（氧化物薄膜电晶体显示技术）以提升工艺均匀性，但是其与a
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Si TFT（非晶硅技术）类似，在长时间加压和高温下，其阈值电压会出现漂移，由于显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微型显示屏的Demura方法，其特征在于，包括以下步骤:S1、获取原始图像数据：采用相机对微型显示屏标定并进行图像抓取，获取二维数据图像；S2、图像预处理：对步骤S1中所获取的二维数据图像进行图像二值化处理并进行闭运算以获得屏幕发光区域位置，获得预处理后图像；S3、选取ROI：对步骤S2中的预处理后图像进行第一次区块检测，屏幕发光区域的点位坐标获取屏幕发光区域及其点位坐标，将该屏幕发光区域进行扩张并选取为ROI，并记录ROI点位坐标，获得带ROI的初步图像；S4、自动拟合网格，匹配各LED位置：对步骤S3中获取的初步图像进行过滤处理并进行第二次区块检测，获取各ROI的中心点位坐标，将所有ROI的中心点位坐标存入列表中，通过计算获取坐标点位合集，根据坐标点位合集自动拟合网格并获取LED中心理论坐标；S5、关联网格与LED位置：根据LED尺寸对网格进行偏移以使所有LED均置于网格的网孔中；S6、计算LED亮度，Demura调整：通过对显示屏亮度进行调整，量测各LED亮度并对其进行检测，判断其是否符合预期，若否则将LED亮度值与预期的差值存入当前LED的梯度下降算法对象中判断其是否有最优解，并存储最终补偿值；S7、检查LED亮度是否符合规格、检查亮度不符合规格的LED的数量及分布是否符合规格。2.根据权利要求1所述的一种微型显示屏的Demura方法，其特征在于，步骤S2中所述的图像二值化处理包括将步骤S1中获取的二维数据图像由彩色图像转换为灰白图像，并对灰白图像指定阈值过滤。3.根据权利要求1所述的一种微型显示屏的Demura方法，其特征在于，步骤S3中所述第一次区块检测获取的屏幕发光区域包括屏幕发光矩形区域，所述屏幕发光区域的点位坐标包括屏幕发光矩形区域的顶点坐标；记录的ROI点位坐标包括扩张后的屏幕发光矩形区域的顶点坐标。4.根据权利要求1所述的一种微型显示屏的Demura方法，其特征在于，步骤S4中各ROI的中心点位坐标均包括X坐标值和Y坐标值，建立X列表并将X坐标值存入X列表中；建立Y列表并将Y坐标值存入Y列表中。5.根据权利要求4所述的一种微型显示屏的Demura方法，其特征在于，步骤S4中，计算获取坐标点位合集包括计算X坐标值和Y坐标值分布规律，并将符合分布规律的X坐标值和Y坐标值分别集合形成X坐标集和Y坐标集；坐标点位合集自动拟合网格包括由X坐标集和Y坐标集绘制纵横交错的网格。6.根据权利要求1所述的一种微型显示屏的Demura方法，其特征在于，步骤S6的具体步骤包括：S601、设置参数，并将所有参数进行初始化设置；S602、判断亮度调整动作是否完成，若已完成则跳转至步骤S615，若未完成则跳转至步骤S603；S603、整合各个LED亮度参数，一...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘曜轩，周致彬，王恒旭，
申请(专利权)人：苏州威达智电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：