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本实用新型公开了一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱，所述检测箱内设有真空承载座，所述真空承载座底部设有减震支撑架，所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组，所述减震支撑架包括两个L形立板，两个所述L形立板之间安装有上支撑板和下支撑板，...
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