一种flash芯片测试分析装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱，所述检测箱内设有真空承载座，所述真空承载座底部设有减震支撑架，所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组，所述减震支撑架包括两个L形立板，两个所述L形立板之间安装有上支撑板和下支撑板，所述上支撑板和下支撑板之间设有多个第一弹簧，所述上支撑板底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒，所述滑动套筒的下部套设有压板，所述滑动套筒内设有导向杆，所述导向杆的外壁上套设有第二弹簧。本实用新型专利技术通过L形立板、第一弹簧、上支撑板、下支撑板、滑动套筒、压板和第二弹簧，能有效缓冲真空承载座受到的震动，减震效果好，从而能有效避免芯片受损的情况出现。有效避免芯片受损的情况出现。有效避免芯片受损的情况出现。

【技术实现步骤摘要】
一种flash芯片测试分析装置


[0001]本技术涉及芯片测试领域，具体涉及一种flash芯片测试分析装置。

技术介绍

[0002]flash芯片是应用非常广泛的存储材料，flash芯片出厂之前需要进行测试，以确定芯片的性能、大致使用寿命等，目前我们一般使用测试分析装置来进行芯片的测试和分析，将flash芯片放置在真空载物台上进行测试，利用真空载物台承载芯片能有效避免芯片表面受损的情况。
[0003]现有的测试分析装置的真空载物台一般不具有减震功能，因此在真空载物台移动过程中，芯片可能会由于震动而受损。
[0004]因此，专利技术一种flash芯片测试分析装置来解决上述问题很有必要。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种flash芯片测试分析装置，以解决现有的测试分析装置的真空载物台一般不具有减震功能，在移动过程中芯片可能会由于震动而受损的问题。
[0006]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱，所述检测箱内设有真空承载座，所述真空承载座底部设有减震本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱(1)，其特征在于：所述检测箱(1)内设有真空承载座(3)，所述真空承载座(3)底部设有减震支撑架，所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组(2)，所述减震支撑架包括两个L形立板(15)，两个所述L形立板(15)均与直线模组(2)的滑座固定连接，两个所述L形立板(15)之间安装有上支撑板(14)和下支撑板(13)，所述上支撑板(14)和下支撑板(13)之间并排设有多个第一弹簧(16)，所述第一弹簧(16)的两端分别与上支撑板(14)和下支撑板(13)固定连接，所述上支撑板(14)底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒(17)，所述滑动套筒(17)的底端贯穿下支撑板(13)并与其呈滑动连接，所述滑动套筒(17)的下部套设有压板(18)，所述滑动套筒(17)内设有导向杆(19)，所述导向杆(19)的底端贯穿滑动套筒(17)并与L形立板(15)固定连接，所述导向杆(19)与滑动套筒(17)呈滑动连接，所述导向杆(19)的顶端安装有限位板，所述导向杆(19)的外壁上套设有第二弹簧(20)，所述第二弹簧(20)的两端分别与压板(18)和L形立板(15)固定连接。2.根据权利要求1所述的一种flash芯片测试分析装置，其特征在于：所述上支撑板(14)的顶部中心处安装有固定块(5)，所述固定块(5)的顶部中心处开设有定位槽(6)，所述定位槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：张朋，
申请(专利权)人：苏州新发旺电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：